Determination of the interface structure between a silicon dioxide layer and its crystalline silicon substrate by the s-wave antireflection (s-파 무반사 조건을 사용한 단결정 실리콘과 이산화 규소의 계면 구조 결정)
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- Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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- 1997.08a
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- pp.15-15
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- 1997