• 제목/요약/키워드: Storage device lifetime prediction

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낸드 플래시 메모리의 불량 발생빈도를 이용한 저장장치의 수명 예측 최적화 방법 (A method for optimizing lifetime prediction of a storage device using the frequency of occurrence of defects in NAND flash memory)

  • 이현섭
    • 사물인터넷융복합논문지
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    • 제7권4호
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    • pp.9-14
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    • 2021
  • 고신뢰성을 요구하는 컴퓨팅 시스템에서 저장장치의 수명예측방법은 데이터 보호뿐만 아니라 활용성을 극대화 할 수 있기 때문에 시스템 관리하기 위한 중요한 요소 중 한 가지이다. 최근 여러 저장시스템에서 저장장치로 사용되고 있는 SSD(Solid State Drive)의 수명은 이를 구성하고 있는 낸드 플래시 메모리의 수명이 실질적인 수명과 연결된다. 따라서 SSD를 이용하여 구성한 저장시스템에서는 낸드 플래시 메모리의 수명을 정확하고 효율적으로 예측하는 방법이 필요하다. 본 논문에서는 낸드 플래시 메모리 불량 발생빈도를 이용하여 플래시 메모리 기반 저장장치의 수명 예측을 최적화할수 있는 방법을 제안한다. 이를 위해 DWPD(Drive Writes Per Day) 단위로 데이터를 처리할 때 발생하는 불량 발생빈도를 수집하기 위한 비용 매트릭스(Cost Metrix)를 설계한다. 그리고 경사하강법(Gradient Descent)을 이용하여 수명의 마감이 발생하는 경사도까지 남은 비용을 예측하는 방법을 제안한다. 마지막으로 시뮬레이션을 통해 임의의 불량이 발생했을 때 제안하는 방법을 통한 수명예측의 우수성을 증명했다.

리튬이온 배터리를 이용한 에너지저장장치 시스템의 잠재수익 산출 기법 (Potential Revenue Prediction Method of ESS using Lithium-ion Battery)

  • 원일권;김도윤;장영희;추경민;홍성우;원충연
    • 전력전자학회:학술대회논문집
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    • 전력전자학회 2016년도 전력전자학술대회 논문집
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    • pp.423-424
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    • 2016
  • Recently, the mass production of Energy storage system (ESS) is actively perform around world. Energy storage system is a technique that stores power to energy storage device to supply energy into grid and load at peak-load. Therefore, the efficient energy management is available by using ESS system. The life of Lithium-ion battery is varied corresponding to the power usage, especially selected depth of discharge (DOD). The lifetime of battery is the one of the most issue of the ESS system because of its stability and reliability. Therefore, lifetime management of battery and power converter of ESS module is required. In this paper, the battery lifetime management method estimating residual power and lifetime of lithium ion battery of ESS system is proposed. Also, total avenue prediction of ESS system is simulated considering the total lifetime of battery.

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경사하강법을 이용한 낸드 플래시 메모리기반 저장 장치의 고효율 수명 예측 및 예외처리 방법 (High Efficiency Life Prediction and Exception Processing Method of NAND Flash Memory-based Storage using Gradient Descent Method)

  • 이현섭
    • 융합정보논문지
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    • 제11권11호
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    • pp.44-50
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    • 2021
  • 최근 빅데이터를 수용하기 위한 대용량 저장 장치가 필요한 엔터프라이즈 저장 시스템에서는 비용과 크기 대비 직접도가 높은 대용량의 플래시 메모리 기반 저장 장치를 많이 사용하고 있다. 본 논문에서는 엔터프라이즈 대용량 저장 장치의 신뢰도와 이용성에 직접적인 영향을 주는 플래시 메모리 미디어의 수명을 극대화 하기 위해 경사하강법을 적용한 고효율 수명 예측 방법을 제안한다. 이를 위해 본 논문에서는 불량 발생 빈도를 학습하기 위한 메타 데이터를 저장하는 매트릭스의 구조를 제안하고 메타데이터를 이용한 비용 모델을 제안한다. 또한 학습된 범위를 벗어난 불량이 발생 했을 때 예외 상황에서의 수명 예측 정책을 제안한다. 마지막으로 시뮬레이션을 통해 본 논문에서 제안하는 방법이 이전까지 플래시 메모리의 수명 예측을 위해 사용되어 온 고정 횟수 기반 수명 예측 방법과 예비 블록의 남은 비율을 기반으로 하는 수명 예측 방법 대비 수명을 극대화 할 수 있음을 증명하여 우수성을 확인했다.

EPET-WL: Enhanced Prediction and Elapsed Time-based Wear Leveling Technique for NAND Flash Memory in Portable Devices

  • Kim, Sung Ho;Kwak, Jong Wook
    • 한국컴퓨터정보학회논문지
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    • 제21권5호
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    • pp.1-10
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    • 2016
  • Magnetic disks have been used for decades in auxiliary storage devices of computer systems. In recent years, the use of NAND flash memory, which is called SSD, is increased as auxiliary storage devices. However, NAND flash memory, unlike traditional magnetic disks, necessarily performs the erase operation before the write operation in order to overwrite data and this leads to degrade the system lifetime and performance of overall NAND flash memory system. Moreover, NAND flash memory has the lower endurance, compared to traditional magnetic disks. To overcome this problem, this paper proposes EPET (Enhanced Prediction and Elapsed Time) wear leveling technique, which is especially efficient to portable devices. EPET wear leveling uses the advantage of PET (Prediction of Elapsed Time) wear leveling and solves long-term system failure time problem. Moreover, EPET wear leveling further improves space efficiency. In our experiments, EPET wear leveling prolonged the first bad time up to 328.9% and prolonged the system lifetime up to 305.9%, compared to other techniques.

충격신관 K510용 Zr-Ni계 지연관의 저장수명 예측 (Storage Lifetime Prediction of Zr-Ni Delay System in Fuze K510 for High Explosive Shell)

  • 박병찬;장일호;백승준;손영갑;정은진;황택성
    • 한국군사과학기술학회지
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    • 제12권6호
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    • pp.719-726
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    • 2009
  • A delay system in fuze for high explosive shell is an important safety device, but failure in the delay system usually causes failure of the shell. Root-cause analysis of failure in the delay system is required since failure in over 10-years stored delay system recently occurs. In this paper, failure in the delay system was reproduced experimentally to examine aged characteristics of the delay system, and the failed delay system shows the same characteristics as ones of failed delay systems in field. Based on the reproduced experiments, accelerated life testings and the data analysis of failure times of delay systems were performed to predict the storage lifetime.