• 제목/요약/키워드: Software Defect Detection

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Wavelet Analysis to Real-Time Fabric Defects Detection in Weaving processes

  • Kim, Sung-Shin;Bae, Hyeon;Jung, Jae-Ryong;Vachtsevanos, George J.
    • International Journal of Fuzzy Logic and Intelligent Systems
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    • 제2권1호
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    • pp.89-93
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    • 2002
  • This paper introduces a vision-based on-line fabric inspection methodology of woven textile fabrics. Current procedure for determination of fabric defects in the textile industry is performed by human in the off-line stage. The advantage of the on-line inspection system is not only defect detection and identification, but also 벼ality improvement by a feedback control loop to adjust set-points. The proposed inspection system consists of hardware and software components. The hardware components consist of CCD array cameras, a frame grabber and appropriate illumination. The software routines capitalize upon vertical and horizontal scanning algorithms characteristic of a particular deflect. The signal to noise ratio (SNR) calculation based on the results of the wavelet transform is performed to measure any deflects. The defect declaration is carried out employing SNR and scanning methods. Test results from different types of defect and different style of fabric demonstrate the effectiveness of the proposed inspection system.

CodeSonar를 이용한 지역 SW개발 업체의 결함 유형분석 (Defect-Type Analysis of Regional SW Development Companies using CodeSonar)

  • 노정현;이종민;박유현
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제19권3호
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    • pp.683-688
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    • 2015
  • 최근 소프트웨어의 결함을 탐지할 수 있는 다양한 종류의 동적분석 도구가 점점 더 많이 활용되고 있다. 하지만 업계에서 실제로 발생하는 결함에 대한 조사는 지금까지 거의 없었다. 본 논문에서는 C/C++, 자바 프로그램에서 결함을 찾아내는 툴인 CodeSonar가 찾아낸 결과를 분석하고자 한다. 분석결과 동남권 지역에서 가장 많이 발생하는 결함들을 다양한 방법으로 제시한다.

일정관리를 위한 Opportunity Tree 및 알고리즘 설계 (Opportunity Tree and Algorithm design to schedule management)

  • 이은서;이상호
    • 정보처리학회논문지D
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    • 제12D권7호
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    • pp.965-978
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    • 2005
  • 소프트웨어 개발 시, 일정과 품질에 저해 요인이 되는 결함이 다수 존재한다. 일정과 품질의 저해 요인을 제거하고 동시에 체계적으로 이를 관리하기 위하여 본 논문에서는 opportunity tree 프레임워크를 설계한다. 유사한 프로젝트를 수행 시 영역 전문가의 지식을 활용한 opportunity tree 발생되는 문제점을 예측, 대비할 수 있게 하여, 소프트웨어 프로세스를 개선할 수 있다 본 연구에서는 소프트웨어 개발 시 발생하는 일정관리에 대한 결함을 찾아내고, 원인을 식별 및 해결책을 제시하고자 한다.

위험요소의 상태분석에 의한 프로세스 개선에 관한 연구 (A Study for Process Improvement by State Analysis of Risk Items)

  • 이은서
    • 정보처리학회논문지D
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    • 제15D권4호
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    • pp.523-530
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    • 2008
  • 소프트웨어 개발 시, 생명주기의 프로세스 개선에 저해 요인이 되는 결함이 다수 존재한다. 생명주기의 저해 요인을 제거하고 동시에 체계적으로 이를 관리하기 위하여 본 논문에서는 위험요소의 관리방안을 제안한다. 유사한 프로젝트를 수행 시 영역 전문가의 지식을 활용한 결함요소의 상태전이를 관리하여 발생되는 문제점을 예측, 대비할 수 있게 하여, 소프트웨어 프로세스를 개선할 수 있다. 본 연구에서는 소프트웨어 개발시 발생하는 위험요소 관리에 대한 결함의 전이를 찾아내고, 예방 및 원인을 식별하고자 한다. 또한 이를 정량화 하여 전이단계를 제시한다.

불량 조기 검출을 위한 SSD 테스트 케이스 개발 방법 (SSD Test case generation method for early defect detection)

  • 손명규;이지형
    • 한국지능시스템학회논문지
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    • 제25권6호
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    • pp.542-550
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    • 2015
  • 일반적으로 새로운 SSD(Solide State Drive)를 개발할 때는 이전 세대 제품의 소프트웨어 플랫폼을 재사용하게 된다. 따라서, 이전 세대 제품을 평가할 때 사용했던 동일 테스트 케이스를 이용하여 새로운 제품을 평가하면 여러 가지 이점이 있을 수 있지만, 우선순위 또는 가중치가 고려되지 않음으로 인해 평가 리소스의 사용에 비효율성이 존재하게 된다. 이와 같은 시간적, 공간적인 리소스 낭비에 의한 비효율 발생을 방지하기 위해 새로운 방법을 제안한다. 이전 세대 제품의 평가 데이터 분석을 통해서, 불량을 검출해 낼 수 있는 가장 높은 확률의 테스트 케이스의 조합을 찾아내고, 이를 활용함으로써, 평가에 사용되는 리소스의 낭비를 최소화 시키는 방법이다. 소프트웨어가 재사용될 경우, 플랫폼 코드를 베이스로 두고, 수정 또는 추가되는 모듈의 코드가 플랫폼 코드에 통합되는 특징을 가진다. 이러한 특징 때문에 코드가 통합되는 부분에 이전과 유사한 타입의 불량이 다수 존재하게 되는 것이며, 기존 평가에서 가장 높은 확률의 불량 검출율을 가진 평가 조합을 검증에 적용함으로써 내제되어 있는 불량을 조기에 검출할 수 있게 되는 것이다. 이와 같이, 다음 세대 제품의 불량들을 조기에 검출할 수 있다면, 이는 불량 개선에 드는 비용을 최소화 시킬 수 있다는 것을 의미한다.

적응적 이진화 기법과 Bresenham's algorithm을 이용한 안경 렌즈 제품의 자동 흠집 검출 (Automatic Defect Inspection with Adaptive Binarization and Bresenham's Algorithm for Spectacle Lens Products)

  • 김광백;송두헌
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제21권7호
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    • pp.1429-1434
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    • 2017
  • 기존의 안경 렌즈 흠집 검출 방법은 영상내의 미세 잡음이 제거되지 않아 렌즈 영역이 정확히 추출되지 않는 경우가 발생하여 흠집 영역을 검출할 수 없다는 문제점이 발생한다. 따라서 본 논문에서는 이러한 문제점을 개선하기 위해 적응적 이진화 기법과 Bresenham algorithm을 적용하여 흠집 영역을 검출한다. 제안된 방법은 안경 렌즈 영상에서 명암 대비를 적용하여 렌즈의 명암을 강조한다. 명암이 강조된 영상에서 렌즈 밖의 배경 영역은 흠집 검출에 불필요하므로 이진화 기법을 적용한 후에 Bresenham algorithm을 적용하여 렌즈의 윤곽선을 검출하고 렌즈 이외의 배경을 제거한다. 렌즈 이외의 배경이 제거된 렌즈 영상에서 렌즈 내부의 배경과 흠집의 명암 대비를 높인다. 명암이 강조된 렌즈 내부 영역에서 적응적 이진화 기법을 적용하여 흠집과 잡음을 검출한다. 잡음은 중간값 필터를 적용하여 제거한 후에 흠집 영역을 추출한다. 추출된 흠집 영역에서 렌즈의 중심으로부터의 거리와 흠집의 크기를 퍼지 추론 규칙에 적용하여 눈에 미치는 영향 정도를 분석한다. 제안된 방법의 성능을 분석하기 위해 CHEMI, MID, HL, HM과 같은 시력 보정용 렌즈 영상을 대상으로 실험한 결과, 12개의 시력 보정용 렌즈 영상 중에서 10개에서 결함을 성공적으로 추출하였다.

IoT 제품의 품질 개선을 위한 결함관리 설계에 관한 연구 (Study for Design of Defect Management to Improve the Quality of IoT Products)

  • 김재경;최영숙;조경록;이은서
    • 정보처리학회논문지:소프트웨어 및 데이터공학
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    • 제11권6호
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    • pp.229-236
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    • 2022
  • 사물인터넷을 기반으로 실시간으로 소화기 주변의 상태와 화재 발생 여부, 소화기의 상태를 확인할 수 있는 웹 시스템과 화재 알림을 받을 수 있는 애플리케이션을 구현한다. 해당 시스템의 목표를 명확하게 정하고 구조를 상세히 정의함으로써 개발 도중 일어나는 오류를 최소화한다. 또한, 스마트소화기에 대한 요구분석과 설계, 구현 단계에서 제품 결함을 찾아내고 그 원인을 분석하여 결함을 줄이는 방법을 제안한다. 제안하는 연구를 통해 IoT 기반의 스마트 소화기에 대해 결함관리 신뢰성을 확보할 수 있다.

독립성분분석을 이용한 TFT-LCD불량의 검출 (Detection of TFT-LCD Defects Using Independent Component Analysis)

  • 박노갑;이원희;유석인
    • 한국정보과학회논문지:소프트웨어및응용
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    • 제34권5호
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    • pp.447-454
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    • 2007
  • 최근 TFT-LCD (Thin film transistor liquid crystal display)패널의 수요증가에 비례하여 공정상 발생하는 LCD 불량의 수도 증가하고 있다. LCD 불량은 배경화면과 미세한 밝기대비 차이를 가지는 패널상의 불균등한 영역으로서 크게 정형과 비정형으로 나누어지며 사람의 눈에 매끄럽지 않게 보여진다. 이러한 불량은 배경과의 대비 차이가 미세하여 기존의 임계수준 검출이나 윤곽선 검출로는 불량을 검출할 수 없다. 본 논문은 비정형 LCD 불량을 독립성분분석, 적응 임계수준 검출 그리고 왜도를 이용하여 검출하는 방법을 제시한다. 본 검출방법은 잡음이 심한 영상에 대해서도 대응력이 뛰어나며, 생산라인에서 성공적으로 적용된다.

결점 필터링 개념 기반 품질관리 노력 추정 모델 (An Quality Management Effort Estimation Model Based on Defect Filtering Concept)

  • 이상운
    • 한국컴퓨터정보학회논문지
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    • 제17권6호
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    • pp.101-109
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    • 2012
  • 고 품질의 소프트웨어를 개발하기 위해서는 소프트웨어 내에 잠재된 결점을 제거하기 위한 품질관리계획이 요구된다. 이를 위해 결점 제거 프로필을 적절히 기술해야만 한다. 기존의 유조와 도관 모델은 결점이 제거되고 도피하는 결점을 계산하는데 복잡한 과정을 수행한다. 또한 어느 단계에서 삽입된 결점이 제거되고 도피하였으며, 단계별 결점 발견율이 얼마인지를 상세히 알고 있어야만 한다. 이러한 복잡한 과정을 단순화하기위해 본 논문은 결점필터링 개념에 기반하여 모델을 제시하였다. 제시된 모델은 임의의 단계에서 제거와 도피한 결점이 어느 단계에서 삽입된 결점에 관련되어 있는지 고려할 필요가 없어 결점을 보다 간략히 기술할 수 있는 장점이 있다. 또한, 결점 제거 품질척도와 생산성 척도의 함수에 기반하여 결점제거에 요구되는 노력 추정 모델을 제시하였다.

Rapid Defect Inspection of Display Device with Optical Spatial Filtering

  • Yoon, Dong-Seon;Kim, Seung-Woo
    • International Journal of Precision Engineering and Manufacturing
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    • 제1권1호
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    • pp.56-61
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    • 2000
  • We present a fast inspection method of machine vision for in-line quality assurance of liquid crystal displays(LCD) and plasma display panels(PDP). The method incorporates an optical spatial filter in the Fourier plane of the imaging optics to block the normal periodic pattern, extracting only defects real time without relying on intensive software image process. Special emphasis is on designing a collimated white light source to provide high degree of spatial coherence for effective real time Fourier transform. At the same time, a low level of temporal coherence is attained to improve defect detection capabilities by avoiding undesirable coherent noises. Experimental results show that the proposed inspection method offers a detection accuracy of 15% tolerance, which is sufficient for industrial applications.

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