• Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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• v.10 no.6
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• pp.1191-1195
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• 2009

We present the efficient test wrapper design methodology considering the layout distance of scan chain. To test the scan chains in SoC, the scan chains must be assigned to external TAM(Test Access Mechanism) lines. The scan chains in IP were placed and routed without any timing violation at normal mode. However, in test mode, the scan chains have the additional layout distance after TAM line assignment, which can cause the timing violation of flip-flops in scan chains. This paper proposes a new test wrapper design considering layout distance of scan chains with timing violation free.

• IT SoC Magazine
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• s.8
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• pp.42-48
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• 2005

• IT SoC Magazine
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• s.10
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• pp.40-46
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• 2006

• IT SoC Magazine
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• s.11
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• pp.34-39
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• 2006

• IT SoC Magazine
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• s.9
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• pp.48-54
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• 2005

• IT SoC Magazine
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• s.15
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• pp.44-50
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• 2006

• The Magazine of the IEIE
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• v.30 no.9
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• pp.28-28
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• 2003

SoC(System on Chip)의 발전은 현재 널리 쓰이는 기존의 설계 방법론으로는 해결될 수 없는 여러 가지 문제들을 생성하고 있다. 제품의 복잡도는 급격히 증가하는 반면 제품 수명은 지속적으로 감소하고 있으며, 기존 구현 기술의 향상만으로는 해결하기 쉽지 않은 VDSM (Very Deep Sub-Micron) 문제 또한 새로이 도출되고 있는 실정이다. 이러한 문제들은 적기에 시장에 제품을 출시하는 데에 많은 어려움을 끼치게 되기 때문에, 기존의 방법론을 뛰어 넘는 새로운 설계 방법론을 위한 많은 연구들이 활발히 진행되고 있다. 이러한 방법론 중 효율적인 한 방안으로 "재사용"의 개념이 대두되고 있으며, platform-based design은 이러한 재사용의 개념을 SoC 설계에 효율적으로 적용할 수 있는 방법으로 많은 관심을 받고 있다. 본 논문은 이러한 platform-based design의 최근 동향 및 현재 삼성전자에서 추진하고 있는 platform-based design에 대해 기술한다.

• The Magazine of the IEIE
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• v.30 no.9
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• pp.934-941
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• 2003

SoC(System on Chip)의 발전은 현재 널리 쓰이는 기존의 설계 방법론으로는 해결될 수 없는 여러 가지 문제들을 생성하고 있다. 제품의 복잡도는 급격히 증가하는 반면 제품 수명은 지속적으로 감소하고 있으며, 기존 구현 기술의 향상만으로는 해결하기 쉽지 않은 VDSM (Very Deep Sub-Micron) 문제 또한 새로이 도출되고 있는 실정이다. 이러한 문제들은 적기에 시장에 제품을 출시하는 데에 많은 어려움을 끼치게 되기 때문에, 기존의 방법론을 뛰어 넘는 새로운 설계 방법론을 위한 많은 연구들이 활발히 진행되고 있다. 이러한 방법론 중 효율적인 한 방안으로 "재사용"의 개념이 대두되고 있으며, platform-based design은 이러한 재사용의 개념을 SoC 설계에 효율적으로 적용할 수 있는 방법으로 많은 관심을 받고 있다. 본 논문은 이러한 platform-based design의 최근 동향 및 현재 삼성전자에서 추진하고 있는 platform-based design에 대해 기술한다.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea TC
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• v.48 no.4
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• pp.1-5
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• 2011

We present the implementation of MAC system for MBOA UWB SoC. The implemented MBOA MAC algorithm is not master control mechanism, but distributed network mechanism. Therefore, mesh network can be easily constructed because MAC consists of distributed network and administrates network. The ARM926EJ with cache is adopted for high performnace and AMBA bus is applied for system design and reuse. In addition, the system operating clock management algorithm is implemented for low power consumption. The dedicated DMA for MAC is designed between the system memory buffer and MAC hardware, and the dedicated DMA for USB 2.0 is also implemented between system memory buffer and host for high data transaction.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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• v.47 no.2
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• pp.77-86
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• 2010

This paper presents an efficient secure scan design technique which is based on a fake key and IEEE 1149.1 instruction to protect secret key from scan-based side channel attack for an Advanced Encryption Standard (AES) core embedded on an System-on-a-Chip (SoC). Our proposed secure scan design technique can be applied to crypto IP core which is optimized for applications without the IP core modification. The IEEE 1149.1 standard is kept, and low area, low power consumption, very robust secret-key protection and high fault coverage can be achieved compared to the existing methods.