Despite growing interest in Ge as a possible alternative to Si, reliable data on Ge surface has been relatively scarce. Using low temperature scanning tunneling microscopy (STM), we investigate band-bending effects of localized charge traps at Ge(001) surface at 78 K. For this investigation, we prepared nearly defect-free Ge(001) surface by keeping the background pressure to < $1{\times}10^{-10}$ mbar during outgassing. Ge(001) surfaces this obtained exhibit a flat-band condition, and deposition of charge traps induce a distinct, sharp boundary between pinned and depinned surface area in the constant current mode STM images. We will show the tip-surface interaction plays an essential role in producing the boundary, and discuss about the conditions that enable the pinning effect.
We characterized the physisorption of p-iodo-phenyl octadecyl ether molecules (I-POE) onto superlattice regions of graphite surfaces using scanning tunneling microscopy (STM). The formation of self-organized I-POE monolayers does not affect the overall structures of moir$\acute{e}$ patterns and their modulation periods. However, the packing density of the I-POE monolayer and the orientations of lamella structures were sensitive to the underlying superlattice structure. Depending on the bias voltage, the STM images selectively showed moir$\acute{e}$ pattern, I-POE layer, or both. Reflecting the local density of states at a certain energy level, the STM images thereby revealed the relative energy level scale of the superlattice with respect to the molecular orbitals of I-POE.
본 연구에서는 양이온, 중심원소, 배위원소가 치환된 Keggin 형 및 Wells-Dawson 형 헤테로폴리산 촉매의 NDR(negative differential resistance) 거동을 STM(scanning tunneling microscopy)을 이용하여 살펴보았다. 헤테로폴리산 촉매의 NDR 전압과 산화환원능력 사이에는 일정한 상관관계가 있었다. 촉매의 구조적 차이에 상관없이 산화환원능력이 높은 헤테로폴리산 촉매는 보다 낮은 음전압에서 NDR 거동을 나타내었다. 이처럼 NDR 전압은 촉매의 산화환원능력을 대변하는 하나의 correlating parameter로 활용될 수 있었다.
Ha, Jeong-Hoon;Yang, Hee-Jun;Baek, Hong-Woo;Chae, Jung-Seok;Hwang, Beom-Yong;Kuk, Y.
한국진공학회:학술대회논문집
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한국진공학회 2009년도 제38회 동계학술대회 초록집
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pp.368-368
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2010
Monolayers of graphite can be grown by fine controlled surface graphitization on the surfaces of various metallic and semiconducting materials. Epitaxial graphene grown on polished silicon carbide crystal surfaces has drawn much attention due to well known vacuum annealing procedures from surface analysis methods, especially scanning tunneling microscopy(STM) and scanning tunneling spectroscopy(STS). In this study, we have grown single layer and few layer graphene on silicon terminated 6H-SiC(0001) crystals. The growth of graphene layers were observed by low energy electron diffraction(LEED) patterns. Scanning tunneling microscopy and spectroscopy measurements were performed to illustrate the electronic structure which may display some clue on the influence of the underlying structure. Spatially resolved STS results acquired at the edges of epitaxial graphene show in detail the electron density of states, which is compared to theoretical calculations. STM measurements were also done on graphene films grown by chemical vapor deposition(CVD) and transferred onto a SiC(0001) crystal. These observations may provide a hint for the understanding of carrier scattering at the edges.
Despite the growing interest in GeTe as a archetypal displacive ferroelectric material as well as the basis of related materials used in data-storage applications, atom-resolved study of single crystalline GeTe surface been lacking. Using low temperature scanning tunneling microscopy (STM) and spectroscopy (STS), we investigated as-cleaved and annealed surfaces of GeTe. We found that as-cleaved GeTe(111) surface is composed of at least two kinds of terraces at 78 K. While two terraces show metallic characteristics, they also exhibit distinctive I-V spectra and imaging conditions, with each being attributed to Ge-terminated, and Te-terminated surfaces respectively. GeTe(111) surfaces annealed at moderately elevated temperature introduces intricate networks of extended defect structures. We will present these data and discuss the role of vacancies in the formation of these structures.
Graphene was epitaxially grown on a 6H-SiC(0001) substrate by thermal decomposition of SiC under ultrahigh vacuum conditions. Using scanning tunneling microscopy (STM), we monitored the evolution of the graphene growth as a function of the temperature. We found that the evaporation of Si occurred dominantly from the corner of the step rather than on the terrace. A carbon-rich $(6{\sqrt{3}}{\times}6{\sqrt{3}})R30^{\circ}$ layer, monolayer graphene, and bilayer graphene were identified by measuring the roughness, step height, and atomic structures. Defect structures such as nanotubes and scattering defects on the monolayer graphene are also discussed. Furthermore, we confirmed that the Dirac points (ED) of the monolayer and bilayer graphene were clearly resolved by scanning tunneling spectroscopy (STS).
전기화학에 있어서 전극 물질의 실제 거칠기(real roughness)를 아는 것은 매우 중요하다. 그러나 여러 가지 이유 때문에 전극 물질의 절대적인 거칠기를 아는 것은 불가능하다. 여기에서는 scanning tunneling microscopy (STM), 순환전압전류법을 이용하여 전기화학에서 자주 사용하는 다결정 금 전극의 거칠기를 구하여 Au(111), HOPG로부터 구한 거칠기와 비교해 보았다. STM으로부터 얻은 다결정 금전극의 거칠기는 $1.1(\pm0.1)$,산소의 탈착으로부터는 $2.4(\pm0.7)$, N-docosyl-N'-methyl viologen의 흡착으로부터 는 $1.6(\pm0.1)$이 얻어졌다.
Currently, molecular devices are reported utilizing active self-assembled monolayers containing the nitro group as the active component, which has active redox centers[1]. We confirm the electrical properties of 4,4-di(ethynylphenyl)-2'-nitro-1-benzenethiolate. To deposit the SAM layer onto gold electrode, we transfer the prefabricated Au(111) substrates into a 1mM self-assembly molecules in THF solution. Au(111) substrates were prepared by ion beam sputtering method of gold onto the silicon wafer. As a result, we measured current-voltage curve using ultra high vacuum scanning tunneling microscopy (UHV STM), I-V curve also clearly shows several current peaks between the negative bias region (-0.3958V) and the positive bias region (0.4658V), respectively.
By using scanning tunneling microscopy/spectroscopy (STM/S), we can make images of various physical properties in nanometer-scale spatial resolutions. Here, I demonstrate imaging of two electron-correlated subjects; screening and superconductivity by STM/S. The electrostatic potential around a charge is described with the Coulomb potential. When the charge is located in a metal, the potential is modified because of the free electrons in the host. The potential modification, called screening, is one of the fundamental phenomena in the condensed matter physics. Using low-temperature STM we have developed a method to measure electrostatic potential in high spatial and energy resolutions, and observed the potential around external charges screened by two-dimensional surface electronic states. Characteristic potential decay and the Friedel oscillation were clearly observed around the charges [1]. Superconductivity of nano-size materials, whose dimensions are comparable with the coherence length, is quite different from their bulk. We investigated superconductivity of ultra-thin Pb islands by directly measuring the superconducting gaps using STM. The obtained tunneling spectra exhibit a variation of zero bias conductance (ZBC) with a magnetic field, and spatial mappings of ZBC revealed the vortex formation [2]. Size dependence of the vortex formation will be discussed at the presentation.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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