Test Generation of Sequential Circuits Using A Partial Scan Based on Conversion to Pseudo-Combinational Circuits (유사 조합 회로로의 변환에 기초한 부분 스캔 기법을 이용한 디지털 순차 회로의 테스트 기법 연구)
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- The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers
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- v.43 no.3
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- pp.504-514
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- 1994