본 논문은 Advanced Encryption Standard(AES) 암호화 코아가 내장된 System-on-a-Chip(SoC)의 스캔 기반 사이드 채널 공격에 의해 발생될 수 있는 비밀 키 정보 누출 방지를 위한 효과적인 스캔 설계 기술을 제안한다. 본 논문에서 제안하는 시큐어 스캔 설계 기술은 IEEE 1149.1의 명령어 방식을 사용하여 거짓 키를 이용한 테스트를 진행한다. 또한 어플리케이션에 최적화 되어있는 암호화 IP 코아를 수정하지 않고 적용을 할 수 있다. SoC상의 IEEE 1149.1 제어기 표준을 유지하며 기존 방식에 비해 낮은 면적오버헤드 및 전력 소모량을 갖는 기술을 제안한다.
A new scan partition architecture to reduce both the average and peak power dissipation during scan testing is proposed for low-power embedded systems. In scan-based testing, due to the extremely high switching activity during the scan shift operation, the power consumption increases considerably. In addition, the reduced correlation between consecutive test patterns may increase the power consumed during the capture cycle. In the proposed architecture, only a subset of scan cells is loaded with test stimulus and captured with test responses by freezing the remaining scan cells according to the spectrum of unspecified bits in the test cubes. To optimize the proposed process, a novel graph-based heuristic to partition the scan chain into several segments and a technique to increase the number of don't cares in the given test set have been developed. Experimental results on large ISCAS89 benchmark circuits show that the proposed technique, compared to the traditional full scan scheme, can reduce both the average switching activities and the average peak switching activities by 92.37% and 41.21%, respectively.
The purpose of this study was to provide some preliminary results on application of 3D scan data of head shapes to the hat design and pattern-making. This paper defined necessary measurement items and concepts in 3-dimensional images of head shapes. And also it presented the methodology to pattern-making of 6-piece crown hat based on 3D data. It used the data of Size Korea to pick up and choose a head shape model with the average head size of Korean women in their twenties. Main results were: 1. The 3D scan data of head shape was better than the 1 dimensional measurement data. Because I could establish a hat pattern-making theory by the 3D scan data of head. 2. The 3D scan data provided the basis for conceptualization of basic measurement points and items for a better fit of hats as well as the definition of the basic hat circumference. 3. This presented a methodology for analyzing out head shape by 3D scan data, and allowed the derivation of the basic hat circumference from the maximum head circumference. 4. As the 6-piece Crown cloche hat made by this method fitted the head shape model perfectly, this methodology could suggest potential applicability to various hat design.
스캔 테스트 기법은 효과적인 테스트 성능 향상 기법이지만, 이를 위한 테스트 수행 시간이 너무나 길어진다는 단점이 있다. 본 논문에서는 동일한 테스트 입력을 이용하는 Illinois 스캔 기법을 기반으로 한 효율적인 스캔 테스트 기법을 제안한다. 제한하는 방안은 다수의 스캔 입력에 선택적으로 접근하여 다중 스캔 기법의 효과를 최대한으로 이용한다. 실험 결과는 제안하는 방안이 입력을 공유하기 위한 효율을 극대화 하여 매우 적은 테스트 시간과 테스트 데이터만을 필요로 함을 보여준다.
In this paper, we suggest the method for constructing parameterized human body model which has any required body sizes from 3D scan data. Because of well developed 3D scan technology, we can get more detailed human body model data which allow to generate precise human model. In this field, there are a lot of research is performed with 3D scan data. But previous researches have some limitations to make human body model. They need too much time to perform hole-filling process or calculate parameterization of model. Even more they missed out verification process. To solve these problems, we used several methods. We first choose proper 125 3D scan data from 5th Korean body size survey of Size Korea according to age, height and weight. We also did post process, feature point setting, RBF interpolation and align, to parameterize human model. Then principal component analysis is adapted to the result of post processed data to obtain dominant shape parameters. These steps allow to reduce process time without loss of accuracy. Finally, we compare these results and statistical data of Size Korea to verify our parameterized human model.
네트워크에 연결된 컴퓨터 시스템에 대한 공격을 탐지하기 위하여 침입 탐지 시스템을 설치한다. 기존의 침입 탐지 시스템은 포트 스캔 공격을 탐지하기 위해서 동일 발신지 주소를 갖는 시스템에서 특정시간에 일정 임계값을 초과하는 연결 설정 요청 패킷이 발생했는지를 검사하여 공격을 탐지하므로 실제 공격이 아닌데 공격이라고 탐지하는 False Positive가 높고, 특정시간의 임계값 보다 더 긴 주기로 공격을 시도하는 Slow 스캔 공격과 발신지 주소를 위조하여 공격하는 Coordinated 스캔 공격을 탐지하기 힘들다. 본 논문에서는 TCP의 비정상 연결 시도에서 응답하는 RST/ACK 플래그 패킷을 탐지하여 포트 스캔을 판단하는 탐지 규칙과 데이터 저장 구조를 제안하고 이를 기반으로 포트 스캔 탐지시스템을 설계하고 구현하였다. 제안된 시스템은 RST/ACK 플래그 패킷을 탐지하여 공격을 판단하므로 False Positive를 감소시키고, 적은 양의 데이터를 저장하여 긴 시간동안 데이터 유지할 수 있어 Slow 스캔을 탐지할 수 있고, 공격 대상에서 응답한 RST/ACK 패킷을 검사하여 Coordinated 스캔공격을 효율적으로 탐지할 수 있다.
대규모 VLSI 시스템을 설계하는 경우 스캔 플립플롭(이하 셀)을 채택한 스캔 테스트 방법을 사용하여 IC 칩의 테스트를 용이하게 한다. 이러한 경우 스캔체인에서의 스캔 셀들의 연결 순서는 물리적 설계과정인 셀들의 배치가 완료된 후 결정하여도 무방하다. 본 논문에서는 이러한 사실을 이용하여 스캔 셀간의 연결선의 길이가 작도록 이들의 순서를 조정하는 방법을 제안한다. 특히 본 논문에서 제안하는 방법은 스캔 셀들이 클럭 도메인별로 그룹화되어 있을 경우 이들의 순서를 결정하기 위하여 새롭게 제시되는 방법으로 기존의 재구성 방법에 비하여 약 13.6%의 배선길이를 절약할 수 있다. 또한, 스캔 셀 순서에 대한 여러 다양한 제약에 대하여 효율적으로 셀들의 순서를 재구성할 수 있다.
In this paper, we propose a partial scan test method which can be applied to large VLSI designs. In this method, it is not necessary to hold neither scanned nor unscanned flip-flops during scan in, test application,or scan out. This test method requires almost identical design for testability modification and test wave form when compared to the full scan test method, and the method is applicable to large VLSI chips. The well known FAN algorithm has been modified to devise to sequential ATPG algorithm which is effective for the proposed test method. In addition, a partial scan algorithm which is effective for the proposed test method. In addition, a partial algorithm determined a maximal set of flip-flops which gives high fault coverage when they are unselected. The experimental resutls show that the proposed method allow as large as 20% flip-flops to remain unscanned without much decrease in the full scan fault coverage.
일반적으로 특수영상 및 3D 애니메이션 제작에서 캐릭터와 배경을 3D 모델링을 할 때 MAYA나 3DS MAX 등의 3D 프로그램을 사용하여 제작한다. 그러나 이러한 제작방식은 작업 시간이 많이 소요될 뿐만 아니라 고비용이 발생한다. 본 연구에서는 2D 포토스캔 제작기술을 활용한 3D 모델링 제작방법의 우수성과 효율성을 증명하기 위하여 두 가지 실험을 하였다. 첫 번째, 동일한 오브젝트를 다양한 방법으로 모델링을 하였다. 두 번째, 동일한 백그라운드를 각기 다른 방법을 이용하여 모델링을 하였다. 이 두 가지 실험을 통하여 효과적인 2D 포토스캔 제작방법으로 모델링 시 유의해야할 사항과 제작기술 등을 제시하였다. 또한 실험에 따른 결과물을 바탕으로 2D 포토스캔 모델링 제작방법의 효율성과 우수성을 증명하였다.
Recently, for the purpose of maintenance of facilities and energy, there have been growing cases of the 3D image scan-based reverse design technology mostly in the manufacturing field. In the MEP field, because of differences between design and physical model, the reverse technology has been utilized in factory facilities such as a semiconductor factory. Because 3D point clouds from scanning include accurate 3D object information, the efficiency of management works related to the complex MEP facilities can be enhanced. In this study, the reverse technology was surveyed, and the MEP facility management based on 3D image scanning was analyzed. Based on the results, a method of 3D image scan-based MEP facility management was proposed.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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