Scaling theory to minimize the roll-off of threshold voltage for nano scale MOSFET (나노 구조 MOSFET의 문턱전압 변화를 최소화하기 위한 스케일링 이론)
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- Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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- 2002.11a
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- pp.494-497
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- 2002