• 제목/요약/키워드: SI기법

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국가 GIS 기술 개발을 위한 시스템통합 기법에 관한 연구 (A Research on System Integration for National GIS Technology Development Methodology)

  • 서보환
    • 대한공간정보학회지
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    • 제3권2호
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    • pp.183-197
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    • 1995
  • 시스템 통합의 포괄적인 의미로는 사용자요구를 만족시키고, 사업의 성공을 위해 하드웨어, 소프트웨어, 네트워크, 시스템개발, 유지보수, 교육, 인력 등을 자기 책임하에 조달 확보하여 제공하는 것이다. 그러나 아직 이에 대한 기본개념이 정립되지 있지 않고 추진절차에 따른 모델링작업이 되어 있지 않다. 본고에서는 첫째, SI에 대한 기본개념을 실무중심으로 정립하고 둘째, SI추진절차를 최신기법의 대형 프로젝트를 중심으로 모델링화 작업을 하였다. 이러한 추진방법론을 바탕으로 일반 SI사업뿐만 아니라 GIS사업추진시에 단독으로 시스템을 구축하기보다는 조직의 SI 사업의 일환으로 조직전략과 IT기술을 연계하여 시스템을 구축함으로서 국가 및 산업경쟁력을 높일 수 있을 것이다.

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SiC계 세라믹 발열체의 최적 설계에 관한 연구 (A Study on The Optimal Design of SiC Ceramic Heater)

  • 조현섭
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제10권7호
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    • pp.1631-1634
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    • 2009
  • SiC에 기초한 도전성 복합체의 최적 설계 요소와 세라믹 제조기법을 찾고 발열체 제작을 위한 기초기반 기술을 확보하였다. 제품 응용시 세라믹 발열체를 하나의 몸체로 제작하여 접촉 저항을 최대한 줄이면 sheath 발열체보다 1.1배 느린 초기 상승 온도 속도를 높일 수 있고, 보온력에서는 SiC계 세라믹 발열체가 sheath 발열체보다 약 2.7배 높기 때문에 제품의 사용 기간이 길어질수록 에너지 절감 효과를 얻을 수 있어, 경제성 면에서 대단히 유리하게 평가 된다.

$SiH_4+H_2$ 대한 플라즈마 장치의 수치 모델링

  • 주정훈
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2009년도 제38회 동계학술대회 초록집
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    • pp.410-410
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    • 2010
  • 한TFT-LCD, Solar cell, 반도체 등에 사용되는 Si 박막은 주로 PECVD로 형성한다. 이 때 사용되는 원료 가스로 $SiH_4$가 있으며 대개 $H_2$로 희석해서 사용한다. 저온 증착의 경우 전자 충돌 해리과정을 이용하여 증착이 이루어지며 이 때 중간 생성물로 $SiH_3$, $SiH_2$와 고차유도체($Si_xH_y$)가 생성된다. 고밀도 플라즈마를 이용하는 경우에는 이들의 이온(양, 음)의 비율도 막질 형성에 중요한 요소가 된다. 본 발표에서는 안테나가 외부 및 내부에 있는 경우에 대해서 모델링하였으며 해리된 유도체의 비율은 $SiH_3$ > $SiH_2$의 순서였고 가스 조성비(수소 희석비), U-type 내장형 안테나와 기판 사이의 거리, 챔버 내의 펌핑 포트의 위치 등에 의한 차이가 플라즈마 온도 및 밀도의 균일도에 미치는 영향을 분석하였다. 수치 모델상의 가장 중요한 변수의 하나인 이온, 라디칼의 표면 재결합 상수는 문헌에서 보고된 값을 구하기 어려운 경우에는 가장 실제와 근접한 경향이 나타나는 값을 사용하였다. 이 부분은 분자 동력학 등의 기법을 이용하여 보다 상세한 데이터를 만들어 낼 수 있는 방법의 적용이 필요하다. 기본적인 $SiH_4$의 화학 반응식은 이원기[1]등의 데이터를 이용하였다. 계산 결과 중의 특이한 점의 하나는 고차 유도체인 $Si_2H_4$의 경우 중성보다 오히려 양이온의 밀도가 1 order이상 높았다. 내장형 Y-type 안테나의 경우 전력 흡수 밀도가 $10^7\;W/m^3$ 수준으로 높은 영역이 안테나 주변으로 나타났으며 안테나와 기판 사이의 거리와 압력에 따라서 기판에서의 균일도가 결정 되었다.

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HMIPv6 에서 페이징을 위한 동적 멀티캐스트 기법 (A Dynamic Multicast Scheme for Paging on HMIPv6)

  • 박시용;이봉환
    • 한국정보처리학회:학술대회논문집
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    • 한국정보처리학회 2007년도 춘계학술발표대회
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    • pp.1297-1300
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    • 2007
  • 본 논문에서는 HMIPv6 에 적용이 가능한 핸드오프 확률 기반의 페이징 기법과 페이징 요구 메시지 전송을 위한 멀티캐스트 기법을 제안한다. 핸드오프 확률 기반의 페이징 기법은 모바일 호스트들의 이동 패턴에 기반하여 비정형화 된 페이징 영역을 설정하고 이를 기반으로 거리와 핸드오프확률을 이용하여 멀티캐스트 트리를 구성한다.

확산코팅기법에 의하여 Si 코팅된 TZM 합금의 산화시 코팅층의 확산거동

  • 김민호;김태완;박준식;김정민;이성
    • 한국재료학회:학술대회논문집
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    • 한국재료학회 2011년도 추계학술발표대회
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    • pp.40.1-40.1
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    • 2011
  • TZM합금은 융점이 높은 Mo 기지에 미세한 (Zr,Ti)C의 석출물이 분산되어 있어 고온에서 다양한 부품에 응용가능하다. 하지만, TZM합금이 대기중 고온에 노출될 경우, 초기 산화물이며 약 $600^{\circ}C$부터 기화가 시작되는 $MoO_3$상이 형성됨으로써 물성에 치명적인 영향을 미친다. 이러한 산화거동을 막기 위하여 표면보호 코팅을 필요로 한다. 본 연구에서는 복잡한 형상과 대량생산이 가능하며 표면 코팅층과 모재의 접합성이 가장 강하다고 알려진 확산코팅법을 이용하여 Si을 TZM 합금에 코팅하였으며, 코팅층의 형성 속도론을 이해하기 위하여 온도별 및 시간별로 코팅을 수행하여 시간과 온도에 따른 코팅층의 형성 기구를 고찰하고자 하였다. Si의 확산코팅결과, $MoSi_2$층은 $1350^{\circ}C$에서 산화시에 두께가 감소하였으며, $Mo_5Si_3$상은 두께가 성장하였다. 코팅층의 확산거동을 속도론적 분석을 통하여 규명하고 논의하고자 한다.

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AFM Scratching 기법을 이용한 4H-SiC기판상의 Al 박막 초미세 패턴 형성 연구 (Nano-scale Patterning of Al thin film on 4H-SiC using AFM tip Scratching)

  • 안정준;김재형;박예슬;구상모
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2010년도 하계학술대회 논문집
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    • pp.351-351
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    • 2010
  • Nanoscale patterning using an atomic force microscope tip induced scratching was systematically investigated in AI thin film on 4H-SiC. To identify the effects of the scratch parameters, including the tip loading force, scratch speed, and number of scratches, we varied each parameters and evaluated the major parameter which has intimate relationship with the scale of patterns. In this work, we present the successful demonstration of nano patterning of Al thin film on a 4H-SiC substrate using an AFM scratching and evaluated the scratch parameters on Al/4H-SiC.

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동일대역 전이중 방식 통신 시스템에서 자기간섭 제거에 따른 성능 분석 (Performance Analysis of In-Band Full-duplex Communication Systems with Self-Interference Cancellation)

  • 왕우완;박현철
    • 한국통신학회논문지
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    • 제41권3호
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    • pp.331-337
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    • 2016
  • 본 논문은 자기간섭 (self-interference, SI) 신호가 존재하는 환경에서 동일대역 전이중 방식 통신 시스템의 성능과 SI 제거 기법에 대해서 분석하였다. 동일대역 전이중 방식 통신 시스템이 원하는 오율 성능을 달성하기 위해서는 SI 신호를 제거해야 하며, 이는 전파 영역과 아날로그 영역, 디지털 영역에서 차례로 수행되어야 한다. 전파 영역에서 안테나의 송수신 빔을 물리적으로 분리시켜서 신호 감쇄를 달성할 수 있다. 아날로그 영역과 디지털 영역에서는 SI 신호의 채널 추정값과 송신 신호를 기반으로 SI 신호를 재생한 후에 원하는 수신 신호로부터 제거할 수 있다. 본 논문에서는 전파 영역에서의 SI 신호를 충분히 감쇄시킬 수 있다고 가정하고, Least squares 방식으로 SI 신호의 채널을 추정하고 그 추정값을 기반으로 아날로그 영역과 디지털 영역에서 SI 신호를 순차적으로 제거하여 동일대역 전이중 방식 통신 시스템이 원하는 오율 성능을 달성할 수 있음을 확인하였다.

Multi-scale Simulation Approach on Lithiation of Silicon Electrodes

  • 정현;주재용;조준형;이광렬;한상수
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2014년도 제46회 동계 정기학술대회 초록집
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    • pp.186.2-186.2
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    • 2014
  • 최근 친환경 에너지에 대한 관심이 증폭되면서 리튬이차전지에 대한 연구가 활발히 진행되고 있다. 특히 음극(anode) 물질의 경우 기존의 흑연(graphite)보다 이론적 용량이 약 10배 이상 높은 실리콘(Silicon)에 대한 관심이 매우 높다. 하지만 Si의 경우 리튬 충전거동 시 400% 이상의 부피팽창으로 몇 번의 충전/방전 싸이클(cycle)에 전극이 파괴되는 문제점을 지니고 있다. 이를 극복하기 위해 Si 나노선이 고려되고 있다. 우수한 전극특성을 갖는 Si 소재를 개발하기 위해서는 원자단위에서 Si 나노선의 리튬 충전 메커니즘을 살펴보는 것이 매우 중요하다. 하지만 기존의 시뮬레이션 기법으로는 Si 나노선의 볼륨팽창에 관한 메커니즘과 리튬 충전과정에서의 상변화(결정질에서 비정질) 과정을 설명하기는 기술적으로 매우 힘들다. 고전적인 분자동역학 방법의 경우 실제 나노스케일을 고려할 수 있지만, empirical potential로는 원자들간의 화학반응을 제대로 묘사할 수 없다. 한편 양자역학에 기반을 둔 제일원리방법의 경우 계산의 복잡성으로 현재의 컴퓨터 환경에서는 나노스케일에서 원자들의 동역학적인 거동을 연구하기 매우 힘들다. 우리는 이러한 문제를 해결하기 위해 실제 나노스케일에서 원자간 화학반응을 예측할 수 있는 Si-Li 시스템의 Reactive force field를 개발하였고, 분자동역학 계산방법을 이용하여 Si 나노선의 Li 충전 메커니즘을 규명하였다.

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산소 플라즈마 전처리가 n-ZnO/p-Si 이종접합 다이오드의 특성에 미치는 효과

  • 김창민;이황호;이병호;김민아;고상은;최지수;이영민;이세준;김득영
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2014년도 제46회 동계 정기학술대회 초록집
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    • pp.282.1-282.1
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    • 2014
  • 산소 플라즈마 전처리가 ZnO/Si 박막 및 계면에 미치는 영향과 그것이 n-ZnO/p-Si 이종접합 다이오드의 전기적 특성에 관여하는 상관관계 등을 조사하였다. ZnO 박막을 Si 기판 위에 Sputter법으로 증착하였으며, 양질의 n-ZnO/p-Si 다이오드를 제작하기 위하여 산소 플라즈마를 이용하여 Si 기판의 표면을 전처리하는 기법을 선택하였다. 산소 플라즈마에 의해 전처리된 시편의 경우, (002) ZnO 보다 (101) ZnO가 더 우세하게 성장되었으며, (101) ZnO의 완화된 c-축 배향성 때문에 수평방향으로의 박막 성장이 이루어졌고, 그로 인해 ZnO 박막의 결정립 크기가 상대적으로 증가하는 것이 관측되었다. 이처럼 (101) 방향으로 성장된 ZnO 박막의 경우, 산소결공 등의 자생결함 밀도가 상대적으로 높아져 결국 캐리어 농도의 증가를 야기시켰다. 이러한 산소 플라즈마 전처리 효과는 n-ZnO/p-Si 이종접합 다이오드의 전도 특성과 밀접한 관련이 있으며, 특히 다이오드의 전도 특성을 현저히 개선시키는 것으로 관측되었다.

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IR 광검출기 응용을 위한 미세결정 SiGe 박막성장 연구

  • 김도영;김선조;김형준
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2011년도 제41회 하계 정기 학술대회 초록집
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    • pp.298-299
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    • 2011
  • 최근 입력소자로 활용되는 터치스크린은 키보드나 마우스와 같은 입력장치를 사용하지 않고, 스크린에 손가락, 펜 등을 접촉하여 입력하는 방식이다. 터치패널의 구현방식에 따라 저항막(Resistive) 방식, 정전용량(Capacitive) 방식, SAW (Surface Accoustic Wave; 초음파) 방식, IR (Infrared; 적외선) 방식등으로 구분된다. 특히 최근 관심을 받고 있는 IR 방식은 적외선이 사람의 눈에는 보이지 않으나, 직진성을 가지고 있어 장애물이 있으면 차단되는 특성을 이용한 방식이다. IR방식의 터치패널은 발광(Light emitting)소자와 수광(Light detecting)소자가 마주하도록 배치되어 터치에 의해 차단된 좌표를 인식하게 되며, ITO 필름 등이 필요 없어 Glass 1장으로도 구현이 가능하며 투과율이 우수하다. 이러한 IR 방식의 터치패널을 제작하기 위하여 사용된 IR 광검출기는 광학적 band-gap이 작은 박막물질을 필요로 한다. 본 연구에서는 IR 광검출을 위한 물질로 SiGe를 co-sputtering 기법을 이용하여 성장시켰다. 일반적으로 SiGe 박막을 성장시키기 위하여 저압화학기상증착법(low pressure chemical vapor deposition, LPCVD)이나 고진공 LPCVD를 사용하지만 본 연구에서는 CVD에 비하여 무독성이면서 환경친화적이고 초기투자비용이 낮은 증착장비인 sputtering을 이용하였다. 본 연구에서 성장된 SiGe 박막은 400$^{\circ}C$에서 rf plasma가 인가된 Ge과 dc plasma가 인가된 Si의 power를 조절하여 결정화도가 70% (Fig. 1)이고 결정성장방향이 (111)과 (220)방향으로 성장하는 SiGe 박막을 얻을 수 있었다. 본 논문에서는 co-sputtering 성장조건에 따라 성장된 SiGe의 박막 특성을 논의할 것이다.

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