Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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1989.02a
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pp.55-58
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1989
The methods of recording transient phenomena with picosecond or better resolution fall into two basic categories: those in which the detector itself prossesses adequate time resolution for the task at hand, and those in which the response of the system is sampled by examining the characteristics of a second pulse ("the probe") delayed in time from the initiating pulse ("the pump") as a function of time delay between pump and probe cases. In this case the time resolution is only limited by the pump-and probe-pulse durations. As an application of this time-resolved spectroscopic technique, the ultrafast orientational relaxation phenomena of the dye molecules are currently under investigation in our laboratory. In this presentation the status of our experiment is summarized.iment is summarized.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2003.07b
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pp.822-825
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2003
Maxwell displacement current (MDC) measurement has been employed to study the dielectric property of Langmuir-films. A method for determining the dielectric relaxation time $\tau$ of floating monolayers on water surface is presented. WC flowing across monolayers is analyzed using a rod-like molecular model. It is revealed that the dielectric relaxation time $\tau$ of monolayers in the isotropic polar orientational phase is determined using a liner relationship between the monolayer compression speed ${\alpha}$ and the molecular area Am. Compression speed ${\alpha}$ was about 30, 40, 50mm/min.
The observe relaxation phenomena and freezing behavior in Pb(Mg/sub ⅓/Nb/sub ⅔/O₃, relaxor ferroelectrics, weak electric-field properties as well as strong electric-field properties were investigated. The temperature dependence of the dielectric properties obtained using the low electric-field of 1 V/w was investigated. The dielectric properties obtained from the slope of the dielectric hysteresis loop and the temperature dependence of the pyroelectric properties were also investigated. When fitting all the experimental data with the Vogel-Filcher relation, a close agreement between the experimental data and equation was observed. The freezing temperature could be consistently calculated by the various methods.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1998.06a
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pp.173-176
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1998
We experimentally investigated the dielectric relaxation phenomena of a liquid crystal monolayers by the Displacement current techique and displacement current flowing across monolayers is analyzed using rod-like molecular model. It is revealed that the dielectric reaxation time $\tau$ of monolaters in the isotropic polar orientational phase is determined using a linear relashionship between the monolayers compression speed $\alpha$ and the molecular area. The dielectric relaxation time of phospholipid monolayers was examined on the basis of the analysis developed here.
Rice plants are subjected to various forces such as natural force of wind and mechanical force of cultivating machines. Rheological behavior of the rice stem can be expressed in terms of three variables : stress, relaxation and time. The objectives of this study are to examine stress relaxation, creep and recovery characteristics on the rice stem in case of axial and radial loading. Stress relaxation with time was studied on three levels of loading rate and on four levels of applied stress. The results were summarized as follows : 1. The hysterisis losses of the rice stem distinctly observed at the radial compression in comparison with axial compression. The hysterisis loss implied that the stem to absorbed energy without being deformed beyond the yield point. 2. Ageneralized Maxwell model consisting of three elements gave a good description of the relaxation behavior of the rice stem. Rate of loading was more significant on the observed relaxation behavior within the short relaxation time, but there were little influences of rate of loading on the relaxation time. 3. The stress relaxation intensity and the residual stress increased in magnitude as the applied stress increased, but the relaxation time was little affected by the applied stress. 4. The coefficients of the stress relaxation model showed much differences in the radial compression and the axial compression, especially the higher relaxation stress of the third element was observed in the radial compression. 5. The behaviors of rice stem in creep and recovery test also might be represented by a four element Burger's model. But the coefficients of the creep model were different from those of the recovery model. 6. The steady-state phenomena of creep appeared at the stress larger than 20 MPa in Samkang and 1.8 MPa in Whajin. 7. The elastic modulus of the stem showed the range from 40 to 60 MPa. It could be considered, as a result, the rice stems had viscoelastic properties.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2004.04b
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pp.111-115
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2004
In this paper, evaluation of physical properties about dielectric relaxation phenomena by the detection of the surface pressures and displacements current on the monolayer films of phospolipid monomolecular DLPC, DMPC using pressure stimulus. As a result, the changed surface pressure, displacement current and the transition forms of dipole moment of phospolipid monomolecular in area per molecular by pressure stimulus were conformed well. It was known that the monolayers by linear relationship for decision of dielectric relaxation time between compressure speed $\alpha$ and molecule area $A_m$ By according to the linear relationship relation get that frictional constant $\xi$, DLPC was $1.89{\times}10^{-19}$[Js] and DMPC was $0.722{\times}10^{-19}$[Js]. It is found that the phospolipid monolayer of dielectric relaxation takes a little time and depend on the molecular area.
The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers C
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v.50
no.10
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pp.504-508
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2001
The$(Sr_{1-x}Ca_x)TiO_3$(SCT) thin films are deposited on Pt-coated electrode $(Pt-TiN /SiO_2Si)$ using RF sputtering method at various deposition temperature. The crystallinity of thin films was increased with increased of deposition temperature n the temperature range of 200~500 $[^{\circ}C]$. The capacitance changes almost linearly in temperature ranges of -80~+90$[^{\circ}C]$. All SCT thin films used in the study the phenomena of dielectric relaxation with the increase of frequency, and the relaxation frequency is observed above 200[kHz]. V-I characteristics of SCT thin films show the increasing leakage current with the increases of deposition temperature.
The SCT thin films are deposited on Pt-coated electrode($Pt/TiN/SiO_2/Si$) using RF sputtering method with Sr/Ca ratio. The maximum grain of thin films is obtained by ratio of Ca at 15 mol%. The dielectric constant was increased with increasing the ratio of Ca, while it was decreased if the ratio of Ca exceeded over 15 mol%. The dielectric constant changes almost linearly in temperature ranges of $-80{\sim}+90$. All SCT thin films used in this study show the phenomena of dielectric relaxation with the increase of frequency, and the relaxation frequency is observed above 200 kHz. The current-voltage characteristics of SCT thin films showed the increasing leakage current as the measuring temperature increases.
Proceedings of the Korean Powder Metallurgy Institute Conference
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2002.04b
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pp.11-11
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2002
Plastic deformation was observed by TEM around the intragranular SiC particles in the $Al_2O_3$ matrix for $Al_2O_3/SiC$ nanocomposite system. The dislocations are generated at selected planes and there is a tendency for the dislocations to form a subgrain boundary structure with low-angel grain boundaries and networks. In this study, dislocation generated in the $Al_2O_3$ matrix during cooling down from sintering temperatures by the highly localized thermal stresses within and/or around SiC particles caused from the thermal expansion mismatch between $Al_2O_3$ matrix and SiC particle was observed. In monolithic $Al_2O_3$ and $Al_2O_3/SiC$ microcomposite system. These phenomena is closely related to the plastic relaxation of the elastic stress and strain energy associated with both thermal misfitting inclusions and creep behaviors. The plastic relaxation behavior was explained by combination of yield stress and internal stress.
Maxwell displacement current(MDC) measuring technique has been employed to study the dielectric property of Langmuir-films. A method for determining the dielectric relaxation time ${\tau}$ of floating monolayers on the water surface is presented. MDC flowing across monolayers is analyzed using a rod-like molecular model. It is revealed that the dielectric relaxation time ${\tau}$ of monolayers in the isotropic polar orientational phase is determined using a liner relationship between the monolayer compression speed ${\alpha}$ and the molecular area Am. Compression speed ${\alpha}$ was about 30, 40, 50mm/min.
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