Sn-filled $Co_8Sb_{24}$ skutterudites were synthesized by the encapsulated induction melting process. Single ${\delta}-phase$ was successfully obtained by subsequent annealing and confirmed by X-ray diffraction analysis. Temperature dependences of Seebeck coefficient, electrical resistivity and thermal conductivity were examined from 300 K to 700 K. The positive Seebeck coefficient confirmed the p-type conductivity of the Sn-filled $Co_8Sb_{24}$. Electrical resistivity increased with increasing temperature, which shows that the Sn-filled $Co_8Sb_{24}$ skutterudite is a highly degenerate semiconductor. Thermal conductivity was reduced by Sn-filling because the filler atoms acted as phonon scattering centers in the skutterudite lattice. Thermoelectric figure of merit was enhanced by Sn filling and its optimum filling content was considered to be $z{\leq}0.5$ in the $Sn_zCo_8Sb_{24}$ system.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제1권2호
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pp.28-31
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2000
BaTiO$_3$cerameic thin films doped with Mn were manufactured by rf/dc magnetron sputter technique. We have investigated crystal structure, surface morphology and PRCR(positive-temperature coefficient of resistance) characteristics of the specimen depending on second heat-treatment temperature. Second heat treatment of the specimen were performed in the temperature range of 400 to 1350$\^{C}$ X-ray diffraction patterns of BaTiO$_3$ thin films show that the specimen heat treated below 600$\^{C}$ is an amorphous phase and the one heat treated above 1100$\^{C}$ forms a poly-crystallization . In this specimen heat-treated at 1300$\^{C}$, a lattice constant ratio(c/a) was 1.188. Scanning electron microscope(SEM) image of BaTiO$_3$ thin films of the specimen heat treated in between 900 and 1100$\^{C}$ shows a grain growth. At 1100$\^{C}$, the specimen stops grain-growing and becomes a poly-crystallization . A resistivity-temperature characteristics of the specimen depends on the doping concentrations of Mn. A resistivity ratio between the value at room temperature and the one above Curie temperature was 10$^4$ for pure BaTiO$_3$ thin films and 10$\^$5/ fo BaTiO$_3$ : additive 0.127mol% MnO
An anomalous positive temperature coefficient of electrical resistivity (PTCR) was investigated in a ferroelectric lead-free perovskite-type compound $(Bi_{0.5}Na_{0.5})TiO_3$ within $BaTiO_3$-based solid solution ceramics. The effect of $Nb_2O_5$ content on the electrical properties and the microstructure of (1 - x) $BaTiO_3-x\;(Bi_{0.5}Na_{0.5})TiO_3$ (BNT) ceramics made using a conventional mixed oxide process also has been studied. The Curie temperature was obviously increased with the increasing of $(Bi_{0.5}Na_{0.5})TIO_3$ content. The Nb - doped BNT ceramics (x=0.01) display low resistivity values of $10^{1{\circ}}C-10^{2{\circ}}C$ ohm.cm at room temperature and the Curie Temperature of $T_c=160^{\circ}C$.
The electrical resistivity and mechanical properties of the hot-pressed and annealed ${\beta}$-SiC+39vol.%$ZrB_2$ electroconductive ceramic composites were investigated as a function of the liquid forming additives of $Al_{2}O_{3}+Y_{2}O_{3}$(6:4wt%). In this microstructures. no reactions were observed between $\beta$-SiC and $ZrB_2$, and the relative density is over 97.6% of the theoretical density. Phase analysis of composites by XRD revealed mostly of a $\alpha$-SiC(6H, 4H), $ZrB_2$ and weakly $\beta$-SiC(15R) phase. The fracture toughness decreased with increased $Al_{2}O_{3}+Y_{2}O_{3}$ contents and showed the highest for composite added with 4wt% $Al_{2}O_{3}+Y_{2}O_{3}$ additives. The electrical resistivity increased with increased $Al_{2}O_{3}+Y_{2}O_{3}$ contents because of the increasing tendency of pore formation according to amount of liquid forming additives $Al_{2}O_{3}+Y_{2}O_{3}$. The electrical resistivity of composites is all positive temperature coefficient resistance(PTCR) against temperature up to $700^{\circ}C$.
PTCR(Positive Temperature Coefficient of Resistivity) thermistor in thin film BaTiO$_{3}$ system was prepared by using radio frequency(13.56 MHz) and DC magnetron sputter equipment. Polycrystalline, surface structure, and R-T(Resistivity-Temperature) characteristics of the specimens were measured by X-ray diffraction(D-Max3, Rigaku, Japan), SEM(Scanning Electron Microscopy: M.JSM84 01, Japan), and insulation resistance measuring system (Keithley 719), respectively. Thin films characteristics of the thermistor showed different properties depending on the substrate even with the same sputtering condition. The thin film formed on the A1$_{2}$O$_{3}$ substrate showed a good crystalline and a low resistivity at below curie point. However, the thin films prepared on slide glass and Si wafer were amorphous. The thicknesses of the three samples prepared under the same process conditions were 700[.angs.], 637.75[.angs.], and 715[.angs.], respectively.
The mechanical and electrical properties of the hot-pressed and annealed $\beta$-Sic-$TiB_2$ electroconductive ceramic composites were investigated as function of the liquid forming additives of $Al_{2}O_{3}+Y_{2}O_3$. Phase analysis of composites by XRD revealed $\alpha$-SiC(6H), $TiB_2$, and YAG($Al_{5}Y_{3}O_{12}$). The relative density and the mechanical properties of composites were increased with increasing $Al_{2}O_{3}+Y_{2}O_3$ contents because YAG of reaction between $Al_{2}O_3$ and $Y_{2}O_3$ was increased. The Flexural strength showed the highest value of 432.5MPa for composites added with l2wt% $Al_{2}O_{3}+Y_{2}O_3$ additives at room temperature. Owing to crack deflection, crack bridging, phase transition and YAG of fracture toughness mechanism. the fracture toughness showed 7.1MPa${\cdot}m^{1/2}$. For composites added with l2wt% $Al_{2}O_{3}+Y_{2}O_3$ additives at room temperature The electrical resistivity and the resistance temperature coefficient respectively showed the lowest of 6.0${\sim}10^{-4}{\Omega}{\cdot}$ cm and 3.1${\times}10^{-3}/^{\circ}C$ for composite added with l2wt% $Al_{2}O_{3}+Y_{2}O_3$ additives at room temperature. The electrical resistivity of the composites was all positive temperature coefficient resistance(PTCR) in the temperature range of 25$^{\circ}C$ to 700$^{\circ}C$.
The mechanical and electrical properties of the hot-pressed and annealed ${\beta}-SiC-TiB_2$,/TEX> electroconductive ceramic composites were investigated as function as functions of the liquid forming additives of $Al_2O_3+Y_2O_3$. The result of phase analysis of composites by XRD revealed ${\alpha}$-SiC(6H), $TiB_2$,/TEX>, and YAG($Al_5Y_3O_{12}$) crystal phase. The relative density and the mechanical properties of composites were increased with increasing $Al_2O_3+Y_2O_3$ contents in pressureless annealing method because YAG of reaction between $Al_2O_3$ was increased. The flexural strength showed the highest value of 458.9 MPa for composites added with 4 wt% $Al_2O_3+Y_2O_3$ additives in pressed annealing method at room temperature. Owing to crack deflection, crack bridging, phase transition and YAG of fracture toughness mechanism, the fracture toughness showed 7.1 MPa ${\cdot}\;m^{1/2}$ for composites added with 12 wt% $Al_2O_3+Y_2O_3$ additives in pressureless annealing method at room temperature. The electrical resistivity and the resistance temperature coefficient showed the lowest value of $6.0{\times}10^{-4}\;{\Omega}\;{\cdot}\;cm(25\'^{\circ}C}$ and $3.0{\times}10^{-3}/^{\circ}C$ for composite added with 12 wt% $Al_2O_3+Y_2O_3$ additives in pressureless annealing method at room temperature, respectively. The electrical resistivity of the composites was all positive temperature coefficient resistance(PTCR) in the temperature ranges from 25 $^{\circ}C$ to 700 $^{\circ}C$.
The effects of $Nb_2O_5$ and $MnO_2$ on the positive temperature coefficient of resistivity (PTCR) behavior of lead-free $Ba_{0.99}(Bi_{1/2}Na_{1/2})_{0.01}TiO_3$ (BaBiNT) ceramics were investigated in order to fabricate a PTC thermistor available at high temperature of > $120^{\circ}C$. In particular, 0.05 mol% $Nb_2O_5$ added BaBiNT ceramic, which has significantly increased Curie temperature (Tc) of $160^{\circ}C$, showed good PTCR behavior; low resistivity at room temperature $(\rho_r)$ of $80.1{\Omega}{\cdot}cm$, a high $\rho_{max}/\rho_{min}$ ratio of $5.65{\times}10^3$ and a large resistivity temperature factor (a) of 18.5%/$^{\circ}C$. Furthermore, the improved $\rho_{max}/\rho_{min}$ of $6.48{\times}10^4$ and a of 25.4%/$^{\circ}C$ along with higher $T_c$ of $167^{\circ}C$ despite slightly increased $\rho_r$ of $569{\Omega}{\cdot}cm$, could be obtained for the BaBiNT + 0.05 mol% $Nb_2O_5$ + 0.02 wt% $MnO_2$ ceramic cooled down at a rate of $200^{\circ}C/h$.
The mechanical and electrical properties of the hot-pressed and pressureless annealed SiC+39vol.%$TiB_2$electroconductive ceramic composites were investigated as a function of the liquid additives of $Al_2O_3+Y_2O_3$. The result of phase analysis for the SiC+39vol.%$TiB_2$composites by XRD revealed $\alpha$-SiC(6H), $TiB_2$, and $YAG(Al_5Y_3O_{12})4 crystal phase. The relative density of SiC+39vol.%$TiB_2$ composites was increased with increased $Al_2O_3+Y_2O_3$. contents. The fracture toughness showed the highest value of $7.8 MPa.m^{1/2}$ for composites added with 12 wt % $Al_2O_3+Y_2O_3$. additives at room temperature. The electrical resistivity and the resistance temperature coefficient showed the lowest value of $7.3\times10_{-4}\Omega.cm\; and\; 3.8\times10_{-3}/^{\circ}C$ for composite added with 12 wt% $Al_2O_3+Y_2O_3$. additives at room temperature. The electrical resistivity of the SiC+39vol.%$TiB_2$composites was all positive temperature coefficient resistance(PTCR) in the temperature ranges from $25^{\circ}C\; to\; 700^{\circ}C$.
The composites were fabricated, respectively, using 61[vol.%]SiC-39[vol.%]$TiB_2$ and using 61[vol.%]SiC-39[vol.%]$ZrB_2$ powders with the liquid forming additives of 12[wt%] $Al_{2}O_{3}+Y_{2}O_{3}$ by hot pressing annealing at $1650[^{\circ}C]$ for 4 hours. Reactions between SiC and transition metal $TiB_2$, $ZrB_2$ were not observed in this microstructure. ${\beta}{\rightarrow}{\alpha}$-SiC phase transformation was occurred on the SiC-$TiB_2$ and SiC-$ZrB_2$ composite. The relative density, the flexural strength and Young's modulus showed the highest value of 98.57[%], 226.06[Mpa] and 86.38[Gpa] in SiC-$ZrB_2$ composite at room temperature respectively. The electrical resistivity showed the lowest value of $7.96{\times}10^{-4}[{\Omega}{\cdot}cm]$ for SiC-$ZrB_2$ composite at $25[^{\circ}C]$. The electrical resistivity of the SiC-$TiB_2$ and SiC-$ZrB_2$ composite was all positive temperature coefficient resistance (PTCR) in the temperature ranges from $25[^{\circ}C]$ to $700[^{\circ}C]$. The resistance temperature coefficient of composite showed the value of $6.88{\times}10^{-3}/[^{\circ}C]$ and $3.57{\times}10^{-3}/[^{\circ}C]$ for SiC-$ZrB_2$ and SiC-$TiB_2$ composite in the temperature ranges from $25[^{\circ}C]$ to $700[^{\circ}C]$.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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