• Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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• 2009.10a
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• pp.343-346
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• 2009

Since an LFSR as a pattern generator has solely linear dependency in itself, it generates sequences by moving the bit positions for a pattern generation. So the correlation between the generated patterns is high and thus reduces the possibility of fault detection. To overcome these problems many researchers have studied to have goodness of randomness between the output test patterns. In this paper, we propose the new and effective method to construct phase shifter as PRPG.

• Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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• v.14 no.3
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• pp.707-714
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• 2010

Since an LFSR(linear feedback shift register) as a pattern generator has solely linear dependency in itself, it generates sequences by moving the bit positions for pattern generation. So the correlation between the generated patterns is high and thus reduces the possibility of fault detection. To overcome these problems many researchers studied to have goodness of randomness between the output test patterns. In this paper, we propose the new and effective method to construct phase shifter as PRPG(pseudo random pattern generator).

• Proceedings of the IEEK Conference
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• 1999.11a
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• pp.935-938
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• 1999

메모리 테스트는 Built-In Self Test(BIST)와 같이 메모리에 내장된 회로를 통하여 자체 점검하는 방법과 테스터를 통하여 생성된 패턴을 주입하는 방법이 있다. 테스트 패턴 생성방법으로는 각각의 고장모델에 대한 테스트 패턴을 deterministic하게 생성해주는 방법과 Pseudo Random Pattern Generator(PRPG)를 이용하여 생성하는 경우로 구분할 수 있다. 본 연구에서는 PRPG를 패턴 생성기로 사용하여 여러 가지 메모리의 결함을 대표한다고 볼 수 있는 Static 및 Dynamic Neighborhood Pattern Sensitive Fault(NPSF) 등 다양한 종류의 고장을 점검할 수 있도록 메모리 BIST를 구성하였다. 기존의 Linear Feedback Shift Register(LFSR)보다 본 연구에서 제안하는 Linear Hybrid Cellular Automata(LHCA)를 이용한 PRPG가 높고 안정된 고장 점검도를 나타내었다.