Because the Apple Pay which created by U.S's Apple Inc. and launch of Samsung pay in last August in domestic, people have high interest in Pin-Tech industries and new method of easy payment. In this paper, it will study newly introduced Pin-Tech industries and marketability of Pin-Tech industries. Also it will propose safe use of Pin-Tech services based on cases in domestic and overseas. This paper is organized as follows. In Chapter 2, it will study concept of Pin-Tech services and status of Pin-Tech services in domestic and overseas. In Chapter 3, it will look technical trends of Pin-Tech services. In Chapter 4, it will propose direction based on analysis of cases of Pin-Tech services. This paper will finish with conclusion in Chapter 5. Given the global trends, Korea is now just took the first steps in new Pin-Tech era. The Pin-Tech services are in situations that it is not yet activated in domestic due to the various financial regulations and procedures. In this paper, it will shows cases of concerns of Pin-Tech services and domestic authentication which relates to easy payment certification. If Pin-Tech services are develop with easy payment certification and adapt to domestic environment and develop based on stability and security as mentioned in this paper, domestic Pin-Tech services and security technology will grow to the world level. Also it requires unceasing research and efforts from relevant government officials, security companies and Pin-Tech ICT companies.
우리나라의 대표적인 개인 정보는 주민등록번호라고 할 수 있다. 정보화의 급속한 진전과 발전 그리고 인터넷이 우리 생활의 일부가 되기 시작하면서 가상공간에서 개인 정보 보호에 대한 문제가 제기되기 시작하였다. 특히 가상 공간에서의 주민등록번호 사용은 개인 정보 오남용 등의 프라이버시 침해와 관련한 여러 가지 사회 문제들을 야기하고 있다. 가상 공간에서 주민등록번호 사용으로 발생하는 이와 같은 문제들을 해결하기 위해 정부는 2000년대 초반부터 가상 공간에서 주민등록번호를 대체할 수 있는 수단을 꾸준히 모색해 왔고, 그 결과 2006년 10월 이후부터 5개 민간 기관이 참여한 '인터넷 주민등록번호 대체 수단(i-PIN)' 서비스를 시행하고 있다. 하지만 i-PIN 도입 이후에도 개인 정보 침해 사건의 감소는 이루어 지지 않았고, 오히려 대형의 개인 정보 유출 사건이 빈번히 발생했다. 이런 상황들은 i-PIN의 성공적인 정착의 필요성, 가상공간에서의 개인 정보 보호의 중요성을 일깨워 주고 있다. 따라서 이 논문은 i-PIN 정책이 성공적으로 정착할 수 없었던 이유를 분석하고자 했다. 현재 정부의 주민등록번호 대체 수단인 i-PIN을 정책집행에 관한 이론 모형으로 분석하여 안전한 주민등록 번호 대체 수단의 효율적인 구현 방안을 모색하고자 한다.
According to increasing the integration of the device, there are important consideration about the improvement of the reliability in the product. To improve the reliability of the device, the test parameters and test time are increased. There are no pin-to-pin short test and pin-to-pin leakage test in the present test items to analysis the characteristics and reliability of the device. The purpose of the paper is to model the pin-to-pin phenomenon and propose to modify the test method present and to test the new pin-to-pin DC parameters. These modified and additive test items are applied to product test and confirmed to improve the reliability of product test.
This paper analyzes the effects of i-PIN focusing on the positive value creation rather than the negative loss reduction from the viewpoint of internet company. Empirical tests are run to examine what determines the use of i-PIN and whether i-PIN users participate in e-commerce, communication, and SNS activity. Our findings are as follows. First, the reason for using i-PIN lies in the experience of privacy infringement rather than a high value on privacy protection. Second, i-PIN users tend to participate in the online activity such as e-commerce, communication, SNS. Third, the marginal effect of i-PIN adoption amounts to 2~9% of increase in the online activity. With the results, we expect that i-PIN adoption leads to sales increase and new customer acquisition as well as privacy leakage decrease and it provides logic to solve social underinvestment problem in privacy protection.
Memory 반도체 Test공정에서 사용되는 Probe Card의 Probing Area가 넓어지면서 종래에 사용되던 Cantilever제품의 사용이 불가능하게 되고, MEMS공정을 사용한 새로운 형태의 Advanced제품이 시장에 출현을 하였다. MEMS형의 제품은 다수의 Micro Spring을 MLC(Multi Layer Ceramic)위에 MEMS 공정을 사용하여 생성하는 방식으로서 MLC는 좁은 지역에 다수의 Pin을 생성 할 수 있는 공간을 만들어 주며, 또 다른 이유는 전기적 특성인 임피던스를 맞추고 다수의 Pin의 압력에 의하여 생기는 하중을 Ceramic기판으로 지탱하기 위한 목적도 있다. 이에 MLC와 같은 전기적 특성을 임피던스를 맞춘 RF-CPCB를 사용하여 작은 면적에 다수의 Pin접합이 가능한 방법을 마련한 후, 이 RF-PCB를 부착하여 Pin의 하중을 받는 Wafer와 유사한 열팽창을 갖는 Substrate를 사용하여 MLC를 대체하여 다양한 온도 조건에서 사용이 가능하며, 복잡하고 공정비가 많이 드는 MEMS 공정에 의한 일괄 Micro Spring 생성 공정을 전주 도금 또는 2D방식의 도금 Pin으로 대체하였으며, Probe Card의 중요한 물리적 특성인 Pin들의 정렬도를 마련하기 위해 Photo Process를 사용한 Wafer로 만든 Wafer Pin Array Frame을 사용하여 2D 제작 Pin을 일괄 또는 부분 접합이 가능한 방법으로 Probe Array Head를 제작하여 이들을 부착하여 Probe Array Head를 이전의 MEMS공정 방법에 비해 쉽고 빠르게 만들어 probe Card를 제작 할 수 있게 되었다.
국내 소규모 쌀 가공 산업현장에서 적용될 수 있는 쌀가루의 습식제분방법을 모색하고자 수침시간(3, 6, 9 및 12 hr)을 달리한 세 가지 제분방법에 의해 제조된 쌀가루의 이화학적 특성을 비교분석하였다. 사용된 제분방법은 roller mill, pin mill 그리고 roller & pin mills 등 세 가지이다. 모든 제분기에서 수침시간이 증가할수록 미세입도 분포율이 상승하였다. 쌀가루의 미세 정도는 roller mill의 쌀가루가 가장 거칠었고 roller & pin mills는 중간정도, pin mill의 쌀가루가 가장 미세하였다. 조단백질, 조지방, 조회분은 수침시간 증가에 따라 감소하였다. 조단백질 함량은 pin mill 9, 12시간 수침에서 각각 7.66%와 7.58%로 낮게 나타났다. 수침시간 증가에 따라 L값은 증가하였고, a, b값은 감소하였다. 손상전분은 수침초기 roller mill에서 낮았으나 수침시간이 증가하면서 pin mill이 낮아져 수침 12시간에는 roller mill과 유사하였다. 그러나 roller mill & pin mills는 모든 수침시간에서 유의적으로 높은 손상전분을 나타내었다. 아밀로오스 함량은 수침시간이 증가할수록 증가하였고, 미세입도 분포율이 높은 pin mill과 roller & pin mills에서 높았다. 물 결합 능력은 쌀가루가 미세하여질수록 높게 나타났고, 손상전분이 많은 roller & pin mills에서 가장 높게 나타났다. 용해도와 팽윤력은 수침시간 증가에 따라 사용한 제분기 모두에서 지속적으로 상승하였으며, 특히 pin mill에서 용해도와 팽윤력 모두 비교적 높은 값을 나타내었다. 또한 미세구조 관찰시 수침시간 증가에 따라 pin mill 사용 시 미세한 쌀가루의 분포를 나타내었다. 이러한 결과로부터 습식제분과정 중 쌀의 수침시간과 사용한 제분기에 따라 쌀가루의 이화학적 특성 변화가 많으며, 소규모 산업현장에서 손상전분이 낮은 미세한 쌀가루를 제조하려면 충분한 수침을 통한 pin mill의 사용이 가장 적합하리라 생각된다.
The purpose of this study was to compare the positional stability of removable dies using several dowel pin systems. The removable dies were made by using five dowel pin systems: single dowel pin(Group I), single dowel pin and prepared groove on the die base(Group II), two-single dowel pin(Group III), two separate parallel dowel pins with plastic sleeves(Group IV), double straight dowel pins with metal sleeve(Group V). Special aluminum mold was made for specimens, and the dies of specimens removed and replaced thirty times with universal testing machine. Horizontal and vertical shift of dies was measured by Olympus monocular scanning tunneling microscope(STM5). The results were as follows: 1. The vertical shift was larger than the horizontal shift in all the other groups except Group I. 2. Single dowel pin system(Group I) was the most unstable of five dowel pin systems. 3. Double dowel pin systems with steeve(group IV, V) were the most stable of five dowel pin systems. 4. This study indicates that excellent horizontal positional stability is attainable with use of additional groove on the die base or double dowel pin. and excellent vertical positional stability is attainable with use of sleeve.
PinX1, a nucleolar protein of 328 amino acids, inhibits telomerase activity, which leads to the shortening of telomeres. The C-terminal region of PinX1 is responsible for its nucleolar localization and binding with TERT, a catalytic component of telomerase. A fraction of TERT localizes to the nucleolus, but the role of TERT in the nucleolus is largely unknown. Here, we report a functional connection between PinX1 and TERT regarding PinX1 stability. The C-terminal of $PinX1^{205-328}$, a nucleolar fragment, was much more stable than the N-terminal of $PinX1^{1-204}$, a nuclear fragment. Interestingly, PinX1 was less stable in TERT-depleted cells and more stable in TERT-myc expressing cells. Stability assays for PinX1 truncation forms showed that both $PinX1^{1-328}$ and $PinX1^{205-328}$, nucleolar forms, were more rapidly degraded in TERT-depleted cells, while they were more stably maintained in TERT-overexpressing cells, compared to each of the controls. However, $PinX1^{1-204}$ was degraded regardless of the TERT status. These results reveal that the stability of PinX1 is maintained in nucleolus in the presence of TERT and suggest a role of TERT in the regulation of PinX1 steady-state levels.
본 연구에서는 Ku-대역 위성통신 중계기에 사용되는 전압제어형 PIN 다이오드 감쇄기를 설계, 제작, 측정하고 이 감쇄기의 온도 특성 변화를 보상하기 위한 온도보상회로를 제안하였다. PIN 다이오드 감쇄기는 박막 하이브리드 기술을 이용하여 설계되었으며 PIN 다이오드 감쇄기를 전압제어형으로 사용할 경우 최대 선형 특성을 얻을 수 있는 부하 저항(R$_{L}$)의 값을 Simulation 및 실험에 의해 결정되었다. 최적의 부하 저항값은 사용한 PIN 다이오드의 특성에 의해 달라지며, 본 논문에서 사용한 APD-0805의 경우 150$\Omega$의 부하저항으로 PIN 다이오드 한 개에 10 dB 까지 선형 감쇄범위를 얻을 수 있었다. 또한 부하 저항을 포함한 PM 다이오드 감쇄기의 온도 특성을 측정하였고, 측정결과 관찰된 PIN 다이오드 감쇄기가 전압제어형으로 사용되어질 경우의 가장 큰 단점인 온도 특성의 심각한 변화를 보상할 수 있는 온도보상회로를 제안하였다. 제안된 온도보상회로를 갖는 PIN 다이오드 감쇄기는 동작온도에 대해 선형적인 특성을 보이며 동작온도 범위에 걸쳐 0.6 dB 이하의 오차만을 가짐을 확인하였다.
스마트 폰의 보급이 사용자에게 다양한 서비스를 제공하여 삶의 편리함을 주고 있다. 특히, 스마트 폰으로 사용자 인증 후에 손쉽게 온라인 금융거래가 이루어지고 있다. 사용자는 PIN을 이용한 인증으로 쉽게 서비스에 접근하지만 그로 인해 훔쳐보기나 레코딩과 같은 사회공학적 공격에 취약하다. 도어락에서 비밀번호 입력 시 허수를 포함하여 인증하는 방법을 스마트 폰에도 적용함으로써 사회공학적 공격에 대한 보안성을 높이고자 한다. 도어락은 PIN을 단말기 내에서 인증을 수행하지만 스마트 폰에서는 PIN 인증이 서버에서 처리하기 때문에 PIN 정보를 안전하게 전달해야 하는 문제가 있다. 제안기법을 통해 허수가 포함된 PIN을 여러 개 생성하여 해시값과 같은 가공값으로 전송하기 때문에 전송의 안정성을 보장하면서, 노출없이 PIN을 입력할 수 있는 기법으로 안전한 사용자 인증이 가능하다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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