본 논문에서는 새로운 양자화 방법을 도입하여 학습을 수행하는 단층 신경망을 광학적으로 구현하였다 본 논문의 시스템은 입력 마스크 위상형 홀로그램 회절격자. LCD, CCD 카메라 등으로 구성된다. 입력단의 뉴런과 출력단의 뉴런간의 연결은 홀로그램 회절격자를 이용하여 2차원 연결을 이루었으며, 회절광들의 세기를 같게 하기 위하여 진폭형 회절격자를 위상형 회절격자로 변환시켰다. 뉴런간의 가중치는 2진 양자화되어 LCD를 이용하여 나타내었고, 출력값은 CCD를 통하여 컴퓨터에 입력되어 가중치를 보정하며, 이 과정은 학습이 완료될 때가지 반복 수행된다. 실험은 학습도 (learning rate) 0.5, 0.9에 대하여 실행하였으며, 제안된 방식으로 학습을 무리없이 수행할 수 있음을 확인할 수 있었다.
In this paper, mesoscale optical surface structures are found to possess both geometric and wave optics features. The study reveals that geometric optic analysis cannot correctly predict the experimental results of light transmission or reflection by mesoscale optical structures, and that, for reliable analyses, a hybrid approach incorporating both geometric and wave optic theories should be employed. By analyzing the transmission patterns generated by the mesoscale periodic pyramid prism plates, we show that the wave optic feature is mainly ascribed to the edge diffraction effect and we estimate the relative contributions of the wave optic diffraction effect and the geometric refraction effect to the total scattering field distribution with respect to the relative dimension of the structures.
Cross-talk effects in high-density volume holographic interconnections are investigated using perturbative iteration method of the integral form of Maxwell's wave equation. In this method, the paraxial approximation and negligence of backward scattering introduced in conventional coupled mode theory is not assumed. Interaction geometries consisting of non-coplanar light waves and multiple index gratings are studied. Arbitrary light polarization is considered. Systematic analysis of cross-talk effects due to multiple index gratings is performed in increasing level of diffraction orders corresponding to successive iterations. Some numerical examples are given for first and third order diffraction.
Ti/Ni multilayered films (MLF) are ideal for neutron optics particularly in neutron guides and focusing devices. This system also possesses the tendency of amorphization through a solid-state reaction (SSR). This behaviors are closely related to the electronic structures and both magneto-optical (MO) and optical properties of metals depend strongly on their electron energy structures. Mutual inter-diffusion of the Tin and Ni atoms in the MLF caused by a low temperature annealing should decrease the thickness of pure Ni, as well as change the chemical and atomic order in the reactive zone. The application of the MO spectroscopy to the study of SSR in the MLF allows us to obtain an additional information on the changes in the atomic and chemical orders in the interface region. The optical one has no restriction on the magnetic state of the constituent sublayers. Therefore, the changes in magnetic, MO and optical properties of the Ti/Ni MLF due to SSR can be expected. To the best of our knowledge, the MO and optical spectroscopies were not used for this purpose. SSR has been studied in the series of the Ti/Ni MLFs with bilayer periods of 0.65-22.2nm and constant ratio of the Ti to Ni sublayers thickness by using MO and optical spectroscopies as well as an x-ray diffraction. The experimental MO and optical spectra are compared with the computer-simulated spectra, assuming various interface models. The relative changes in the x-ray diffraction spectra and MO properties of the Ti/Ni MLF caused by annealing are bigger for the multilayers with "thick" sublayers, or the SSR with the formation of amorphous alloy takes place mainly in the Ti/Ni multilayers with "thick" sublayers, while in the nominal threshold thickness of the Ni-sublayer for the observation of the equatorial Kerr effect in the as-deposited and annealed Ti/Ni MLFs of about 3.0 and 4.5nm thick is explained by the formation of amorphous alloy during the deposition or the formation of the nonmagnetic alloyed regions between pure components as a result of the SSR. For the case of Ti/Ni MLF the MO approach is more sensitive for the determination of the thickness of the reacted zone, while x-ray diffraction is more useful for structural analyses.structural analyses.
The soft x-ray(10nm-100nm) interferometer is a modified Mach-Zehnder type interferometer and it consists of two beam-splitters and four totally reflecting mirrors. The beam-splitters used here are 50% transmission and 50% reflection grating type. The diffraction patterns of beam splitters(1st B.S.) were investigated with a He-Ne laser. The diffraction patterns produced by the soft x-ray interferometer (2nd B.S.) were also investigated in intensities positions. The diffraction patterns of 20 degree grazing incidence on the beam splitters(1st B.S.) show a circular array of spots. Both the reflected and the transmitted beams show the same patterns but symmetric circles on the screen. The maximum intensity appears roughly when n is in the zeroth and odd orders and the suppressed peak(missing order) appears when n is in even orders. Intensities of 3 center fringes(n = 0, $\pm$1) are stronger than others. These results confirm the reduced grating equation and make agree with the intensity distribution function. It was found that the final patterns produced by the soft x-ray interferometer (2nd B.S.) consisted of fine fringes which were caused by two of three diffraction beams that were arrived at the second beam-splitter.
Using a Shack-Hartmann sensor and sub-wavelength sized pinhole point source, we develope an optical testing system that measures the wavefront error of high numerical aperture and small sized optical components. The subwavelength sized pinhole generates perfect spherical waves with large diffraction angle and this makes possible to test high numerical aperture optics. The Shack-Hartmann sensor reconstructs the wavefront and calculates the aberrations. We make a home-made reference plane wave source which generates nearly perfect plane waves and the calibration with this plane source gives the overall uncertainty of the optical testing system 0.010 $\lambda$ rms.
Ha Na Yeong;U Yeon Gyeong;Hwang Ji-Su;Jang Hye-Jeong;Park Byeong-Ju;U Jeong-Won
한국광학회:학술대회논문집
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한국광학회 2002년도 하계학술발표회
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pp.162-163
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2002
1-D photonic band-gap structure is identified in a cholesteric liquid crystal system. The optical transmission spectrum is measured and compared with the theoretical analysis. Nonlinear transmission is measured near the band edge. Also 3-D photonic band-gap structures are fabricated from dielectric colloidal polystyrene beads through a centrifuge method. The fabricated photonic crystals exhibit opalescent colors under white light and show a clear diffraction peak dependent on the incident angle of the light beam. Also the scanning electron microscope image was taken to verify the face-centered cubic crystal structure. Bragg's law and Snell's law are employed to describe the position of angle resolved diffraction peaks. It was shown that the optically deduced effective refractive index and lattice constants were in good agreement with the crystal structure identified by scanning electron microscope.
랜드/그루브 기록 광디스크에서 랜드와 그루브의 영향, 각종 수차 그리고 수광계의 변화가 포커스에러신호에 미치는 영향을 나이프엣지법과 비점수차법으로 구분하여 시뮬레이션을 통해 분석하였다. 그루브의 영향에 의해 포커스에러신호에서 Aero Cross 점이 Shift되는데, 이는 디스크 반사 회절빔의 파면이 Defocus 성분을 포함하고 있기 때문이라는 것을 밝혔다. 또한 회절빔의 각 차수별로 포커스에러신호를 분석함으로써 빔점수차 방식에서 랜드와 그루브의 영향으로 에러신호의 감도가 감소함을 보았다.
A technique of optical image synthesis with an extended incoherent source is presented and compared with the coherent method. A holographic diffraction grating is fabricated by using Michelson interferometer, and by equalizing the 8th-order to the 2nd-order diffraction efficiency, complex amplitude addition and subtracdtion of optical images are simultaneously realized. The experiment shows that the quality of synthesized optical images in the incoherent method is improved in comparison with that of the coherent method by suppressing the coherent artifact noise.
A novel image quality evaluation method, which is based on combination of the rigorous grating diffraction theory and the ray-optic method, is proposed. It is applied for design optimization and, tolerance analysis of optical imaging systems implementing diffractive optical elements (DOE). The evaluation method can predict the quality and resolution of the image on the image sensor plane through the optical imaging system. Especially, we can simulate the effect of diffraction efficiencies of DOE in the camera lenses module, which is very effective for predicting different color sense and MTF performance. Using this method, we can effectively determine the fabrication tolerances of diffractive and refractive optical elements such as the variations' in profile thickness, and the shoulder of the DOE, as well as conventional parameters such as decenter and tilt in optical-surface alignments. A DOE-based 2M-resolution camera lens module designed by the optimization process based on the proposed image quality evaluation method shows ${\sim}15%$ MTF improvement compared with a design without such an optimization.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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