• 제목/요약/키워드: Optical constants

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투과 및 반사 스펙트럼을 이용한 콜레스테릭 액정 필름의 광학 상수 결정 (Determination of optical constants for cholesteric liquid crystal films by using transmittance and reflectance spectra)

  • 박종락;류기한
    • 한국광학회지
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    • 제15권1호
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    • pp.63-67
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    • 2004
  • 이론적으로 계산된 투과 및 반사 스펙트럼을 실험적으로 측정된 결과에 대해 곡선 맞춤(curve fitting)을 수행하여 콜레스테릭 액정 필름(CLC, cholesteric liquid crystal)의 광학 상수를 결정하였다. 이론적인 투과 및 반사 스펙트럼 계산을 위해 Bewemn의 4${\times}$4행렬법이 사용되었다. 서로 다른 반사밴드를 갖고 있는 세 종류의 샘플에 대해 이 방법을 적용하였다 CLC샘플에 대한 곡선 맞춤 결과로부터 얻은 굴절률 값을 수평 배향된 LC샘플에 대해 측정된 값과 비교하였는데, 두 결과는 세 CLC 샘플에 대한 곡선 맞춤 결과 오차 범위 내에서 일치하였다.

주기적인 구조를 갖는 X-선 반사경 설계 (X-ray Reflection Mirror of the Periodic Multilayer Structure)

  • 권택용;정진우;신진욱;최재호
    • 한국광학회:학술대회논문집
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    • 한국광학회 2007년도 하계학술발표회 논문집
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    • pp.21-22
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    • 2007
  • The periodic multilayer is considered as the X-ray reflection mirror. High X-ray reflectivity from the incident angle greater than the grazing critical angle can be obtained by the periodic multilayer structure. The Optical constants are investigated in order to determine the material for X-ray reflection mirror. The X-ray reflection mirror is designed for W, Si using computer simulation. The reflectivity is calculated for various incident angles and ratio of thickness.

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가변입사각 분광타원법을 이용한 유기 발광 박막의 광학 상수 및 두께 결정 (Determination of optical constants and thickness of organic electroluminescence films using variable angle spectroscopic ellipsometry)

  • 류장위;김상열;김동현;정혜인
    • 한국광학회:학술대회논문집
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    • 한국광학회 2001년도 제12회 정기총회 및 01년도 동계학술발표회
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    • pp.264-265
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    • 2001
  • 영상표시방법은 관례적인 CRT 방법에 더하여 LCD, TFT-LCD, FED, PDP 등 다양한 방법들이 개발되었거나 개발되고 있다. 유기발광소자(OLED)를 이용한 영상표시법도 최근 그 실용성이 크게 향상된 방법으로 이 OLED를 이용하는 발광소자는 LCD, TFT-LCD 등의 방법과 마찬가지로 다층박막구조를 가지므로 각 박막층의 특성과 계면 급준성 등을 정확하게 평가하는 것은 긴요하다 하겠다. (중략)

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SIMULTANEOUS DETERMINATION OF OPTICAL CONSTANTS AND DEPTH-PROFILE OF SPUTTERED AMORPHOUS TiO$_2$ THIN FILMS

  • Rhee, Sung-Gyu;Lee, Soon-Il;Oh, Soo-Ghee
    • 한국표면공학회지
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    • 제29권6호
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    • pp.654-659
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    • 1996
  • Amorphous $TiO_2$ thin films were deposited on silicon substrates by the RF magnetron sputtering under various conditions, and studied by the spectroscopic ellipsometry (SE). To determine the optical constants as a function of photon energy and also to depth-profile the as-deposited $TiO_2$ thin films, we analyzed the ellipsometric spectra using the effective medium approximation and the dispersion equations. Especially, we improved the modeling accuracy by selectively using either the Sellmeier or the Forouhi and Bloomer dispersion equation in different energy regions.

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가변입사각 분광타원 법을 이용한 유기 발광 박막의 광학상수 및 두께 결정 (Determination of optical constants and thickness of organic electroluminescence thin films using variable angle spectroscopic ellipsometry)

  • 김상열;류장위;김동현;정혜인
    • 한국광학회지
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    • 제12권6호
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    • pp.472-478
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    • 2001
  • 가변입사각 분광타원법(Variable Angle Spectroscopic Ellipsometry)을 사용하여 유기발광소자(OLED)의 발광층인 유기박막 의 광학상수와 두께를 결정하였다. 광투과영역에서 모델링분석으로 박막의 평균두께와 굴절률 분산식을 결정하고, 광흡수영역으로 확장하여 유기막의 다층구조, 각 층의 두께와 밀도 그리고 각 파장에서의 복소굴절률을 결정하였다. 분광광도계를 사용하여 구한 투과율 스펙트럼을 가변입사각 분광타원법을 사용하여 결정한 다층구조 및 복소굴절률로 계산한 투과율 스펙트럼과 비교하여 분석의 정확성을 확인하였다.

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다이오드 레이저 노출시간에 따른 Te-doped G $e_{15}Sb_{85}$ 박막의 광학 상수 변화 (The Variation in Optical Constants of Te-doped G $e_{15}Sb_{85}$ Thin Films with Diode-Laser Exposing Time)

  • 김홍석;정진만;이현용;정홍배
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 1997년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.30-33
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    • 1997
  • In this paper, we studied the variation in optical constants of Te-doped G $e_{15}$ /$Sb_{85}$ thin films with 7800$\AA$ diode-laser exposing time and power. The reflectances were increased with the increase of laser exposure time and the laser power in all films. Also, the refractive indices of the films after exposing were higher than those of the as-deposited films. Thus, the fast crystallization was caused by addition to the more Te content at the lower lacer power. It was observed that the surface morphologies of the exposed films are higher than those of the as-deposited films by SEM analysis. Therefore, it is considered that the T $e_{0.5}$(G $e_{15}$ /$Sb_{85}$)$_{99.5}$ thin films will show the high contrast ratio and high SNR and have fast erasing time due to crystallization when these films is applied to optical recording materials.terials.s.

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FCC구조에서 포논분산과 비열 (Phonon Dispersion and Specific Heat in FCC Structure)

  • 정재동;이경태
    • 대한기계학회:학술대회논문집
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    • 대한기계학회 2004년도 추계학술대회
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    • pp.1207-1212
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    • 2004
  • A model for the phonon dispersion relationship for cubic zinc sulfide structure, for example SiC, is developed in terms of two unknown force constants. Born model that incorporates bond bending and bond stretching, is used for the force constants. The force constants are determined by fitting to experimental data. Using only the nearest-neighbor coupling results in $6{\times}6$ sized dynamic matrix. The eigenvalues of dynamics matrix for each wavenumber in 3-D ${\kappa}$ space correspond to frequencies, 3 for optical phonon and 3 for acoustic phonon, which is so-called dispersion relation (${\kappa}$-${\omega}$). The density of state is determined by counting the states for each frequency bin, and the properties such as specific heat and thermal conductivity can be obtained. The specific heat is estimated on this model and compared with experiment and other models, i.e. Debye model, Einstein model and combined Debye-Einstein model. In spite of the simple bond potential model, reasonable agreements are found.

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박막형 광도파관에서 이방성 매질에 의한 TE-TM 모드 변환 (TE-TM Mode Conversion in Thin- Film Optical Wave-guides with Gyrotropic and Anisotropic Materials)

  • 정상구;원영희
    • 대한전자공학회논문지
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    • 제19권6호
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    • pp.17-32
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    • 1982
  • 집적광학용 광도파전에 전기팡 효파 혹은 자기광 효과를 나타내는 이방성 매질을 사용할 때 매질정수 및 박막두께등 광학적 변수가 모드 변환에 미치는 영향괼 엄밀한 파동광학의 접근 방법으로 조사하여 어떠한 박막형 광도파관 구조에도 적용될 수 있는 일반적인 해석방법을 제시하였다. 균일한 이방성 매질에서의 고유 모드와 그 구성성분 및 위상속도를 먼저 결정하고 그 결과를 이용하여 박자형 광도파관에서의 고유 모드 성분에 대한 위상특성식을 구하였고 전자파의 진행방향에 대한 모드 성분의 변화를 Jones 행열 령태로 표시하여 박막형 광도파관에서 모드 젼환의 조건과 그 변환율이 Bulk 매질에서와는 다름을 나타내었다. Wave propagation in gyrotropic or anisotropic medium is analyzed in terms of the eigenmodes of the medium, which are admixture of TE and TM waves. The field composition and the phase velocity of the modes are also determined. The results of the analysis are applied to thin film optical waveguide using such medium as substrate and/or film. Based on the characteristic equations for phase constants of the waveguide, the condition for TE-TM mode convection is derived, and wave propagation in the guide is represented in the form of Jones matrix, which allows a new interpretation in the conversion efficiency of the thin-film optical waveguides.

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