• Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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• v.20 no.1
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• pp.41-46
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• 2007

Surface potential properties at the interface of pentacene thin films on gold (Au) and aluminum (Al) surfaces were investigated by using a near-field scanning microwave microprobe (NSMM). The surface potential formed across the pentacene film was observed by measuring the microwave reflection coefficient $S_{11}$ and compared with the result of a Kelvin-probe method. The obtained reflection coefficient ${\Delta}S_{11}$ of the pentacene thin films on Al was decreased as the pentacene film thickness increased due to the increased accumulation of negative space charges, while for Au ${\Delta}S_{11}$ was essentially constant.

• Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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• 2004.11a
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• pp.522-525
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• 2004

ITO thin films $({\sim}150\;nm)$ are deposited on glass substrates by different deposition condition. The sheet resistance of ITO thin films measured by using a four probe station. The microstructure of these films is determined using a X-ray diffractometer (XRD) and a scanning electron microscope (SEM) and a atomic force microscope (AFM). The sheet resistance of ITO thin films compared $s_{11}$ values by using a near field scanning microwave microscope.

• Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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• 2004.07b
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• pp.981-984
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• 2004

유기 발광소자(OLED)Glass/indium-tin-oxide(ITO)/Cu-Pc(copper-phthalocyanine)N,N'-Bis(3-methylphenyl)-1,1'-biphenylbenzidineltris-(8-hydroquinoline) aluminum(Alq3)/aluminum(Al)의 기본구조로 제작된 OLED에 다양한 전압을 인가하면서, 마이크로파 근접장 현미경을 이용하여 시간에 따른 소자의 전류-전압특성을 측정함으로써 전기적 전도 특성을 연구하였다. 또한 다양한 인가전압의 시간에 따른 EL(electro luminance)을 측정하여 소자의 광학적 특성과 전기적 특성을 연구 비교하였다.

• Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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• 2004.05a
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• pp.128-131
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• 2004

유기발광소자(OLED)Glass/indium-tin-oxide(ITO)/Cu-Pc(copper-phthalocyanine)/N.N'-Bis(3-methylphenyl)-1,1'-biphenylbenzidine/tris-(8-hydroquinoline) aluminum(Alq3)/aluminum(Al)의 기본구조로 제작된 OLED에 다양한 전압을 인가하면서, 마이크로파 근접장 현미경을 이용하여 전압인가에 따른 반사계수(S11)와 소자의 전류-전압특성을 측정함으로써 전기적 전도 특성을 연구하였다. 또한 다양한 인가전압에 따른 EL(electro luminance)를 측정하여 소자의 광학적 특성과 전기적 특성을 연구 비교하였다.

• Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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• 2004.05a
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• pp.132-136
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• 2004

열 증착 방법을 이용하여 copper(II)-phthalocyanine(CuPc) 박막을 glass 기판 위에 제작하였다. 열처리 조건은 $150^{\circ}C$에서 후열(annealing) 처리 하는 방식과 예열하는 두 가지 방식으로 달리하였다. 제작된 박막의 전기전도도를 평가하기 위해 마이크로웨이브 근접장 효과를 이용한 근접장 현미경(near-field scanning microwave microscope)을 이용하여 비파괴적인 방식으로 CuPc 박막의 반사계수(reflection coefficient)를 측정하였다. CuPc 박막의 전기전도도 특성을 UV 흡수도를 통한 에너지 밴드갭의 shift 현상과 관련지어 설명하고 또한 x-ray diffraction(XRD) data를 통해 박막의 결정 특성과 비교하였다. 박막 표면 특성은 SEM(scanning microscope microscopy)을 통해 관측하였다. 열처리 조건에 따른 CuPc 박막의 전기전도도 특성은 후열 처리한 박막의 경우 예열 처리한 박막보다 전기 전도 특성이 향상되었음을 관측할 수 있었다.

• Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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• 2003.11a
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• pp.494-497
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• 2003

We report the dark spots in organic light emitting diodes by using a near-field scanning microwave microscope. Devices structure was glass / indium-tin-oxide(ITO) / copper-pthalocyiane(Cu-Pc) / tris-(8-hydroquinoline)aluminum(Alq3) / aluminum(Al). We made artificial dark spots by using a etching technique on a ITO substrate. Near-field scanning microwave microscope images and reflective coefficient of dark spots were measured and compared by the change of various applied voltage changes 0-15V.

• Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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• 2004.07b
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• pp.1042-1045
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• 2004

ITO thin films ($\sim150nm$) are deposited on glass substrates by different deposition condition. The sheet resistance of ITO thin films measured by using a four probe station. The microstructure of these films is determined using a X-ray diffractometer (XRD) and a scanning electron microscope (SEM) and a atomic force microscope (AEM). The sheet resistance of ITO thin films compared $s_11$ values by using a near field scanning microwave microscope.

• Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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• v.27 no.4
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• pp.345-353
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• 2007

We have obtained a topographical image nondestructively for a Cu thin film in liquid using a near-field scanning microwave microscope (NSMM), its operating frequency was 3.5 to 5.5 GHz. We have kept a distance of 10 nm between tip and sample using a quartz tuning fork shear force feedback system. As an end of tip was attached to one prong of the quartz tuning fork has a length of 2 mm, the only tip of tuning fork was immersed in water tank. A loss cause by evaporation in water tank is regulated with actuator was connected to a supplementary tank. Moreover, using a revise program of LabView, we could increase the accuracy of a measurement in liquid.

• Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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• 2004.07b
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• pp.1074-1078
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• 2004

열 중착 방법을 이용하여 copper(II)-phthalocyanine(CuPc) 박막을 glass 기판 위에 제작하였다. 박막은 열처리를 하지 않은 경우와 열처리 조건을 $150^{\circ}C$ 로 후열(annealing) 처리 하는 방식으로 하였으며 후열 처리한 경우 $150^{\circ}C$에서의 열처리 지속 시간을 각각 2시간, 3시간, 4시간으로 달리하였다. 제작된 박막의 전기전도도를 평가하기 위해 마이크로파의 근접장 효과를 이용한 근접장 현미경(near-field scanning microwave microscope)을 이용하여 비파괴적인 방식으로 CuPc 박막의 반사계수(reflection coefficient)를 측정하였다. CuPc 박막의 전기전도도 특성을 UV 흡수도를 통한 HOMO(highest occupied molecular orbital), LUMO(lowest unoccupied molecular orbital) 준위의 밴드갭의 shift 현상과 관련지어 설명하였다. 박막 표면 특성은 SEM(scanning microscope microscopy)을 통해 관측하였다. 열처리 지속 시간에 따른 CuPc 박막의 전기전도도 특성은 2시간으로 지속한 경우의 박막의 경우 가장 좋았으며 그 보다 더 오랜 시간 동안 열처리를 지속한 경우에는 전기 전도 특성이 오히려 나빠짐을 알 수 있었다.