System on panel 프레임 버퍼를 위한 메모리 셀 어레이와 주변회로가 설계되었다. 또한, system on panel 공정의 낮은 yield를 극복하기 위해, 블럭 단위의 parallel test 방안이 제안되었다. 기존의 메모리 테스트 보다 빠르게 fault detection이 가능하며, 다양한 embedded memory나 일반 SRAM 테스트 분야에도 적용 가능하다. 또한 기존의 다양한 test vector pattern이 그대로 적용될 수 있어 fault coverage가 높고, 최근의 추세인 hierarchical bit line과 divided word line 구조에도 적용될 수 있다.
임베디드 리눅스 디바이스 드라이버의 개발이 증가하면서 이에 대한 오류 테스트 기능을 가진 모듈의 필요성이 증가되고 있다. 본 논문은 리눅스 디바이스 드라이버를 위한 freed 메모리 오류 테스트 모듈의 기본 개념을 제시하며, 기본 개념을 바탕으로 오류 테스트 모듈을 설계한다. freed 메모리 오류 테스트 모듈 설계를 위해 리눅스 USB 디바이스 드라이버에 적용하고, 오류가 발생할 가능성이 존재하는 부분에 대한 검증 코드를 추가하여 테스트 모듈을 작성한다. 오류 테스트 모듈 설계를 위해서 usb storage 디바이스 드라이버를 대상으로 하였다. 또한 작성된 오류 테스트 모듈의 실험을 진행하였다. 실험을 통해 리눅스 디바이스 드라이버의 오류 테스트 모듈의 동작을 확인할 수 있다.
Objectives : This study was performed to evaluate the effects of PTSD on memory function, to investigate the difference of memory function between PTSD and non-PTSD patients, and to identify major variables correlated to PTSD scale and Memory Assessment Scale. Methods: The authors used PTSD-scale(Mississippi scale and Combat Exposure Scale) for measuring PTSD severity. And, Beck Depression Inventory was also used. Memory assessment scale was assessed by well trained psychologist. Thirty one Vietnam veterans who had been hospitalized were collected consecutively. These patients were evaluated by psychiatrists with interview and measurement for fifteen months since March, 1997. The collected data were analyzed by SPSS and the stastistic methods used for analysis Chi-square, t-test, and Pearson's correlation. Results : 1) There were significant differences in short-term memory and verbal memory between PTSD and non-PTSD in Vietnam veterans. 2) Mississippi scale and Combat Exposure Scale were negatively correlated to short-term memory and verbal memory(Pearson's correlation). 3) Religion status was a significant variable between PTSD and non-PTSD in Vietnam veterans. 4) There is no significant difference in visual memory and total memory scale between PTSD and Non-PTSD in Vietnam veterans Conclusions : Neuropsychological changes were found in the posttraumatic stress disorder. There were significant differences in short-term memory and verbal memory between PTSD and non-PTSD in Vietnam veterans. Mississippi scale and Combat Exposure Scale were negatively correlated to short-term memory and verbal memory. We suggest that neuropsychological test might be used for an objective assessment of patients with the combat related PTSD and be considered helpful in the assessment of patients with the diagnosis. And we also suggest rehabilitation strategies would be used to compensate for memory deficits in PTSD patients.
Purpose : This study has an experiment on finding how Hyangbujapamultang advanced the learning and memory of rat to find the method to improve the failure of memory which is the symptom of dementia.Method : In the experiment, rats were divided the control group (14 rat) which medicate the excipient into the sample group (17 rat) which medicates Hyangbujapalmutang. And the learning ability test and the memorv test was practiced to using the task of radial arm maze.The learning ability test had the presupposition that, when a rat which frequents 8 tracks makes am error not exceeding one time for 3 days without a break, it passes the test.First experiment compared total days when the control group passed the test with total days when the sample group it.The memory test practiced after 24 hours when the learning ability test was over. When a rat frequents 4 tracks, the gates is cut off during 30 seconds. Here the number of error at the control group with that of the sample group.Result: In the learning ability test, the sample group needed 5.82${\pm}$0.37 days to pass the test and the control group needed 6.43${\pm}$0.67 days. In the memory test, the sample group errored 0.29${\pm}$0.37 times and the control group errored 1.86${\pm}$0.78 times.Conclusion : In the learning ability test, the sample group passed the test earlier than the control group, but any statistical correlationship couldn't be found in it. In the memory test, the sample group had the pregnant reduction of the number of error in comparison with the control group.
Generally, since memory chips should be tested all, considering its volume, the reduction in test time for detecting faults plays an important role in reducing the overall production cost. The parallel testing of chips in one ATE is a competitive solution to solve it. In this paper, NOC is proposed as test interface architecture between DUTs and ATE. Because NOC can be extended freely, there is no limit on the number of DUTs tested at the same time. Thus, more memory can be tested with the same bandwidth of ATE. Furthermore, the proposed NOC-based parallel test method can increase the efficiency of channel usage by packet type data transmission.
Byun, Chul-Hoon;Jeon, Chang-Kyun;Lee, Taek;In, Hoh Peter
KSII Transactions on Internet and Information Systems (TIIS)
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제8권6호
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pp.2139-2151
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2014
Embedded system testing, especially long-term reliability testing, of flash memory solutions such as embedded multi-media card, secure digital card and solid-state drive involves strategic decision making related to test sample size to achieve high test coverage. The test sample size is the number of flash memory devices used in a test. Earlier, there were physical limitations on the testing period and the number of test devices that could be used. Hence, decisions regarding the sample size depended on the experience of human testers owing to the absence of well-defined standards. Moreover, a lack of understanding of the importance of the sample size resulted in field defects due to unexpected user scenarios. In worst cases, users finally detected these defects after several years. In this paper, we propose that a large number of potential field defects can be detected if an adequately large test sample size is used to target weak features during long-term reliability testing of flash memory solutions. In general, a larger test sample size yields better results. However, owing to the limited availability of physical resources, there is a limit on the test sample size that can be used. In this paper, we address this problem by proposing a self-adaptive reliability testing scheme to decide the sample size for effective long-term reliability testing.
최근 VLSI 회로 직접도가 급속도로 증가함에 따라 하나의 시스템 칩에 고밀도와 고용량의 내장 메모리가 구현되고 있다. 고장난 메모리를 여분의 메모리로 재배치함으로써 메모리 수율 향상과 사용자에게 메모리를 투명하게 사용할 수 있도록 제공할 수 있다. 본 논문에서는 고장난 메모리 부분을 여분의 행과 열 메모리로 효율적인 재배치를 위해 재배치 알고리즘을 제안하고자 한다. 재배치 정보는 고장난 메모리를 매번 테스트해야만 얻을 수 있다. 매번 테스트를 통해 재배치 정보를 얻는 것은 시간적 문제가 발생한다. 이것을 막기 위해 한번 테스트해서 얻은 재배치 정보를 플래시 메모리에 저장해 해결할 수 있다. 본 논문에서는 플래시 메모리를 이용해 재배치 정보의 활용도를 높인다.
Objective : The effect Saenggitang (GT), which has been used for amnesia, in Oriental Medicine, on memory and learning ability, was investigated. Methods : Hot water extracts (HWE) of SGT were used for the studies. In passive avoidance performances (step through test), active avoidance performances (lever press test), Motor activity, pentobarbital-induced sleep, 20 and 50 mg/100g of SGT-HWE ameliorated the memory retrieval deficit induced by 40% ethanol. Results : The SGT-HWE did not affect the ambulatory activity of normal mice in normal condition. 20 and 50 mg/100g of SGT-HWE enhanced contextual fear memory, but not cued fear memory in a fear conditioning task, which requires the activation of the NMDA (N-methyl-D-aspartase) receptor. SGT-HWE did not affect the motor activity measured by the titling type ambulometer test performed immediately and 24 hr after the administration. SGT-HWE prolonged the sleeping time induced by 50 mg/kg pentobarbital in mice and decreased SMA (spontaneous motor activity) in active avoidance performances (lever press test). Conclusion : These results indicate that the SGT-HWE have an improving effect on the memory retrieval disability induced by ethanol and may act as a stimulating factor for activating the NMDA receptor. and the SGT-HWE has a tranquilizing and anti-anxiety action.
This study was conducted to find out the effects of Woohwangchungsimwon on learning and memory in the NOS inhibitor treated rats. The Morris water maze was used in evaluating them. The result of the study was summarized as follows. 1. In the learning test, three groups have showed a gradual improvement of learning ability by repeating the trials in Morris water maze. WHCS group have showed statistical improvement than control group at 4,5,6 trial(p<0.05, p<0.01, p<0.01). 2. In the memory test, the first latency of WHCH group was statistically shortened than that of control group(p<0.05). 3. In the memory test, there was no statistical difference in the entry number between WHCH group and control. 4. In the memory test, there was no statistical difference in the memory score between WHCH group and control. The result of this experimental study presents that Woohwangchungsimwon has the improving effect on impaired learning and memory in NOS inhibitor treated rats, and implies that Woohwangchungsimwon may be one of the useful prescription for the treatment of vascular dementia after cerebral ischemia.
본 논문에서는 워드지향 메모리 내에서 셀 사이의 커플링 결함을 검출하기 위한 고갈 테스트 발생(exhaustive test generation) 문제를 연구하였다. 셀 사이의 거플링 결함 모델에 따르면 n 워드를 갖는 메모리 내에서 w-비트 메모리 내용 또는 내용의 변화는 메모리 내의 s-1 워드 내용에 따라 영향을 받는다. 이때 검사 패턴 구성을 위한 최적의 상호작용 방법을 제안 하였으며, 제안한 검사 결과의 체계적인 구조는 간단한 BIST로 구현하였다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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