• 대한전자공학회논문지SD
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• 제49권8호
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• pp.55-62
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• 2012

메모리 설계 기술과 공정 기술의 발달은 고집적 메모리의 생산을 가능하게 하였다. 전체 Systems-On-Chips(SoC)에서 내장 메모리가 차지하는 비중은 점점 증가하여 전체 트랜지스터 수의 80%~90%를 차지하고 있어, SoC에서 내장된 이중 포트 메모리에 대한 테스트 중요성이 점점 증가하고 있다. 본 논문에서는 이중 포트 메모리를 위한 다양한 테스트 알고리즘을 지원하는 새로운 micro-code 기반의 programmable memory Built-In Self-Test(PMBIST) 구조를 제안한다. 또한 제안하는 알고리즘 명령어 구조는 March 기반 알고리즘과 이중 포트 메모리 테스트 알고리즘 등의 다양한 알고리즘을 효과적으로 구현한다. PMBIST는 테스트 알고리즘을 최적화된 알고리즘 명령어를 사용하여 최소의 bit으로 구현할 수 있어 최적의 하드웨어 오버헤드를 가진다.

• 한국컴퓨터산업학회논문지
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• 제6권2호
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• pp.295-304
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• 2005

본 논문에서는 워드지향 메모리 내에서 셀 사이의 커플링 결함을 검출하기 위한 고갈 테스트 발생(exhaustive test generation) 문제를 연구하였다. 셀 사이의 거플링 결함 모델에 따르면 n 워드를 갖는 메모리 내에서 w-비트 메모리 내용 또는 내용의 변화는 메모리 내의 s-1 워드 내용에 따라 영향을 받는다. 이때 검사 패턴 구성을 위한 최적의 상호작용 방법을 제안 하였으며, 제안한 검사 결과의 체계적인 구조는 간단한 BIST로 구현하였다.

• 대한전기학회논문지:시스템및제어부문D
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• 제50권4호
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• pp.192-200
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• 2001

As the high density memory is widely used in the various applications, the need for reproduction of memory is increased. In this paper we propose an efficient fault diagnosis algorithm of linear order O(n) that enables the reproduction of memory. The new algorithm can distinguish various fault models and identify all the cells related to the faults. In addition, a new BIST architecture for fault diagnosis is developed. Using the new algorithm, fault diagnosis can be performed efficiently. And the performance evaluation with previous approaches proves the efficiency of the new algorithm.

• 전자공학회논문지
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• 제50권2호
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• pp.114-121
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• 2013

Systems-On-Chips(SoC)에서 내장 메모리가 차지하는 비중은 비약적으로 증가하여 전체 트랜지스터 수의 80%~90%를 차지하고 있어, SoC에서 내장된 메모리에 대한 테스트 중요성이 증가하고 있다. 본 논문은 다양한 테스트 알고리즘을 지원하는 IEEE 1500 래퍼 기반의 프로그램 가능한 메모리 내장 자체 테스트(PMBIST) 구조를 제안한다. 제안하는 PMBIST는 March 알고리즘 및 Walking, Galloping과 같은 non-March 알고리즘을 지원하여 높은 flexibility, programmability 및 고장 검출률을 보장한다. PMBIST는 최적화된 프로그램 명령어와 작은 프로그램 메모리에 의해 최적의 하드웨어 오버헤드를 가진다. 또한 제안된 고장 정보 처리 기술은 수리와 고장 진단을 위해 2개의 진단 방법을 효과적으로 지원하여 메모리의 수율 향상을 보장한다.

• 한국통신학회논문지
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• 제22권10호
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• pp.2123-2135
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• 1997

고집적 SRAM을 구성하고 있는 일반적인 메모리 셀을 이용하여 저항성 단락을 MOSFET의 게이트-소오스, 게이트-드레인, 소오스-드레인에 적용시키고, 각 단자에서 발생 가능한 개방 결함을 고려하여 그 영향에 따른 메모리의 자장노드의 전압과 VDD에서의 정전류를 PSPICE 프로그램으로 분석하였다. 해석 결과를 고려하여 메모리의 기능성과 신뢰성을 향상시키기 위해 기능 테스트와 IDDQ 테스트에 동시에 적용할 수 있는 O(N)의 복잡도를 갖는 테스트 알고리즘을 제안하였다. 테스트의 질과 효율을 좀 더 향상시키기 위해 메모리에서 발생되는 고장을 검출하는 BIST 회로와 정전류의 비정상적인 전류의 흐름을 발생시키는 결함을 검출하는 BICS를 설계하였다. 또한 구현한 BIST/BICS 회로는 고장 메모리의 수리를 위해 고장 및 결함의 위치를 검출할 수 있다.

• 대한전기학회논문지:시스템및제어부문D
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• 제54권6호
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• pp.403-408
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• 2005

As the increasing integrity of VLSI, the BIST(Built-In Self Test) is used as an effective method to test chips. Generally the pseudo-random test pattern generation is used for BIST. But it requires too many test patterns when there exist random This paper proposes and presents a new efficient network architecture for Reflective Memory System (RMS). A time to copy shared-data among nodes effects critically on the entire performance of the RMS. In this paper, the recent researches about the RMS are investigated and compared. The device named Topology Conversion Switch(TCS) is introduced to realize the proposed network architecture. One of the RMS based industrial control networks, Ethernet based Real-time Control Network (ERCnet), is adopted to evaluate the performance of the proposed network architecture for RMS.

• 전자공학회논문지C
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• 제36C권12호
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• pp.47-58
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• 1999

급속한 프로세서 성능 향상에 따라 메인 메모리와의 속도차이를 극복하기 위해서 캐쉬메모리의 사용이 일반화 되었다. 일반적으로 내장된 캐쉬 블록의 메모리는 그 크기가 작기 때문에 테스트 관점에서 테스트 시간보다는 고장 검출률이 중요하다. 따라서 본 논문에서는 다양한 고장 모델을 테스트할 수 있는 테스트 알고리듬과 상대적으로 적은 오버헤드를 갖는 새로운 BIST(Built-In Self Test) 구조를 제안하였다. 새로운 동시 테스트 BIST 구조에서는 캐쉬제어 블록의 비교기를 태그 메모리 결과분석기로 사용한다. 이를 위한 비교기의 선행 테스트를 위해 변형된 주사사슬을 사용하여 테스트 클록을 감소하였다. 몇 개의 경계주사 명령어를 추가하여 내부 테스트 회로들을 제어할 수 있다. 새로운 메모리 테스트 알고리듬은 12N의 복잡도를 갖고 SAFs, AFs, TFs linked with CFs, CFins, CFids, SCFs, CFdyns 및 DRFs의 고장을 테스트할 수 있으며, 새로운 BIST 구조는 합성결과 기존의 동시 테스트 방법보다 약 11%의 오버헤드 감소가 가능하였다.

• ETRI Journal
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• 제26권6호
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• pp.520-534
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• 2004

As the density of memories increases, unwanted interference between cells and the coupling noise between bit-lines become significant, requiring parallel testing. Testing high-density memories for a high degree of fault coverage requires either a relatively large number of test vectors or a significant amount of additional test circuitry. This paper proposes a new tiling method and an efficient built-in self-test (BIST) algorithm for neighborhood pattern-sensitive faults (NPSFs) and new neighborhood bit-line sensitive faults (NBLSFs). Instead of the conventional five-cell and nine-cell physical neighborhood layouts to test memory cells, a four-cell layout is utilized. This four-cell layout needs smaller test vectors, provides easier hardware implementation, and is more appropriate for both NPSFs and NBLSFs detection. A CMOS column decoder and the parallel comparator proposed by P. Mazumder are modified to implement the test procedure. Consequently, these reduce the number of transistors used for a BIST circuit. Also, we present algorithm properties such as the capability to detect stuck-at faults, transition faults, conventional pattern-sensitive faults, and neighborhood bit-line sensitive faults.

• 전자공학회논문지
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• 제51권2호
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• pp.38-45
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• 2014

본 논문에서는 메모리 컴파일러를 정확하고 빠르게 특성화할 수 있도록 기준 메모리를 기반으로 특성화하는 방법을 제안하였다. 제안한 특성화 방법은 메모리 컴파일러의 정확도를 유지하면서 특성화 시간을 최소화하기 위해 메모리 컴파일러의 타이밍 경향을 분석하고 분석 결과를 토대로 기준 메모리를 선정하고, 메모리간의 경향성을 대변할 수 있도록 모델링하였다. 본 논문에서 제안한 방법론을 검증하기 위하여 130nm에서 개발된 메모리 컴파일러를 제안한 방법을 이용하여 110nm 메모리 컴파일러를 특성화하였다. 이를 통해 생성한 메모리들의 특성과 SPICE를 사용하여 특성화한 결과를 비교하여 메모리 타이밍의 평균 오차율은 ${\pm}0.1%$ 이내였으며 실제 110nm 공정을 사용하여 제작된 메모리 BIST(Built-In Self Test) 테스트 칩으로 기능 검사한 결과, 수율(Yield)이 98.8% 임을 확인하였다. 또한, 180nm 공정을 사용하여 비교한 결과, 수율이 98.3%로 그 유용성을 확인할 수 있었다.

• 대한전자공학회:학술대회논문집
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• 대한전자공학회 1999년도 추계종합학술대회 논문집
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• pp.935-938
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• 1999

메모리 테스트는 Built-In Self Test(BIST)와 같이 메모리에 내장된 회로를 통하여 자체 점검하는 방법과 테스터를 통하여 생성된 패턴을 주입하는 방법이 있다. 테스트 패턴 생성방법으로는 각각의 고장모델에 대한 테스트 패턴을 deterministic하게 생성해주는 방법과 Pseudo Random Pattern Generator(PRPG)를 이용하여 생성하는 경우로 구분할 수 있다. 본 연구에서는 PRPG를 패턴 생성기로 사용하여 여러 가지 메모리의 결함을 대표한다고 볼 수 있는 Static 및 Dynamic Neighborhood Pattern Sensitive Fault(NPSF) 등 다양한 종류의 고장을 점검할 수 있도록 메모리 BIST를 구성하였다. 기존의 Linear Feedback Shift Register(LFSR)보다 본 연구에서 제안하는 Linear Hybrid Cellular Automata(LHCA)를 이용한 PRPG가 높고 안정된 고장 점검도를 나타내었다.