Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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2002.10a
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pp.391-395
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2002
This paper described about the ultra-precision profile measurement of aspheric surfaces using contact probing technique. A contact probe has been designed as a sensing device to obtain measuring resolutions in nanometer regime utilizing a leaf spring mechanism and a capacitive-type sensor. The contact probe is attached on the z-axis during measurement while aspheric objects are supported on the single point diamond turning machine(SPDTM). The machine xz-axis motions are monitored by a set of two orthogonal plane mirror type laser interferometers. Experimental results show that the contact probing technique developed of On-machine Measurement System in this investigation is capable of providing a repeatability of 20 nanometers with a $\pm$20 uncertainty of 300 nanometers.
Journal of electromagnetic engineering and science
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v.14
no.4
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pp.336-341
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2014
Dosimetry of radiating electromagnetic wave from mobile devices to human body has been evaluated by measuring Specific Absorption Rate (SAR). Usual SAR measurement system scans the volume by robot arm to evaluate RF power absorption to human body from wireless devices. It is possible to fast estimate the volume SAR by software deleting robot moving time with the 2D surface SAR data acquired by arrayed probes. This paper shows the principle of fast SAR measurement and the measured data comparison between the fast SAR system and the robot scanning system. Data of the fast SAR is well corresponding with data of robot scanning SAR within ${\pm}3$ dB, and its dynamic range covers from 10 mW/kg to 30 W/kg with 4.8 mm probe diameter.
This paper describes the measurement and analysis of ground impedance according to arrangement of auxiliary probe around ground grid using the fall-of-potential method and the testing techniques to minimize the measuring errors are proposed. The fall-of-potential method involves passing a current between a ground electrode and a current probe, and then measuring the voltage between a ground electrode and a potential probe. To minimize interelectrode influences due to mutual resistances, the current probe is a generally placed at a substantial distance from the ground electrode under test. In order to analyze the effects of ground impedance due to the arrangement of auxiliary probe and frequency, ground impedances were measured in case that the arrangements of auxiliary probe were straight line, perpendicular line, and horizontal line. The distance of current probe was located from 10[m] to 200[m] and the measuring frequency was ranged from 55[Hz] to 513[Hz]. As a consequence, the ground impedance increases with increasing the distance from the ground electrode to the point to be tested, but the ground impedance decreases with increasing the frequency.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1998.11a
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pp.187-190
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1998
In this paper a probe for the' measurement of dielectric properties of dielectric sheet materials is designed and implemented as a coaxial air line type. Using the broadband impedance method with this measurement probe the dielectric constant and loss tangent of the glass-epoxy and teflon are determined in the frequency range of 0.1 - l.O[GHz] with the temperature variation from $25[^{\circ}C]$ up to $65[^{\circ}C]$. A measured relative dielectric constant of the glass-epoxy is 4.42 and a loss tangents is 0.019 relatively, and the relative dielectric constants of teflon is 2.17 and a loss tangents is 0.002 relatively
Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers
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v.17
no.2
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pp.407-415
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1993
This report presents an automatic measurement method of 3-dimensional profiles of free-formed surfaces, by using a touch a touch-trigger contact probe along with a conventional coordinate measuring machine. The method proceeds in three steps; The surface profile under consideration is traced by the probe in an automatic manner, and then its measured data is compensated by considering the actual probe radius. Finally the compensated data is rearranged in the form suitable for the further processings of CAD/CAM applications. Some experimental results are discussed to verify the validity of the method suggested in this study.
Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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v.21
no.7
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pp.145-152
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2004
This paper proposed efficient manufacturing system using the OMM (on-machine measurement) system. The OMM system is software based 3D modeler for inspection on machine and it is interfaced tool machine with RS232C. The software is composed of two inspection modules that one is touch probe operating module and the other is laser displacement sensor operating module. The module for touch probe has need of inspection feature that extracted it from CAD data. Touch probe moves to workpiece by three operating modes as follows: manual, general and automatic mode. The operating module of laser displacement sensor is used inspection for profile and very small hole. An Advantage of this inspection method is to be able to execute on-line inspection during machining or after it. The efficiency of proposed system which can predict and definite the machining errors of each process is verified, so the developed system is applied to inspect the mold-base(cavity, core).
Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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1996.11a
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pp.479-484
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1996
This paper describes a method of measuring tilt motion. This method measures the tilt motion of drilling machines using a laser interferometer, a simple sliding linear bearing, measurement of the probe and the LSC(least square center) method. The next order of business is discussing the procedure of measurement. First, The measured position is considered to be the point of contact between the drill shank and the probe. The revolution of the drill axis delivers the point of contact to the probe. Second, because the laser interferometer is attached on the sliding linear bearing, any movement of probe influences laser reflector. Thus, the laser program displays the moving factor of laser reflector. Namely, this is tilt factor. Third. the points of measurement are a full circle which has 8 points (each are 45$^{\circ}$), After it is finished measuring the 8 points, let the spindle of the drilling machine move down about 5 cm. Repeating this procedure three times, we can get tilt motion's values which are calculated by LSC method. Many error factors affect the accurate measurement of tilt motion. However in this paper we ignore some error factors because they are less significant than tilt motion.
Park, Gyeong-Deok;Ji, Won-Su;Kim, Dae-Chan;Jang, Dong-Hun;O, Beom-Hwan;Park, Se-Geun;Lee, Il-Hang;Lee, Seung-Geol
Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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2008.07a
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pp.185-186
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2008
In this paper, the nano-grating was measured by Scanning Probe Microscopy (SPM) system using digital Proportion, Integration and Derivative (PID) control. Through this measurement, we could confirm the improvement of the vertical resolution compared with analog Proportion and Integration (PI) control method.
Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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1995.10a
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pp.379-383
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1995
In this paper, vision inspection module for dimensional measurement has been developed. For high accuracy of CMM, camera calibration and edge detection with subpixel accuracy have been implemented. In measurement process, the position of vision probe can be recognized in PC by serial communication with CMM controller. The developed vision inspection module can be widely applied to the practical measurement process.
This paper describes the development of on-the-machine measuring(OMM) system which can directly measure the two and three dimensional machined accuracy using a scanning probe in milling machine. Two algorithms, NC program based continuous path(CP) measurement and CAD data assisted point to point(PTP) measurement, are developed for three dimensional measurements, with consideration of the characteristics of the scanning probe. The algorithms are used to develop an auto measuring system. The delveloped system is compared with the CMM (Coordinate Measuring Machine) in terms of accuracy and repeatability. The OMM system is expected to realize measurement time reduction and hence result in high productivity.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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