I-V Measurements of large area $HgI_2$ X-ray detector produced by PIB method
(PIB법을 이용한 대면적 $HgI_2$ 검출기의 I-V 특성평가)
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- Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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- 한국전기전자재료학회 2005년도 추계학술대회 논문집 Vol.18
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- pp.254-255
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- 2005