Kim, Chung-Jin;Kang, Myung-Ku;Kim, Yong;Eom, Kyung-Sook;Min, Suk-Ki;Oh, Hwan-Sool
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics A
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v.29A
no.9
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pp.36-45
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1992
The Modified Multi-Quantum Well(MMQWAl) structures have been grown by Mental-Organic chemical Vapor Deposition(MOCVD) method and stripe type MMQW laser diodes have been investigated. In the case of GaAs/AlGaAs superlattice and quantum well growth by MOCVD, the periodicity, interface abruptess, Al compositional uniformity and layer thickness have been confirmed though the shallow angle lapping technique, double crystal x-ray diffractometry (DCXD) and photoluminescence (PL) measurement. stripe-type MMQW laser diodes have been fabricated using the process technology of photolithography, chemical etching, ohmic contact, back side removing and cleaving. As the result of the electrical and opticalmeasurement of these laser diodes, we have achieved the series resistance of $1[\Omega}~2{\Omega}$ by current-voltage measurements, the threshold current of 200-300mA by currnt-light measurements and the lasing wavelength of 8000-8400$\AA$ by lasing spectrum measurements.
Kim, Gwang-Cheon;Im, Ju-Hyeok;Yu, Hyeon-U;Jeong, Gyu-Ho;Kim, Hyeon-Jae;Kim, Jin-Sang
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2009.11a
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pp.275-275
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2009
CdTe(331)/Si(211) and CdTe(400)/Si(100) thin films have been grown by MOCVD(metal organic chemical vapor deposition) system for large scale of IFPAs(IR focal plane arrays). We have investigated the effect of various growth parameters on the surface morphology and structural quality. Single crystalline CdTe(331) films were grown by two stage growth method - low temperature buffer layer step and high temperature growth step. In other case, single crystal of CdTe(400) films were grown on a few atomic layer thickness of GaAs which is grown on Si(100) substrate by molecular beam epitaxy. The crystalline quality of the films was analyzed by X-ray diffraction. The surface morphology and crystal structure of CdTe films were characterized by optical microscope.
유기 화학 기상 증착법(MOCVD)을 이용하여 반응기체 $O_2$의 양 및 Y와 Mn의 운반기체 비(Y/Mn)를 변화시켜가며 Si(100) 기판 위에서 MFSFET(metal-ferroelectric-semiconductor field effect transistor) 구조의 YMnO$_3$박막을 증착하였다. 반응기체 $O_2$의 양이 150sccm일 때 Y/Mn=2와 3인 경우 단일상의 육방정계 YMnO$_3$박막이 형성되었다. YMnO$_3$박막의 전기적 특성은 사방정계 YMnO$_3$박막에서는 나타나지 않았으나, 육방정계 YMnO$_3$박막의 경우 결정립 크기에 영향을 받아 단일상의 육방정계 YMnO$_3$박막 중 결정립 크기가 150nm~200nm(Y/Mn=2)인 경우에는 잔류분극이 100nC/$ extrm{cm}^2$인 P-E 이력곡선의 특성을 나타내었다.
Proceedings of the Korea Institute of Applied Superconductivity and Cryogenics Conference
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2003.10a
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pp.83-86
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2003
YBa$_2$Cu$_3$$O_{7-x}$ thin films for coated conductor application were deposited on a MgO single crystalline substrate by a metal organic chemical vapor deposition (MOCVD) system of a vertical type using a single liquid source. The film uniformity was enhanced by controlling the gas shower head structure, the distance between the shower head and substrate, and the rotation of the substrate. The source mole ratio of Y(thd)$_3$: Ba(thd)$_2$: Cu(thd)$_2$ was changed for obtaining stoichiometric film. The phase formation, crystal orientation, surface morphology and film composition were investigated with different source mole ratios, and the critical temperature (T$_{c}$) was measured.red.
Proceedings of the Korea Institute of Applied Superconductivity and Cryogenics Conference
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2003.10a
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pp.79-82
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2003
We prepared YBCO coated conductor by direct deposition of YBCO on Ag substrate by a MOCVD method. The Ag substrate was only prepared by cold rolling. The XRD data of the as-rolled Ag tape showed the formation of dominant (420) oriented grains. Processing variables were the oxygen partial pressure (Po$_2$) and deposition temperature (T$_{d}$). It was found that the a-axis oriented films were grown at lower T$_{d}$ below 80$0^{\circ}C$, while the c-axis oriented films were grown about 80$0^{\circ}C$. The surface of the films consisted of a second inclusion phase dispersed in the YBCO matrix. The Cu-rich phase regions were observed at the YBCO/Ag interface probably due to the inter-diffusion of Ag and Cu. Cu.
Proceedings of the International Microelectronics And Packaging Society Conference
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2002.05a
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pp.198-202
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2002
$HfO_2$films were grown on Si substrate in the temperature range $250~550^{\circ}C$ using metal organic chemical vapor deposition (MOCVD) technique for a gate dielectric. Hafnium tart-butoxide and Oxygen gas were used as precursors and N2 was used as carrier gas. Impurity distribution and film structure(including interfacial layer) were studied at the deposition temperature range between 25$0^{\circ}C$ and $550^{\circ}C$. The growth rate and impurty distribution decreased with increasing temperature. The electrical properties of $HfO_2$were investigated with C-V, 1-V method and showed it has a good properties as a gate dielectric.
Distributed optical feedback by gain coupling in V-groove quantum-wire lasers is investigated using InGaAs/AlGaAs active materials grown by metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD). In order to avoid grating overgrowth during the fabrication of DFB structures, a newly developed constant MOCVD growth method is employed. Gain anisotropy in emission spectra near Bragg wavelength, resulting from optical feedback along the DFB direction, is clearly observed at room temperature.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.6
no.3
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pp.309-317
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1996
Al2O3 thin films were deposited on Si-wafer (100) using organo-aluminum compounds at low pressure by chemical vapor deposition (CVD) method. The vapor of the organo-metallic precursor was carried by pure N2 gas. The deposition rate increased and then saturated as Tsub increased with increasing the AIP flow rate. The main contamination didn't found in deposited films except carbon. The H-O(H2O) IR absorption band decreased in intensity as the deposition temperature increased, and completely disappeared through annealing.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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