• 전자공학회논문지A
• /
• 제33A권2호
• /
• pp.173-183
• /
• 1996

In this paper, a new structure that can do fault detection and location of digial logic circuits more efficiently using current testing techniques is proposed. In the conventional method, observation point for steady state power supply current was only one, but in the proposed method more fault classes are divided for fault detection and location through the ovservation of steady state power supply current at two points. Also, it is shown that this structure can be easily applied in detection of stuck-open fault which is not easy to do testing with conventional current testing techniques. In the presented mehtod, an extra trasnistor is used, and current path is made compulsorily in the CMOS circuits in which no current path can be established in steady state, then it can be known that stuck-open tault is in the MOS transistor on the considering current path, if this path disappears due to stuck-open fault. The validity and the effectiveness is shwon, thorugh the SPICE simulation of circuits with fault and the current path search experiment using current path search program based on transistor short model wirtten in C language on SUN sparc workstation.

• 전자공학회논문지B
• /
• 제30B권5호
• /
• pp.82-89
• /
• 1993

In this paper, we proposed the autonomous algorithm of pseudo-exhaustive testing for the multi-level combinational logic circuits. For the processing of shared-circuit that existed in each cone-circuit when it backtracked the path from PO to PI of CUT at the conventional verification testing, the dependent relation of PI-P0 is presented by a dependence matrix so it easily partitioned the sub-circuits for the pseudo-exhaustive testing. The test pattern of sub-circuit's C-inputs is generated using a binary counter and the test pattern of I-inputs is synthesized using a singular cover and consistency operation. Thus, according to the test patterns presented with the recipe cube, the number of test pattrens are reduced and it is possible to test concurrently each other subcircuits. The proposed algorithm treated CUT's net-list to the source file and was batch processed from the sub-circuit partitioning to the test pattern generation. It is shown that the range of reduced ration of generated pseudo-exhaustive test pattern exhibits from 85.4% to 95.8% when the average PI-dependency of ISACS bench mark circuits is 69.4%.

• 전자공학회논문지B
• /
• 제33B권1호
• /
• pp.195-200
• /
• 1996

본 논문에서는 임의의 고조파를 선택적으로 제거하고자 할 때 실시간으로 제어가 가능한 PWM 인버터를 구현하였다. 직교함수인 왈쉬함수의 이론을 토대로하여 고조파를 선택적으로 제거할 수 있는 점호각 계산 방법을 채택하였다. 또한 점호각을 실시간으로 계산하여 단상 및 3상 인버터 회로에 적용할 수 있는 논리회로를 설계하였다. 설계된 논리회로의 출력파형을 입력으로 하는 시뮬레이션 회로를 이용하여 구현한 PWM 인버터의 정상상태 특성동작을 확인하였다.

• 전자공학회논문지C
• /
• 제34C권2호
• /
• pp.1-11
• /
• 1997

We developed a base station modulator ASIC for CDMA digital cellular system. In CDMA digital cellular system, the modulation is performed by convolutional encoding and QPSK with spread spectrum. The function blocks of base station modulator are CRC, convolutional encoder, interleaver pseudo-moise scrambler, power control bit puncturing, walsh cover, QPSK, gain controller, combiner and multiplexer. Each function block was designed by the logic synthesis of VHDL codes. The VHDL code was described at register transfer level and the size of code is about 8,000 lines. The circuit simulation and logic simulation were performed by COMPASS tools. The chip (ES-C2212B CMB) contains 25,205 gates and 3 Kbit SRAM, and its chip size is 5.25 mm * 5,45 mm in 0.8 mm CMOS cell-based design technology. It is packaged in 68 pin PLCC and the power dissipation at 10MHz is 300 mW at 5V. The ASIC has been fully tested and successfully working on the CDMA base station system.

• 대한전기학회논문지
• /
• 제32권1호
• /
• pp.13-23
• /
• 1983

This paper deals with the three-level PLA constructed by EXCLUSIVE-OR, AND, and OR. (abbreviated as EXANOR). Most PLA circuits have constraints on minimum chip area and minimal input lines. Thus, the reduction of PLA chip area is an important factor in design of logic circuits. In this paper, newly constructed architecture of PLA is proposed and then, its reduction effect is proved theoretically and some of selected examples are illustrated for designing three-level PLA circuits.

• 반도체디스플레이기술학회지
• /
• 제2권4호
• /
• pp.1-7
• /
• 2003

In this paper, we design the pattern generator circuits using PLDs(Programmable Logic Devices). The pattern generator is the circuit which generates the test pattern signal for the inspection of logical defects of semiconductor products. The proposed circuits are designed by the PLD design tool(MAX+ II of ALTERA). Also the designed circuits are simulated for the verification of the designed ones. The simulation results have a good performance.

• 전자공학회논문지B
• /
• 제29B권9호
• /
• pp.1-7
• /
• 1992

This paper proposes a built-in self-test tchnique for CMOS circuits. To detect a stuck-open fault in CMOS circuits, two consequent test patterns is required. The ordered pairs of test patterns for stuck-open faults are generated by feedback shift registers of extended length. A nonlinear feedback shift register is designed by the merging method and reordering algorithms of test patterns proposed in this paper. And a new multifunctional BILBO (Built-In Logic Block Observer) is designed to perform both test pattern generation and signature analysis efficiently.

• 전기전자학회논문지
• /
• 제8권1호
• /
• pp.47-53
• /
• 2004

본 논문에서는 3치 논리 게이트를 바탕으로 하는 3치 데이터 처리를 위한 3치 flip-flop을 설계하였다. 제안한 flip-flop들은 3치 전압 모드 NMAX, NMIN, INVERTER 게이트를 사용하여 설계하였다. 또한 CMOS 기술을 사용하였고 다른 게이트들 보다 낮은 공급 전압과 낮은 전력소모 특성을 포함하고 있다. 제안한 회로는 0.35um 표준 CMOS 공정에서 설계되었고 3.3v의 공급 전압원을 사용하였다. 제안된 3치 flip-flop 구조는 3치 논리 게이트를 사용하여 VLSI 구현에 적합하고 높은 모듈성의 장점을 갖고 있다.

• 대한전자공학회논문지SD
• /
• 제48권3호
• /
• pp.1-6
• /
• 2011

N-channel 산화물 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor, 이하 TFT)만을 이용한 저소비전력 inverter, NAND, NOR의 논리 게이트 회로를 제안한다. 제안된 회로는 asymmetric feed-through와 bootstrapping을 이용해서 pull-up, pull-down 스위치가 동시에 켜지지 않도록 설계하였다. 그 결과로 출력신호 전압 범위가 입력신호 전압과 동일하고 정전류가 흐르지 않는다. 인버터는 5 개의 TFT와 2 개의 capacitor로, NAND 및 NOR 게이트는 각각 10 개의 TFT와 4 개의 capacitor로 구성된다. 산화물 TFT 모델을 사용하여 SPICE 시뮬레이션을 수행하여 제안된 회로의 동작을 성공적으로 검증하였다.

• 한국통신학회논문지
• /
• 제28권11A호
• /
• pp.936-944
• /
• 2003

본 논문에서는 FPGA (Field Programmable Gate Array)에 사용될 수 있는 AND/XOR기반의 기술적인 매핑 기법이 제안되었다. FPGA에서는 프로그램 블록들의 숫자가 정해져 있기 때문에 적절한 수의 입력을 가진 블록으로 회로를 나눌 수 있으면 효과적인 구현이 가능하다. Davio Expansion에 기반한 제안된 기법은 Davio Expansion 자체가 AND/XOR의 성질을 가지고 있기 때문에 XOR를 많이 포함하고 있는 에러 검출/수정, 데이터 암호/해독, 산술 회로 등을 구현하기 매우 용이하다. 본 논문에서는 제안된 기법을 이용할 때 구현되는 면적뿐만 아니라 속도도 현저히 저하될 수 있음을 MCNC 벤치마크를 이용하여 증명하였다. 면적이 줄어듦을 보이기 위하여 CLB (Configurable Logic Block) 숫자와 총 게이트 숫자가 이용되었다. CLB 숫자는 67.6 % (속도로 최적화 된 결과)와 57.7 % (면적으로 최적화 된 결과) 만큼 감소되었고 총 게이트 숫자는 65.5 %만금 감소되었다. 속도관련 결과를 확인하기 위해 사용된 최대 Path Delay는 현재 사용되고 있는 방법들에 비해 56.7 %만큼 감소되었고 최대 Net Delay는 80.5% 만큼 감소되었다.