한국표면공학회 2011년도 춘계학술대회 및 Fine pattern PCB 표면 처리 기술 워크샵
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pp.184-185
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2011
In this study, in order to obtain a high reflectivity for the LED lead frame, tin dip coating and tin plating were conducted respectively, and wettability of LED lead frame with tin solder also was tested by wetting balance tester. A Cu sheet was plated in Cu brighten electroplating bath and followed by immersion in a Sn electro-less plating bath [1]. On the other hand, in the dip coating process, a Cu sheet was dipped into molten tin. In the progress of wetting test, besides wetting balance curve, the maximum measured force($F_m$), the maximum withdrawal force($F_w$) and zero-cross time($t_0$) were obtained in various temperatures. With the maximum withdrawal force, the surface tension was calculated at different temperatures. The Cu sheet plated with bright Cu and Sn show a silver bright property while that of Cu dipped with Sn possessed a high reflectance density of 1.34GAM at $270^{\circ}C$.
Recently, the demand for Zn-Ni electrogalvanized steel sheets for home appliances and automobiles is increasing. Products should have a thick plating (30 to 40 g/m2) on both side with a thin thickness (≤ 0.8 mm) and the highest surface quality. By a high current density operation, current is concentrated in the edge part of the steel sheet, resulting in large surface dent defects due to dendritic plating. This can lead to a low productivity due to low line speed operation. To solve this problem, this study aimed to identify factors influencing dendritic plating. A cylindrical electroplating device was manufactured. Effects of cut edge shape and thickness of steel plate, current density, temperature, flow rate, electrolyte concentration, and pH on dendrite generation of Zn-Ni electroplating were examined. To investigate effect of edge shape of the steel sheet, the steel sheet was manufactured using three processing methods: shearing, polishing after shearing, and laser. Relative effects thickness and cut edge processing methods of the steel plate, current density, temperature, flow rate, electrolyte concentration, and pH of plating solution on dendrite plating were investigated. To prevent dendrite plating, an edge mask was manufactured and its application effect was investigated.
한국광학회 1990년도 제5회 파동 및 레이저 학술발표회 5th Conference on Waves and lasers 논문집 - 한국광학회
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pp.69-72
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1990
For the effective heat transfering in Lser Diodes, Beam-Lead structure were introduced which is applicable to hybrid Optoelectronic Integrated Circuits. A 5-layer planar structure Laser Diode is fabricated and Beam-Lead is made by Au plating. And carrier was made by etching Si substrate and LD was mounted on a carrier. The thermal resistance was measured and we could certain that Beam-Lead structure behaves well as a heat sink.
Lead is an environmental toxicant that causes a marked deficit in cognative development in infants and children. Damage to the hippocampus has been linked to the lead-induced deficit in the learning process. The present study examined the effects of lead on the development of hippocampal neurons in vitro. Hippocampal neurons were incubated with various concentrations in lead acetate (1nM to 30 nM) for 72 hrs from 4 h after plating, and the percentage of living neurons bearing neurites, neurite outgrowth and migration of multipolar neurons in culture were determined.
In chip plating, several parameters must be taken into consideration. Current density, solution concentration, pH, solution temperature, components volume, chip and media ratio, barrel geometrical shape were most likely found to have an effect to the process yields. The 3 types of barrels utilized in chip plating industry are the onventional rotating barrel, vibrational barrel(vibarrel), and the centrifugal type. Conventional rotating barrel is a close type and is commonly used. The components inside the barrel are circulated by the barrel's rotation at a horizontal axis. Process yield has known to have higher thickness deviation. The vibrational barrel is an open type which offers a wide exposure to electrolyte resulting to a stable thickness deviation. It rotates in a vertical axis coupled with multi-vibration action to facilitate mixed up and easy transportation of components. The centrifugal barrel has its plated work centrifugally compacted against the cathode ring for superior electrical contact with simultaneous rotary motion. This experiment has determined the effect of barrel vibration intensity to the plating thickness distribution. The procedures carried out in the experiment involved the overall plating process., cleaning, rinse, Nickel plating, Tin-Lead plating. Plating time was adjusted to meet the required specification. All other parameters were maintained constant. Two trials were performed to confirm the consistency of the result. The thickness data of the experiment conducted showed thatbthe average mean value obtained from higher vibrational intensity is nearer to the standard mean. The distribution curve shown has a narrower specification limits and it has a reduced variation around the target value. Generally, intensity control in vi-barrel facilitates mixed up and easy transportation of components. However, it is desirable to maintain an optimum vibration intensity to prevent solution intrusion into the chips' internal electrode. A cathodic reaction can occur in the interface of the external and internal electrode. 2H20 + e $\rightarrow$M/TEX> 20H + H2.. Hydrogen can penetrate into the body and create pressure which can cause cracks. At high intensity, the chip's motion becomes stronger, its contact between each other is delayed and so plating action is being controlled. However, the strong impact created by its collision can damage the external electrode's structure there by resulting to bad plating condition.
Sn whiskers are one of the serious causes of the failure of electronics. Sn whiskers grow spontaneously from Sn-based, lead-free finished surfaces, even at room temperature. A primary factor of these Sn whiskers growth is compressive stress, which enhances the diffusion of Sn or other elements. The sources of compressive stress are the growth of non-uniform large intermetallic compounds along the interface between the Sn grain boundary and Cu substrate. Recent studies revealed the methods for reducing Sn whisker growth. This paper gives an overview about recent researches for mitigation methods of Sn whisker growth during nearly room temperature storage.
Sn-8Zn-3Bi 무연 솔더 페이스트의 접합부신뢰성 및 적합성을 평가하기 위해 유(SnPb) 무연(Sn, SnBi)도금된 Cu 리드프레임 QFP(Quad Flat Packager)를 사용하여 열충격 조건 하에서의 인장 강도의 변화 및 파괴 기구에 대한 분석을 실시하였다. 리드 도금의 종류에 상관없이 모든 시험 시편에서 열충격 사이클 수의 증가에 비례하여 접합부의 취성 특성이 강화되어 인장 강도가 감소하는 것을 확인하였다. 하지만, 접합부에는 열팽창 계수의 차이에 의해 야기될 수 있는 미세 균열은 발견되지 않았다. 단면 관찰 및 변위 이력 곡선 분석을 통하여 열충격 사이클 수의 증가에 따른 인강 강도의 감소는 접합부의 파괴 기구의 변화에 기인되었음을 확인하였다. 본 실험을 통해 Sn-3Zn-3Bi 솔더의 유 무연 도금 Cu 리드프레임과의 우수한 작업 특성과 열충격 환경 하에서도 우수한 기계적 접합 특성을 유지하는 것을 확인할 수 있었다.
In this paper, we proposed the optimal process conditions on the electro-gilding process. The responses are plating thickness and Sn proportion. The factors are temperature, current density, and addition. We minimized the total number of experiments based on the principle of dividing into small part. We grouped the factors using the plating process information which we already knew. We did Hull Cell test to find relationship between plating solution and electric effects, and applied ANOVA and RSM to estimate the optimal process conditions.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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