Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SC
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v.43
no.6
s.312
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pp.33-39
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2006
Trichromatic LED backlight renders higher colour gamut and panel transmittance to the LCDs than the phosphor-converted white LED backlight. In realization, however, several technical challenges arise, such as colour shift, due to the ambient temperature change, brightness decrease along with the temperature increase, colour mixing, minimizing the total number of chips and so on. In this paper we designed and tested the low cost temperature compensating circuit, using a thermistor as a temperature compensating element, for stabilizing the brightness and maintaining the colour coordinates of the trichromatic backlight units. By applying the temperature compensating circuit, the decrement rate of the brightness and colour shift rate were achieved by 54% and 51% respectively comparing with uncompensated case.
The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers C
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v.48
no.1
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pp.1-11
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1999
Hyrdogenated amorphous silicon thin film transistors are used as a pixel switching device of TFT-LCDs and very active research works on a-Si:H TFTs are in progress. Further development of the technology based on a-Si:H TFTs depends on the increased understanding of the device physics and the ability to accurately simulate the characteristics of them. A two-dimensional device simulator based on the realistic and flexible physical models can guide the device designs and their optimizations. A non-uniform finite-difference TFT Simulation Program, TFT2DS has been developed to solve the electronic transport equations for a-Si:H TFTs. In TFT2DS, many of the simplifying assumptions are removed. The developed simulator was used to calculate the transfer and output characteristics of a-Si:H TFTs. The measured data were compared with the simulated ones for verifying the validity of TFT2DS. Also the transient behaviors of a-Si:H TFTs were calculated even if the values of the related parameters are not accurately specified.
Thin-film transistor (TFT) arrays for an x-ray detector require quite different design concept from that of the conventional active-matrix liquid crystal devices (AM-LCDs). In this paper anew design of TFT array which uses only SiNx for passivation layer is described to meet the detector performance and the product availability simultaneously. For the purpose of optimizing the design parameters of the TFT array, a Spice simulation was performed. As a result, some parameters, such as the TFT width, the data line capacitance, and the storage capacitance, were able to be fixed. The other parameters were decided within a permissible range of the TFT process especially the photolithography process and the wet etch process. Then we adapted the TFT array which had been produced by the proposed design to our prototype model (FDXD-1417 and evaluated it clinically by comparing with a commercial model (EPEX, Hologic, Beford, USA). The results say that our prototype model is slightly better than EPEX system in chest PA images. So we can prove the technical usefulness and the commercial values of the proposed TFT design.
Indium tin oxide (ITO) provides high electrical conductivity and transparency in the visible and near IR (infrared) wavelengths. Thus, it is widely used as a transparent electrode for the fabrication of liquid crystal displays (LCDs) and organic light emitting diode displays (OLRDs), photovoltaic devices, and other optical applications. Lasers have been used for removing coating on polymer substrate for flexible display and electronic industry. In selective removal of ITO layer, laser wavelength, pulse energy, scan speed, and the repetition rate of pulses determine conditions, which are efficient for removal of ITO coating without affecting properties of the polymer substrate. ITO coating removal with a laser is more environmentally friendly than other conventional etching methods. In this paper, pattering of ITO film from polymer substrates is described. The Yb:KGW femtosecond laser processing system with a pulse duration of 250fs, a wavelength of 1030nm and a repetition rate of 100kHz was used for removing ITO coating in air. We can remove the ITO coating using a scanner system with various pulse energies and scan speeds. We observed that the amount of debris is minimal through an optical and a confocal microscope, and femtosecond laser pulses with 1030nm wavelength are effective to remove ITO coating without the polymer substrate ablation.
We designed 10bit source driver LSI, then the high color depth and the low power consumption are realized thru it. It is adopted mini-LVDS receiver with high speed data transmission and good data recovery performance, Hybrid type DAC to reduce decoder size and OP-AMP with low power consumption and high slew rate. In addition we show our results of the 10-bit gray scale TFT-LCD source driver for 42inch diagonal size and WXGA resolution TFT-LCD TV applications.
In this paper, we propose an in-plane switching (IPS) mode for liquid crystal displays (LCDs) that, in principle, is free of retardation of the LC cell. Basically, the optical configuration of the LC cell consists of an A-plate and an LC layer for switching between the dark and bright states. We could achieve a fast response time compared with the conventional in-plane LC cell because the free retardation condition of the proposed LC cell enables us to reduce the cell gap even by quarter-wave retardation without any change of the optimized LC material in the transmissive mode. Experiments for verification of the proposed in-plane switching LC cells have shown a significant reduction of the rising time and falling time simultaneously due to the small cell gap. Furthermore, we also proposed an optical configuration for wide viewing property of the retardation free IPS LCD by applying the optical films. We proved the wide-view property of the retardation free IPS LCD by comparing its optical luminance with the calculated optical property of the conventional IPS LCD.
Kim, Han-Sol;Lee, Kyung-Jun;Jung, Dong-Yean;Lee, Yeon-Hyeong;Park, Jea-Hyun;Kim, Gab-Soon
Journal of Institute of Control, Robotics and Systems
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v.21
no.8
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pp.794-800
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2015
This paper describes the design for a defective product inspection device for the curved glass used in smart-phone. Cameras are used as inspection devices to find cracks in LCDs (Liquid Crystal Displays), PDPs (Plasma Display Panels), etc. The devices used to inspect the curved glass used in smart-phone consist of a camera, two back-light apparatus, an inspection apparatus main body, and an image processing program. Camera image calibration was performed to smooth an image taken with the camera, and as a result, the average error was less than 0.12 pixels. And the image of a smart-phone's curved glass taken with the camera was processed using the produced program. As a result, the program could correctly extract the cracks on the curved glass. Thus, it is thought that the designed inspection device can successful detect cracks in curved tempered glass.
This paper investigates the characteristics of a newly developed high density hollow cathode plasma(HCP) system and its application for the etching of silicon wafers. We used $SF_6$ and $O_2$ gases in the HCP dry etch process. This paper demonstrates very high plasma density of $2{\times}10^{12}cm^{-3}$ at a discharge current of 20 rna, Silicon etch rate of 1.3 ${\mu}m$/min was achieved with $SF_6/O_2$ plasma conditions of total gas pressure of 50 mTorr, gas flow rate of 40 seem, and RF power of200W. This paper presents surface etching characteristics on a crystalline silicon wafer and large area cast type multicrystlline silicon wafer. We obtained field emitter tips size of less than 0.1 ${\mu}m$ without any photomask step as well as with a conventional photolithography. Our experimental results can be applied to various display systems such as thin film growth and etching for TFT-LCDs, emitter tip formations for FEDs, and bright plasma discharge for PDP applications. In this research, we studied silicon etching properties by using the hollow cathode plasma system.
Jeon, Hwa Jun;Lim, Gyo Sung;Na, Dae Gil;Kwon, Jin Hyuk
Korean Journal of Optics and Photonics
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v.24
no.5
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pp.256-261
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2013
Power conversion efficiency of the red and green phosphors was measured and analyzed. Two different samples of phosphors of thickness 50 ${\mu}m$ were prepared: one was the phosphor layer coated on the transparent substrate and the other was prepared on the reflective substrate. The 445 nm blue laser diode beam was used as the exciting beam. The conversion efficiencies of the red and green phosphor layers were 41.4% and 46%, respectively. The quantum efficiencies of the red and green phosphors were 60.4% and 53.5%, respectively.
We have developed the Scan-backlight Stereoscopic LCD that is a kind of field-sequential -Stereoscopic LCD combining the Dual- Directional- Backlight and the fast-response OCB panel. The Dual-Directional-Backlight using a double-sided prism sheet can change the direction of light by switching the LED light sources. The OCB panel using Feed-Forward Drive can realize frame rate of 120 Hz. As a result, the Scan-backlight Stereoscopic display works at its original resolving power, and produces flicker-free stereoscopic images. This auto- stereoscopic display can resolved the problems of the double images and the pseudoscopic images in case of watching at oblique angles.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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