SONOSFET EEPROM웨 열화에 따른 Si-SiO$_2$ 계면특성 조사
(Investigation on Si-SiO$_2$ Interface Characteristics with the Degradation in SONOSFET EEPROM)
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- 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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- 한국전기전자재료학회 1994년도 춘계학술대회 논문집
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- pp.116-119
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- 1994