The Transactions of The Korean Institute of Electrical Engineers
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v.58
no.6
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pp.1110-1115
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2009
We studied on the design of electrical parameters for ICP(Inductively Coupled Plasma) light sources which can be effective to improve the electrical power efficiency of it. These parameters were derivated from Barkhausen theory about the oscillating condition of a ballaster. The relationships of $f-I_p$ and f-n were calculated theoretically and then these relationships were compared with the measured results about $I_p$ and power depending to a discharge length(l) of ICP light source. Finally, we can see that a specific range of induced current depending to a discharge length would be necessary to minimize the change of magnetization inductance and driving frequency at driving.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.15
no.8
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pp.713-719
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2002
In this study, the vertically well-aligned CNTs were synthesized by DC bias-assisted inductively coupled plasma hot-filament chemical vapor deposition (ICPHFCVD) using radio-frequence plasma of high density and that CNTs were vertically grown on Ni(300 )/Cr(200 )-deposited glass substrates at 58$0^{\circ}C$. This system(ICPHFCVD) added to tungsten filament in order to get thermal decompound and DC bias in order to vertically grow to general Inductively Coupled Plasma CVD. The grown CNTs by ICPHFCVD were developed to higher graphitization and fewer field emission properties than those by general ICPCVD. In this system, DC bias was effect of vortical alignment to growing CNTs. The measured turn-on fields of field emission property by general ICPCVD and DC bias-assisted ICPHFCVD were 5 V/${\mu}{\textrm}{m}$ and 3 V/${\mu}{\textrm}{m}$, respectively.
This paper presents two dimensional simulation results of an inductively coupled $Ar/O_2$ plasma reactor. The effects of operating conditions on the plasma properties and the uniformity of atomic oxygen near the wafer were systematically investigated. The plasma density had the linear dependence on the chamber pressure, the flow rate of the feed gas and the power deposited into the plasma. On the other hand, the electron temperature decreased almost linearly with the chamber pressure and the flow rate of the feed gas. The power deposited into the plasma nearly unaffected the electron temperature. The simulation results showed that the uniformity of atomic oxygen near the wafer could be improved by lowering the chamber pressure and/or the flow rate of the feed gas. However, the power deposited into the plasma had an adverse effect on the uniformity.
The trace elements in animal feed were analyzed by Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer (ICP-MS, VG-PlasmaQuad Co.) to find possible sources of heavy metals accumulation in rat organ. The study about spectral interference was performed by analysis of a background spectrum of ICP-MS. Recovery test using standard of Cd and Se (100 ppb) was found to be better than 90%. Twenty elements (Ca, Fe, Mg, Ti, Cr, Ni, Cu, Zn, Ba, Al, Mn, Pb, B, Ce, Bi, U, V, Cd, and W)are determined.
Ultra hard TiN coatings were fabricated by DC and ICP (inductively coupled plasma) magnetron sputtering techniques. The effects of ICP power, ranging from 0 to 300 W, on the coating microstructure, crystallographic, and mechanical properties were systematically investigated with FE-SEM, AFM, HR-XRD and nanoindentation. The results show that ICP power has a significant influence on the coating microstructure and mechanical properties of TiN coatings. With an increasing ICP power, the film microstructure evolves from an apparent columnar structure to a highly dense one. Grain sizes of TiN coatings decreased from 12.6 nm to 8.7 nm with an increase of the ICP power. A maximum nanohardness of 67.6 GPa was obtained for the coatings deposited at an ICP power of 300 W. The crystal structure and preferred orientation in the TiN coatings also varied with the ICP power, exerting an effective influence on film nanohardness.
The impedance characteristics and plasma parameters were experimentally studied in a weakly magnetized planar type, inductively coupled plasma (ICP) system. Compared with non-magnetized for system higher power transfer efficiency, stable impedance matching, enhancement of plasma density and higher electron temperature can be obtained. Such improvements are mainly due to the excitation of deeply penetrating electromagnetic wave and reduction of radial loss of electrons. In particulary, $SF_6$ (sulfur hexafluride) plasma shows unstable impedance matching in non-magnetized ICP because electronegativity of $SF_6$ effects on plasma characteristics. But, magnetized inductively coupled $SF_6$ plasma shows enough impedance matching stability to be applicable to the polysilicon etching in semiconductor process.
A real-time monitoring of immersed antenna type inductively coupled plasma (ICP) was done with a homemade 2 dimensional voltage probe array to check the uniformity of the plasma. Measured voltage values with a high impedance voltmeter are close to the floating potential of the plasma. As the substrate carrier was moving into a magnetron sputtering plasma diffusive from a $125mm{\times}625mm$ size cathode, measured results showed reliably separation of plasma into the upper and lower empty space over the carrier. Infra red thermal imaging camera was used to observe the cross corner effect in situ without eroding a target to the end of the usage. 3 dimensional particle trace model was used to analyze the magnetron discharge's behavior.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2012.02a
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pp.492-492
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2012
RF biased inductively coupled plasma (ICP) has been widely used in various semiconductor etching processes and laboratory plasma researches. However, almost researches for the RF bias have been focused on the controls of dc self-bias voltages, even though the RF bias can change plasma parameters, such as electron temperature, plasma density, electron energy distribution (EED), and their spatial distributions. In this study, we report on the effect of the RF bias on the plasma parameters and the EEDs with various external parameters, such the RF bias power, the ICP power, the gas pressure, the gas mixture, and the frequency of RF bias. Our study shows the correlation between the RF bias and the plasma parameters and gives a crucial key for the understanding of collisionless electron heating mechanism in the RF biased ICP.
Superhard TiN coatings were fabricated by DC and ICP (inductively coupled plasma) assisted magnetron sputtering techniques. The effect of ICP power, ranging from 0 to 300 W, on coating microstructure, preferred orientation mechanical properties were systematically investigated with HR-XRD, SEM, AFM and nanoindentation. The results show that ICP power has a significant influence on coating microstructure and mechanical properties of TiN coatings. With the increasing of ICP power, coating microstructure evolves from the columnar structure of DC process to a highly dense one. Grain sizes of TiN coatings were decreased from 12.6 nm to 8.7 nm with increase of ICP power. The maximum nanohardness of 67.6 GPa was obtained for the coatings deposited at ICP power of 300 W. Preferred orientation in TiN coatings also vary with ICP power, exerting an effective influence on film nanohardness.
The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers C
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v.53
no.1
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pp.20-23
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2004
In this paper, the emission properties of electrodeless fluorescent lamp were discussed using the inductively coupled plasma. To transmit the electromagnetic energy into the chamber, a RF power of 13.56 [MHz] was applied to the antenna and considering the Ar gas pressure and the RF electric power change, the emission spectrum, Ar I line, luminance were investigated. At this time, the input parameter for ICP RF plasma, Ar gas pressure and RF power were applied in the range of 10∼60 [mTorr], 10∼300 [W], respectively. From emission intensity and lumnance intensity results, the mode transition from E-mode to H-mode was observed. This implies that this method can be used to find an optimal RF power for efficient light illumination in an electrodeless fluorescent lamp.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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