Newborn period is a transitional stage for independent adaptation from intrauterine to extrauterine life by maintaining respiration, temperature and nutrition. In general, the adaptability of the newborn is proportional to the gestational age(GA), so knowing the accurate GA is critical to develop nursing process in the newborn nursery. A newborn ma turity rating, a Ballard examination, has been used to measure GA by assessing the maturity of new-born. It consists a total of 12 items, which is the 6 items for the neuromuscular maturity and the 6 items for the physical maturity A total of 75 new-born were assessed for the maturity and GA using the Ballard examination. The results are follows : 1) The score of each item of Ballard examination is propotional to GA using the Ballard examination as well as LMP. 2) There was a greater positive relationship between neuromuscular, physical and total maturity, and the GA measured by Ballard examination, than the GA measured by LMP. 3) Any stressful environment to the newborn could influence to the maturity of newborn. In summary, the study showed the Ballard examination Is more reliable and clincially feasible method to measure the accurate G4 compared to the GA by LMP. Therefore, it suggests the application of Ballard examination to measure the new born maturity and GA is beneficial in developing nursing process. The expansion of the study with the variety of the subject characteristics nil on hance the clinical applicability of the examination.
Hyungmin Kim;Sangbin Park;Kyunghwan Kim;Jeongsoo Hong
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.36
no.5
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pp.488-493
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2023
The effect of sputtering power on the amorphous Ga2O3 thin film deposited using the radio frequency sputtering system was evaluated. Amorphous Ga2O3 is cheaper and more efficiently fabricated than crystalline Ga2O3, and is studied in various fields such as RRAM, photodetector, and flexible devices. In this study, amorphous Ga2O3 was deposited by radio frequency sputtering system and represented a transmittance of over 80% in the visible light region and a homogeneous and dense surface. The optical band gap energy decreased as the sputtering power increased owing to the quantum size effect. Thus, the specific band gap of amorphous Ga2O3 can be obtained by adjusting the sputtering power, it indicates amorphous Ga2O3 can be used in various fields.
We measured photoreflectance spectrum characteristics of InGaAs grown by MBE method on semi-insulating GaAs. The PR signal splitting of substate and epilayer was observed. The band gap energy was about 1.40 eV. It make to 8 meV difference when it is fitted by Pan's equation. The reason is stress on the interface, which is due to lattice mismatch between epilayer and substate . We became to know that reason influence crystalline on growing sample. In InGaAs epilayer, temperature dependency is low. The efficiency of photo absorption is high and activate over 200K. In this case when it is annealed at $400^{\circ}C$ below growing temperature, PR signal splitting is remarkable and crystalline is inhanced.
Park, Kwang Mean;Oh, Yun Kyung;Kim, Hong Bae;Kwack, Kae Dal
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics
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v.24
no.3
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pp.445-452
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1987
In this paper, a model for characteristics in the AlxGa1-xAs layer of MODFET's is presented. The characteristics of conduction band in the AlxGa1-xAs layer is analyzed with the Fermi-Dirac statistics. And using the conduction band energy which is calculated with the numerical calculation method (false-Positon method), the variations of the electric-field distribution, the ionized donor concentration, and the two-dimensional electron gas density with gate voltage are calculated, respectively. The channel formation process for the parasitic MESFET operation in the MOD structure is also analyzed, and the characteristics in the AlxGa1-xAs layer is analytically modeled. The throretical results describe well the general characteristics in the MOD structure.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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1999.07a
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pp.92-92
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1999
양자우물 무질서화 기술은 양자우물구조의 성장후 그 구조의 밴드갭을 국부적으로 변화시킬 수 있는 기술적 특성으로 인해 기존의 광기능 소자 제작을 위한 결정재성장방법을 대체 혹은 보완할 수 있는 장점이 있기 때문에 최근 활발히 연구되고 있다. 여러 가지 양자우물 무질서화공정중 유전체 박막을 사용하는 impurity free vacancy disordering (IFVD) 공정은 불순물이 개입하지 않는 공정으로 공정후 양질의 반도체 표면을 유지할 수 있는 장점이 있으며 고아소자 제작시 광손실의 증가를 초래하지 않는다. 이 공정은 vacancy의 source로 작용하는 유전체박막의 특성에 크게 의존하며 GaAs/AlGaAs 계열의 양자우물에서는 많은 연구가 진행되었으나, 광통신용 광소자의 제작에 사용되는 InGaAs/InGaAsP 계열의 양자우물에 대한 연구는 충분하지 않다. 그림 1은 IFVD를 위해 본 연구에서 사용된 CBE로 성장한 InGaAs/InGaAsP SQW 구조이다. 성장된 구조는 상온에서의 QW peak, λpl=1550nm 이었다. IFVD를 위한 유전체 덮개층으로는 PECVD로 성장 조정하여 박막성장시의 조건을 변화시킴으로써 유전체 덮개층 박막의 특성을 변화시켰다. 그림 2는 질소 분위기의 furnace에서 75$0^{\circ}C$로 8분간 IFVD를 수행한후 측정한 무질서화된 양자우물의 상온 PL spectrum을 보여준다. 그림에서 보는바와 같이 동일한 SiNx 덮개층을 사용하는 경우에도 적어도 24meV의 bandgap차를 갖는 양자우물을 영역을 동일한 기판상에 제작할 수 있음을 알 수 있다. 일반적으로 IFVD 방법으로 국부적으로 양자우물을 무질서화 하기 위해서는 SiNx/SiO2와 같은 강이한 박막을 사용하였지만 이 방법을 사용하는 경우 상이한 박막을 사용하는 데서 야기되는 제반 문제를 해결할 수 있을 것으로 판단된다. 따라서 이 기술은 기존의 광소자 제작을 위한 IFVD 방법의 문제점을 해결할 뿐만 아니라 결정 재성장 없이 도일한 기판상에 국부적으로 상이한 bandgap 영역을 만들 수 있기 때문에 광소자 제작에 적극 이용될 수 있다.
Plant growth retardants reduce the plant height by inhibiting stem elongation in Lilium davuricum. To investigate the plant hormones related to stem elongation, we sprayed 50 $mg{\cdot}L^{-1}$ diniconazole to young plants of L. davuricum and quantified the contents of endogenous gibberellic acids (GA) and abscisic acid (ABA). In GA biosynthesis, L. davuricum had not only the early C-13 hydroxylation ($GA_{19}{\rightarrow}GA_{20}{\rightarrow}GA_1$) pathway resulting in $GA_1$ as the active form but also the non C-13 hydroxylation (NCH, $GA_{12}{\rightarrow}GA_{24}{\rightarrow}GA_9{\rightarrow}GA_4$) with $GA_4$ as the active form. However, the main pathway was NCH because $GA_4$ concentration of 55 $ng{\cdot}g^{-1}$ dry wt was much higher than $GA_1$ content of 0.23 $ng{\cdot}g^{-1}$ dry wt in control plant. Diniconazole inhibited GA biosynthesis through NCH pathway from its early stage. $GA_{12}$ content decreased by diniconazole up to 6% level of that of control and this effect continued to $GA_4$. Diniconazole reduced $GA_{12}$ content by 12.7 $ng{\cdot}g^{-1}$ dry wt, whereas that of control plant was 213.8 $ng{\cdot}g^{-1}$ dry wt. ABA content decreased up to one third of control by diniconazole application. From the contents of endogenous $GA_4$, $GA_1$, and ABA in this study, we could conclude that diniconazole reduces the plant height by inhibiting $GA_4$ biosynthesis in L. davuricum.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.4
no.5
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pp.1151-1156
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2000
In this paper, we report a fabrication of InP-based microstructurs for III-V compound semiconductor micromachining. Vertical liquid phase epitaxy(LPE) system was used in order to grow the InP/lnGaAsP/InP layers. The thicknesses of InP top-layer and InGaAsP were $1\mum \;and \;0.4\mum$, respectively. The fabrication of InGaAsP microstructures involves front-side bulk micromachining. The experimental result showed the beams must be carefully aligned in the <100> direction since the etching of the beam in the <100> direction is more faster than that of the beam in the <110> and <110> direction.
We have investigated photoluminescence(PL) spectra of four $In_xGa_{1-x}N(x=0.15)/GaN$ multiple quantum well(MQW) structures with different well widths in order to study a phenomenon on crystal phase separation. The asymmetic behavior of PL spectra becomes stronger with increase of the well width from 1.5 nm to 6.0 nm, which indicates dual-peak nature. Analyzing the dual-peak fit PL spectra, we have observed that the intensity of low-energy shoulder peak rapidly becomes stronger, compared to that of high-energy peak corresponding to a transition in InGaN QW. It suggests that InGaN QW has two phases with tiny different In compositions, and that In-rich(InN-like) phase forms more and more relatively than stoichiometric InGaN(x=0.15) phase by the InN phase separation mechanism as the QW width increases. PL spectrum of 6.0-nm sample shows an additional peak at low-energy lesion(${\sim}2.0\;eV$) whose energy position is almost the same as a defect band of yellow luminescence frequently observed in GaN epilayers. It may be due to a defect resulted from In deficiency formed with development of the phase separation.
GaAs/AlGaAs quantum-wire (QWR) gain-coupled distributed-feedback (GC-DFB) lasers are fabricated and characterized Constant metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD) growth is used to avoid grating overgrowth during the fabrication of DFB structures. Numerical calculation shows large gain anisotropy by optical feedback along the DFB directions near Bragg wavelength. DFB lasing via QWR active gratings is also experimentally achieved.
Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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2000.05a
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pp.447-450
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2000
In this paper, we report a fabrication of InP-based microstructurs for III-V compound semiconductor micromachining. Vertical liquid phase epitaxy(LPE) system was used in order to grow the Inp/InGaAsP/InP layers. The thicknesses of InP top-layer and InGaAsP were 1$\mu\textrm{m}$ and 0.4$\mu\textrm{m}$ respectively. The fabrication of InGaAsP microstructures involves front side bulk micromachining. The experimental result showed the beams must be carefully aligned in the <110> direction since the lateral etching of the beam in the <110> direction is more faster than that of the beam in the <100> direction.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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