• 전자공학회논문지CI
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• 제42권5호
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• pp.59-68
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• 2005

본 논문에서는 하드웨어 오류 검출을 위하여 공생 진화(symbiotic evolution)에 기반을 둔 새로운 immunotronic 알고리즘을 제안한다. 면역학(immunology)과 전자공학(Electronics)을 결합한 immunotronic 시스템에서 가장 중요한 점은 포용 조건 (tolerance condition)을 생성하는 방식이다. 여기서 포용 조건 생성은 생체 면역 시스템에서의 항체 생성을 의미한다. 본 논문에서는 생체 면역 시스템에서 매우 중요한 개념인 항체의 다양성 원리(principle of antibody diversity)를 포용 조건 생성에 적용한 후 공생 진화를 통하여 이를 구현한다. 공생 진화는 기존의 유전자 알고리즘(standard genetic algorithm, SGA)에 비해서 더욱 더 생체 면역 시스템이 항체를 생성하는 방식과 유사하며 이러한 방식은 이전의 immunotronic 방식에 비해서 더 향상된 비자기 검출 율을 보여 준다. 이렇게 제안된 알고리즘을 FSM(Finite State Machine)의 가장 전형적인 예인 십진 카운터와 MCNC benchmark FSM에 적용한 후 컴퓨터 모의 실험을 통해 그 성능을 확인한다.

• International Journal of Fuzzy Logic and Intelligent Systems
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• 제4권1호
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• pp.7-11
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• 2004

This paper proposes a new immunotronic approach for the fault detection in hardware. The suggested method is, inspired by biology and its implementation is based on genetic algorithm. Tolerance conditions in the immunotronic system for fault detection correspond to the antibodies in the biological immune system. A novel algorithm of generating tolerance conditions is suggested based on the principle of the antibody diversity and GA optimization is employed to select mature tolerance conditions in immunotronic fault detection system. The suggested method is applied to the fault detection for MCNC benchmark FSMs (finite state machines) and its effectiveness is demonstrated by the computer simulation.