• Electronics and Telecommunications Trends
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• v.17 no.4 s.76
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• pp.123-134
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• 2002

ISO/IEC14443-1(1), ISO/IEC10536-1(2), 그리고 ISO/IEC15693-1(3)에서 정의하고 있는 비접촉식 카드의 교류전기장 및 교류자기장에 대한 내성력 시험에 대해 살펴보고자 한다. 상기 규격은 ISO/IEC JTC1 기술위원회의 SC17에서 다루고 있으며, 아직 상기 표준 규격은 초안 상태에 있어 상세한 시험 방법에 대한 규격이 마련되어 있지 않은 실정이다. 그럼에도 불구하고 칩 카드 수입국은 수출업자에게 교류전기장 및 교류자기장 내성시험을 요구하고 있다. 따라서 업계에서는 시험 시설, 시험 방법, 시험 절차, 시험 평가 부분에서 많은 혼란이 발생되고 있다. 이러한 시험에 대한 대응책이 국가적 차원에서 시급히 마련되어야 할 것이다. 본 고에서는 이를 위한 일련의 과정으로서, 칩 카드 관련 국제 규격(1)-(5) 동향을 살펴보고, 교류전기장 및 교류자기장 내성력 시험 절차를 마련하기 위한 관점에서 IEC61000 시리즈 중에서 RF 복사 내성시험인 IEC61000-4-3(6), IEC61000-4-8, IEC61000-4-9, IEC61000-4-10, IEC61000-4-23(7)에 대한 분석을 동시에 실시하였다.

• The Transactions of The Korean Institute of Electrical Engineers
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• v.66 no.7
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• pp.1017-1024
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• 2017

The International Electrotechnical Commission(IEC) 61000-4-15 is a standard proposing techniques for a flicker meter test and measurement method. The IEC61000-4-15 ed1 announced in 1997 was not include tests for accurate verification. Also it was not explained flicker meter algorithm that can be directly applied to the other power systems. But the new edition of IEC61000-4-15 ed2 prescribes a variety of tests for verify flicker meter algorithm and it explains 'correction factor' used for measuring flicker in other power systems. It can measure flicker severity in 220V system by multiplying correction factor to the measured values with the 230V algorithm. This paper compared the method of measuring flicker severity in korea power system using the correction factor and the modified weighting filter, after verifying of digital flicker meter algorithm created by using matlab based on IEC61000-4-15 ed2.

• Journal of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers
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• v.21 no.2
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• pp.71-77
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• 2007

High speed electric trains have time-varying nonlinear loads causing voltage fluctuations to the power system. A cumulative probablistic approach is the most commonly used method to solve time varying loads. Flicker can be defined as the effect produced on the human visual perception by a changing emission of light lamps subjected to magnitude fluctuations of their supply voltage. This paper provides an in depth analysis on harmonics and flickers measurement of the high speed electric train loads. And the measurement results are evaluated by the IEC 61000-3-6 and IEC 61000-3-7.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 2011.07a
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• pp.995-996
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• 2011

전압의 시간적 변동으로 인하여 시각적 혹은 심리적으로 인식되는 불편함을 나타내는 플리커는 인간의 생체심리학적 인지능력과 관련이 있으며, 인간의 눈은 0.3%에서 0.4%의 매우 작은 전압변동에 대하여 5Hz에서 20Hz의 변조 주파수에서 민감하게 반응하며, IEC는 실증시험을 통해 8.8Hz의 전압변동에서 가장 민감하게 인식하는 것을 확인하였다. 이러한 플리커는 시각적 불쾌감과 함께 지속적인 경우 회전기와 같은 기기들에 악영향을 주며, 전자장비, 전구, CRT 장비, UPS 동기상실, 제어설비 및 보호설비의 오동작 발생으로 효과적으로 관리가 필요하다. 현재 국내 전기품질 관리기준은 IEC 국제규격을 바탕으로 제 개정 작업이 진행되고 있어 본 논문에서는 IEC 61000-3-7 국제규격을 국내 적용을 위해 필요한 국내 전력계통의 플리커 전달계수를 제시하였다.

• Journal of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers
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• v.20 no.1
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• pp.91-99
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• 2006

Large steel industries have nonlinear loads including electric arc furnaces and harmonic field measurements have shown that harmonic content of a waveform varies with time. Since the large loads are supplied from the power system grid, it must be recognized that not only will the system of utility be impacted, but neighboring customer system could be impacted as well. In this paper time-varying harmonics are evaluated by international harmonic standards IEEE Std. 519 and IEC 61000-3-6 using a cumulative probablistic approach.

• Journal of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers
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• v.20 no.2
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• pp.29-37
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• 2006

Heavy chemical industries have nonlinear loads including elecrolyzers. AC-DC converters are the most widely used in an elecrolysis in a chemical plant. The electrolysis consists of AC-DC converter groups connected in parallel at the DC side. The converter operations cause harmonic currents and create distortions on the sinusoidal voltage of the AC power system. This paper provides an in depth analysis on harmonics field measurement for the electrolyzer loads and harmonics assessment by the international harmonic standards IEC 61000-3-6 and IEEE 519-1992.

• The Transactions of the Korean Institute of Power Electronics
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• v.11 no.4
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• pp.361-370
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• 2006

A single-stage single-switch flyback converter with synchronous rectifier is proposed. The proposed single-stage single-switch technique meets the IEC 61000-3-2 harmonic requirements. The proposed SR is the voltage driven synchronous rectifier (VDSR) which operates depending on the voltage drop across the drain and source of the MOSFET. Experimental results for the 85W (12V /7.1A) proposed converter are shown.

• JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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• v.14 no.1
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• pp.1-7
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• 2014

A bidirectional transient voltage suppression (TVS) diode consisting of specially designed $p^--n^{{+}+}-p^-$ multi-junctions was developed using low temperature (LT) epitaxy and fabrication processes. Its electrostatic discharge (ESD) performance was investigated using I-V, C-V, and various ESD tests including the human body model (HBM), machine model (MM) and IEC 61000-4-2 (IEC) analysis. The symmetrical structure with very sharp and uniform bidirectional multi-junctions yields good symmetrical I-V behavior over a wide range of operating temperature of 300 K-450 K and low capacitance as 6.9 pF at 1 MHz. In addition, a very thin and heavily doped $n^{{+}+}$ layer enabled I-V curves steep rise after breakdown without snapback phenomenon, then resulted in small dynamic resistance as $0.2{\Omega}$, and leakage current completely suppressed down to pA. Manufactured bidirectional TVS diodes were capable of withstanding ${\pm}4.0$ kV of MM and ${\pm}14$ kV of IEC, and exceeding ${\pm}8$ kV of HBM, while maintaining reliable I-V characteristics. Such an excellent ESD performance of low capacitance and dynamic resistance is attributed to the abruptness and very unique profiles designed very precisely in $p^--n^{{+}+}-p^-$ multi-junctions.

• The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers A
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• v.55 no.8
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• pp.322-328
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• 2006

In this paper, The impulse un-tripping characteristics and the electro magnetic compatibility characteristics are compared with each other. The performance of impulse un-tripping test exists at domestic standard (KSC 4613). However test items are insufficient because the more test items such as EMC exist at international standard (IEC). Also, Electric Appliances Safety Certificate has taken the certificate test since July 2004 in Korea but did not confirm the EMC performance for RCCBs made in Korea. Thus, in this paper, We experiment with Oscillatory waves immunity test and the 7 EMC tests for 32 RCCBs of 4 types (mini, home standard, plug, outlet) for 16 brands according to IEC standard 61009-1 and 61008-1. As a result, 24 RCCBs proved to be poor for surge immunity test. However the RCCBs operating incorrectly for surge immunity test operate correctly for oscillatory waves immunity test. Thus, the correlation between oscillatory waves immunity test and EMC test is little and standard for compatibility of combination surge at IEC 61000-4-5 should be added to KS standard as soon as possible.

• The Proceeding of the Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science
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• v.17 no.4 s.60
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• pp.48-52
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• 2006

2006 CISPR 총회가 스웨덴 스톡홀름 KISTA에서 개최되었다. CISPR I 회의는 9월 18일부터 20일까지 3일간 WG2 및 WG4를 중심으로 진행되었으며, WG1과 WG3 회의는 9월 20일 오후에 있었다. 우리나라에서는 WG1에 두 가지 제안을 발표하였다. 하나는 2004년 중국 상해 회의에서 처음 제안하여 2005년 남아공 케이프타운 회의에서 Task Force가 구성된 대형 시험품에 대한 CISPR 20의 외부 방사내성 시험레벨에 관한 것이다. 2006년 1월 미국 산타페에서 열린 TF 회의에서 시험결과에 대한 기술적 토론이 있었으며, Round Robin Test(RRT)를 실시하기로 결정되었다. RRT시험은 7월 중순에 실시되었으며, 참여한 시험소는 영국의 SONY, 네덜란드의 Philips, 독일의 SHARP 이었으며, 국내의 여러 EMC 시험소도 추후에 참여하였다. RRT 시험의 결과 및 분석이 이번 스톡홀름 회의에서 발표되었다. 또한, CISPR 13의 방사성 방출(RE)의 측정거리 기준점의 변경에 관한 것이다. 본 고에서는 TV 수신기에 대한 RRT 시험결과 및 분석에 대한 발표 내용을 소개하고자 한다. CISPR 20의 외부 전자기장 내성 시험은 0.8 m인 개방형 스트립라인(Open Strip-line: OSL)내에 시험품을 설치하고 $150kHz{\sim}150MHz$에서 시험하도록 규정하고 있다. OSL에 설치할 수 없는 대형기기는 IEC 61000-4-3에 따라서 주파수 범위 $80MHz{\sim}150MHz$까지 동일한 한계치로 전자파무반사실에서 시험하도록 규정되어 있다. 이에 대해 국내 제조업체 및 EMC 전문가들로 구성된 CISPR I 국내 위원회에서는 IEC 61000-4-3에 의한 전자파무반사실(챔버)에서의 내성시험이 CISPR 20에 의한 OSL에서의 내성시험보다 가혹하다는 문제 제기가 있었다. 이것이 본 안건에 대한 배경이다 지금까지 진행되어 왔던 내용을 요약해 보면 2004년 상해 회의에서, 수치해석 및 측정비교를 통하여 CISPR 20에서 규정하고 있는 OSL 전기장 교정방법의 개선의 필요성과 OSL에서 시험할 수 없는 대형 시험품에 대하여 시험레벨을 조정할 것을 지적하였다. 2005년 케이프타운 회의에서는 실제적으로 TV 방송 수신기 및 관련기기가 두가지 방법으로 시험되었을 때 시험결과에 미치는 영향을 시험품의 전기장 내성 레벨로 비교하였으며, 전자파무반사실에서 시험할 경우 시험레벨이 12 dB 낮추도록 보정되어야 할 것을 제안하였다. 2006년 이번 회의에서는 세계 각국의 시험소와 비교시험을 통하여 나타난 OSL과 전자파무반사실 간의 시험결과의 차이 및 이에 대한 원인을 분석하여 보고하였다. OSL과 전자파무반사실 비교시험에서 나타난 차이는 평균적으로 9 dB의 차이로 나타났으며, 주요 원인은 OSL에서 적용하고 있는 시험품을 OSL내부에 설치한 후 시험품에 의해 변경된 전기장의 세기를 보정해 주는 인자(k2)로 인한 차이(6 dB)와 OSL 내부의 전기장의 세기와 전자파무반사실 균일장 영역의 전기장의 세기의 차이(3 dB)이다.