Photoconductive properties of B-doped hydrogenated amorphous silicon thin films prepared by the RF glow discharge decomposition of $SiH_4-B_2H_6$ gas mixtures have been investigated. Experimental results showed that the B-doped hydrogenated amorphous silicon thin films have high photosensitivity and good optical absorption. Therefore these thin films can be used for the photoconductive layer of the vidicon target.
Applications of CdS films in this study are to exhibit a high conductivity when they are exposed at light with visible wavelength and sequentially to show a low conductivity in dark state. For this purpose, CdS films should have a high photosensitivity, still maintaining a high conductivity at a visible light. In this study, CdS films were prepared at room temperature on glass substrates by rf magnetron sputtering. In order to increase the photo-conductivity in visible light, various defect levels should be located within the CdS band gap. In order to nucleate the defect sites within the CdS band gap, CdS films were deposited on glass substrates at room temperature using various $H_2$/(Ar+$H_2$) flow ratios by an rf magnetron sputtering. Through the investigation of the structural and photoconductive properties of CdS films by an addition of hydrogen, the relationship between photo- and dark-resistance in CdS films was investigated in detail. 200-nm-thick CdS films for photoconductive sensor applications were prepared at various $H_2$/(Ar+$H_2$) flow ratios on glass substrates at room temperature by rf magnetron sputtering. Sulfur concentration in CdS films crystallized at room temperature with (002) preferred orientation depends directly on the hydrogen atmosphere and the surface roughness of the films gradually increases with increasing hydrogen atmosphere. Films deposited at 8% of $H_2$/(Ar+$H_2$) exhibit an abrupt decrease of dark- and photo-resistance, showing a low photo-sensitivity ($R_{dark}/R_{photo}$). Onthe other hand, films deposited at a hydrogen atmosphere of 42% exhibit a photo-sensitivity of $5\times10^3$, maintaining a photo-resistance of an approximately $2\times10^4\Omega$/square. The dark- and photo-resistance values of CdS films were related with a composition, surface roughness, and defect sites within the band gap.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제12권4호
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pp.164-168
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2011
Nanocrystalline cadmium sulphide (CdS) thin films were prepared using chemical bath deposition (CBD), and the structural, optical and photoconductive properties were investigated. The crystal structure of CdS thin film was studied by X-ray diffraction. The crystallite size, dislocation density and lattice constant of CBD CdS thin films were investigated. The dislocation density of CdS thin films initially decreases with increasing film thickness, and it is nearly constant over the thickness of 2,500 ${\AA}$. The dislocation density decreases with increasing the crystallite size. The Urbach energies of CdS thin films are obtained by fitting the optical absorption coefficient. The optical band gap of CdS thin films increases and finally saturates with increasing the lattice constant. The Urbach energy and optical band gap of the 2,900 A-thick CdS thin film prepared for 60 minutes are 0.24 eV and 2.83 eV, respectively. The activation energies of the 2,900 ${\AA}$-thick CdS thin film at low and high temperature regions were 14 meV and 31 meV, respectively. It is considered that these activation energies correspond to donor levels associated with shallow traps or surface states of CdS thin film. Also, the value of ${\gamma}$ was obtained from the light transfer characteristic of CdS thin film. The value of ${\gamma}$ for the 2,900 A-thick CdS thin film was 1 at 10 V, and it saturates with increasing the applied voltage.
본 연구는 $CdS_{1-x}Se_{x}$의 박막을 제작하고 그 전기-광학적인 특성을 조사한 것이다. 전자선 가열증착법을 이용하여 $CdS_{1-x}Se_{x}$을 알루미나 기판위에 $1.5{\times}10^{-7}$ torr의 압력, 4kV의 전압, 2.5 mA의 전류 그리고 기판온도를 $300^{\circ}C$로 유지하여 증착하였다. 증착된 $CdS_{1-x}Se_{x}$ 박막은 X-ray 회절 실험을 통하여 볼 때, 육방정계의 결정구조를 가지며 성장되었다. $CdS_{1-x}Se_{x}$ 도전막은 특정분위기에서 $550^{\circ}C$, 30분간 열처리함으로써 높은 광전도성을 나타내게 되었다. 또한 Hall 효과, 광전류 스펙트럼, 감도, 최대 허용 전력과 응답시간 등을 조사하였다.
The structure of vacuum evaporated PbO films is investigated. Also, the Photosensitivity and dark resistivity are measured. The dominant structure and orientation of these films were red (tetragonal) form, and <110> and <101> direction under- the suitable deposition conditions. And the crystallite size of them was about $2um{\times}0.2um$. These PbO films have good photosensitivity(r=0.9) and high dark resistivity. (${\rho}=10^{14}{\Omega}{\cdot}cm$)
Park, Gye-Choon;Chung, Hae-Duck;Lee, Jin;Yang, Hyun-Hun;Jeong, Woon-Jo;Park, Jung-Yun;Lee, Kyung-Sup
한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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한국전기전자재료학회 2004년도 추계학술대회 논문집
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pp.13-14
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2004
Using Se as a photoconductive element and ZnS as a luminescent element, a Se/ZnS thin film device for light amplifier applications was fabricated and its characteristics were investigated At various conditions of substrate temperatures, heat treatment times, and heat treatment temperatures, Se thin films and ZnS thin films were separately deposited by an EBE(Electron Beam Evaporation) method of an high accuracy in deposition rates and the optimum fabrication conditions for the Se thin film and the ZnS thin film with a hexagonal structure were obtained The Se/ZnS thin film light amplifier was fabricated by evaporating the ZnS thin film on an ITO(Indium Tin Oxide) glass and the Se thin film on the ZnS thin film in sequence.
Photoconductive poly crystalline lead oxide coated on amorphous thin film transistor (TFT) arrays is the best candidate for direct digital x-ray detector for medical imaging. Thicker films with lessening density often show lower x-ray induced charge generation and collection becomes less efficient. In this work, we present a new methodology used for the high density deposition of PbO. We investigate the structural properties of the films using X-ray diffraction and electron microscopy experiments. The film coatings of approximately $200\;{\mu}m$ thickness were deposited on $2"{\times}2"$ conductive-coated glass substrates for measurements of dark current and x-ray sensitivity. The lead oxide (PbO) films of $200\;{\mu}m$ thickness were deposited on glass substrates using a wet coating process in room temperature. The influence of post-deposition annealing on the characteristics of the lead oxide films was investigated in detail. X-ray diffraction and scanning electron microscopy, and atomic force microscopy have been employed to obtain information on the morphology and crystallization of the films. Also we measured dark current, x-ray sensitivity and linearity for investigation of the electrical characteristics of films. It was found that the annealing conditions strongly affect the electrical properties of the films. The x-ray induced output charges of films annealed in oxygen gas increases dramatically with increasing annealing temperatures up to $500^{\circ}C$ but then drops for higher temperature anneals. Consequently, the more we increase the annealing temperatures, the better density and film quality of the lead oxide. Analysis of this data suggests that incorporation and decomposition reactions of oxygen can be controlled to change the detection properties of the lead oxide film significantly. Post-deposition thermal annealing is also used for densely film. The PbO films that are grown by new methodology exhibit good morphology of high density structure and provide less than $10\;pA/mm^2$ dark currents as they show saturation in gain (at approximate fields of $4\;V/{\mu}m$). The ability to operate at low voltage gives adequate dark currents for most applications and allows voltage electronics designs.
Journal of electromagnetic engineering and science
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제10권3호
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pp.158-165
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2010
This study reviewed terahertz technologies of time domain spectroscopy, T-ray imaging, and high rate wireless data transfer. The main topics of the terahertz research area were investigation of materials and package modules for terahertz wave generation and detection, and setup of the terahertz system for time domain spectroscopy(TDS), T-ray imaging and sub-THz wireless communication. In addition to Poly-GaAs film as a photoconductive switching antenna material, a table-top scale for the THz-TDS/imaging system and terahertz continuous wave(CW) generation systems for sub-THz data transfer and narrow band T-ray imaging were designed. Dielectric properties of ferroelectric BSTO($Ba_xSr_{1-x}TiO_3$) films and chalcogenide glass systems were characterized with the THz-TDS system at the THz frequency range. Package modules for terahertz wave transmitter/receiver(Tx/Rx) photoconductive antenna were developed.
새 구조의 액정 엑스선 감지기를 만들었다. 이것은 액정판을 만들고 유리판을 얇게 식각한 다음, 그 유리판 위에 반사막과 광전도층을 연속하여 입힌 구조이다. 새 구조의 액정엑스선 감지기는 공정의 안정성, 대면적화, 감도 등에서 이미 상품화된 엑스선 감지기와도 충분히 경쟁할 수 있으며, 따라서 성공적으로 상용화 할 수 있음을 확인했다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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