• 제목/요약/키워드: Forward body biasing voltage

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나노미터 디지털회로의 노화효과를 보상하기위한 새로운 적응형 회로 설계 (Design of a new adaptive circuit to compensate for aging effects of nanometer digital circuits)

  • 김경기
    • 한국산업정보학회논문지
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    • 제18권6호
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    • pp.25-30
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    • 2013

  • 나노크기 MOSFET 공정에서 회로의 신뢰도에 영향을 미치는 음 바이어스 온도 불안정성(NBTI), 핫 캐리어 주입(HCI), 시간 의존 유전체 파손(TDDB) 등과 같은 노화 현상들에 의해서 회로 성능의 심각한 저하를 가져올 수 있다. 그러므로, 본 논문에서는 디지털회로에서 발생할 수 있는 노화를 극복할 수 있는 적응형 보상 회로를 제안하고자 한다. 제안된 보상회로는 노화에 의해 감소하는 회로 성능을 적응적으로 보상해 주기 위해서 노화 정도에 따라 파워스위치 폭을 조절할 수 있고, 순방향 바디 바이어싱 전압을 걸어줄 수 있는 파워 게이팅 구조를 사용하여서 45nm의 공정기술에서 설계되었다.

  • https://doi.org/10.9723/jksiis.2013.18.6.025 인용 PDF KSCI