In this paper, The relationship between device performance and channel length(1.5-50$\mu$m) in polysilicon thin-film transistors fabricated by SPC technology was Investigated by measuring electric Properties such as 1-V characteristics, field effect mobility, threshold voltage, subthreshold swing, and trap density in grain boundary with channel length. The drain current at ON-state increases with decreasing channel length due to increase of the drain field, while OFF-state current (leakage current) is independent of channel length. The field effect mobility decrease with channel length due to decreasing carrier life time by the avalanche injection of the carrier at high drain field. The threshold voltage and subthreshold swing decrease with channel length, and then increase in 1.5 $\mu$m increase of increase of trap density in grain boundary by impact ionization.
Oxide semiconductors such as zinc tin oxide (ZTO) or indium gallium zinc oxide (IGZO) have attracted a lot of research interest owing to their high potential for application as thin film transistors (TFTs) [1,2]. However, the instability of oxide TFTs remains as an obstacle to overcome for practical applications to electronic devices. Several studies have reported that the electrical characteristics of ZnO-based transistors are very sensitive to oxygen, hydrogen, and water [3,4,5]. To improve the reliability issue for the amorphous InGaZnO (a-IGZO) thin-film transistor, back channel passivation layer is essential for the long term bias stability. In this study, we investigated the instability of amorphous indium-gallium-zinc-oxide (IGZO) thin film transistors (TFTs) by the back channel contaminations. The effect of back channel contaminations (humidity or oxygen) on oxide transistor is of importance because it might affect the transistor performance. To remove this environmental condition, we performed vacuum seasoning before the deposition of hybrid passivation layer and acquired improved stability. It was found that vacuum seasoning can remove the back channel contamination if a-IGZO film. Therefore, to achieve highly stable oxide TFTs we suggest that adsorbed chemical gas molecules have to be eliminated from the back-channel prior to forming the passivation layers.
본 연구는 Parylene C 유전체 표면에 유기 자기조립단분자막(self-assembled monolayer, SAM) 중간층을 도입함으로써 표면특성을 제어하고 최종적으로 유기전계효과 트랜지스터(organic field-effect transistors, OFETs)의 전기적 안정성을 향상시킨 결과를 제시하였다. 유기 중간층을 적용함으로써, Parylene C 게이트 유전체의 표면 에너지를 제어하였으며, OFET의 가장 중요한 성능변수인 전계효과 이동도(field-effect transistor, μFET)와 문턱 전압 (threshold voltage, Vth)의 성능향상과 구동 안정성을 증대시켰다. 단순히 Parylene C 유전체를 적용한 Bare OFET에서 μFET 값은 0.12 cm2V-1s-1가 측정되었으나, hexamethyldisilazane (HMDS)과 octadecyltrichlorosilane (ODTS)를 중간층으로 적용된 소자에서는 각각 0.32과 0.34 cm2V-1s-1로 μFET가 증가하였다. 또한 1000번의 transfer 특성의 반복측정을 통해 ODTS 처리한 OFET의 μFET와 Vth의 변화가 가장 작게 나타남을 확인하였다. 이 연구를 통해 유기 SAM 중간층, 특히 ODTS는 효과적으로 Parylene C 표면을 알킬 사슬로 덮어 극성도를 낮춤과 함께 전하 트래핑을 감소시켜 소자의 전기적 구동 안정성을 증가시킬 수 있음을 확인하였다.
본 논문은 효율적인 회로 시뮬레이션을 위한 긴 채널 공핍 모드 n형 나노선 전계효과트랜지스터(nanowire field-effect transistor: NWFET)의 간단한 해석적 전류 전도 모델을 소개한다. 본 연구에서 사용된 NWFET는 bottom-up 방식으로 제작되었으며 게이트가 채널의 아래에 존재하는 구조를 가진다. 이 모델은 다양한 바이어스 조건에서 동작하는 NWFET의 모든 전류 전도 메카니즘을 포함한다. 새롭게 개발된 NWFET 모델로 계산된 결과는 이전에 발표된 NWFET 실험 데이터와 비교할 때 10% 오차범위 안에서 서로 일치한다.
Kim, Jae-Wook;Jung, Hee-Tae;Ha, Sun-Young;Yi, Mi-Hye;Park, Jae-Eun;Kim, Hyo-Joong;Choi, Young-Ill;Pyo, Seung-Moon
Macromolecular Research
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제17권9호
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pp.646-650
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2009
We report the fabrication of pentacene organic field-effect transistors (OFETs) using a fluorinated styrene-alt-maleic anhydride copolymer gate dielectric, which was prepared from styrene derivatives with a fluorinated side chain [$-CH_2-O-(CH_2)_2-(CF_2)_5CF_3$] and maleic anhydride through a solution polymerization technique. The fluorinated side chain was used to impart hydrophobicity to the surface of the gate dielectric and maleic anhydride was employed to improve its wetting properties. A field-effect mobility of 0.12 cm$^2$/Vs was obtained from the as-prepared top-contact pentacene FETs. Since various functional groups can be introduced into the copolymer due to the nature of maleic anhydride, its physical properties can be manipulated easily. Using this type of copolymer, the performance of organic FETs can be enhanced through optimization of the interfacial properties between the gate dielectric and organic semiconductor.
A new process for polymeric gate insulator in field-effect transistors was proposed. Fourier transform infrared absorption spectra were measured in order to identify ODPA-ODA polyimide. Its breakdown field and electrical conductivity were measured. All-organic thin-film transistors with a stacked-inverted top-contact structure were fabricated to demonstrate that thermally evaporated polyimide films could be used as a gate insulator. As a result, the transistor performances with evaporated polyimide was similar with spin-coated polyimide. It seems that the mass-productive in-situ solution-free processes for all-organic thin-film transistors are possible by using the proposed method without vacuum breaking.
본 연구에서는 급격한 스위칭 특성을 달성하기 위해 싱글단일-게이트 실리콘 채널에서 전하 캐리어의 양의 피드백을 이용하는 새롭게 설계된 피드백 전계 효과 트랜지스터를 제안한다. 에너지 밴드 다이어그램, I-V 특성, 문턱전압 기울기 및 on/off 전류 비는 TCAD 시뮬레이터를 이용하여 분석한다. 피드백 전계 효과 트랜지스터의 중요한 특징 중 하나인 히스테리시스의 특성을 보기 위해 게이트 절연막 물질과 게이트 전극물질을 변경하여 시뮬레이션을 진행했다. 이러한 특성변화는 피드백 전계효과 트랜지스터의 문턱전압 ($V_{TH}$)을 변화시켰고, 메모리 윈도우 폭이 작아지는 현상을 보였다.
Kim, Hyun-Gi;Jang, Jung-Soo;Choi, Suk-Won;Ishikawa, Ken;Takezoe, Hideo;Kim, Sung-Soo
한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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한국정보디스플레이학회 2009년도 9th International Meeting on Information Display
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pp.1319-1321
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2009
Copper phthalocyanine (CuPc) Field-effect transistors (FETs) was successfully fabricated on plastic substrates. Orientation of CuPc crystallites on substrate could be obtained via rubbing process. It was revealed that CuPc crystallites were perpendicularly aligned on PES substrates with the rubbing direction. The performance of FETs was affected by orientation of CuPc on rubbed substrates.
Journal of information and communication convergence engineering
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제19권4호
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pp.263-268
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2021
Although the compact capacitance model of point tunneling types of tunneling field-effect transistors (TFET) has been proposed, those of line tunneling types of TFETs have not been reported. In this study, a compact capacitance model of an L-shaped TFET (LTFET), a line tunneling type of TFET, is proposed using the previously developed surface potentials and current models of P- and L-type LTFETs. The Verilog-A LTFET model for simulation program with integrated circuit emphasis (SPICE) was also developed to verify the validation of the compact LTFET model including the capacitance model. The SPICE simulation results using the Verilog-A LTFET were compared to those obtained using a technology computer-aided-design (TCAD) device simulator. The current-voltage characteristics and capacitance-voltage characteristics of N and P-LTFETs were consistent for all operational bias. The voltage transfer characteristics and transient response of the inverter circuit comprising N and P-LTFETs in series were verified with the TCAD mixed-mode simulation results.
Kim, Young-Shil;Seok, O-Gyun;Han, Min-Koo;Ha, Min-Woo
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제12권4호
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pp.148-151
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2011
We designed and fabricated aluminium gallium nitride (AlGaN)/GaN high electron mobility transistors (HEMTs) with stable reverse blocking characteristics established by employing a selective fluoride plasma treatment on the drainside gate edge region where the electric field is concentrated. Implanted fluoride ions caused a depolarization in the AlGaN layer and introduced an extra depletion region. The overall contour of the depletion region was expanded along the drift region. The expanded depletion region distributed the field more uniformly and reduced the field intensity peak. Through this field modulation, the leakage current was reduced to 9.3 nA and the breakdown voltage ($V_{BR}$) improved from 900 V to 1,400 V.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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