• 제목/요약/키워드: Faulty area

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적층형 판 열교환기의 U턴부 유동해석 (An analysis of fluid flow In U-bend area of laminated plate heat exchanger)

  • 이관수;박철균;정지완
    • 설비공학논문집
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    • 제10권3호
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    • pp.348-357
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    • 1998
  • The flow characteristics inside U-bend tube of the laminated plate heat exchanger were numerically investigated. The behavior of fluid flow, and the variations of the faulty area and friction factor are examined according to the distance between the span and the wall and the diameter of the round attacked to the end of span. The results show that the diameter(d) of the round attached to the span is mainly associated with the smooth circulation of fluid flow rather than the size of faulty area and the friction factor. As the distance($\ell$) between the span and the wall decreases, the faulty area decreases, however the friction factor dramatically increases. It is also found that one can obtain a good result in the view of the flow characteristics and pressure drop at d=7.5mm and $\ell$=30.5mm.

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이미지 정합을 이용한 COG 불량 검출 (The Faulty Detection of COG Using Image Registration)

  • 주기세;정종면
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제10권2호
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    • pp.308-314
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    • 2006
  • 수 마이크로 단위로 계측되는 반도체 COG의 검사 정밀도를 높이기 위해서 라인스캔 카메라가 이용된다. 여러 가지 불량 요인 중 이물질 검출은 COG 패턴이 미세하고 복잡하기 때문에 불량 자동 검사 단계에서 가장 어려운 기술이었다. 본 논문에서는 매칭 속도를 높이기 위하여 2단계 영역분할 템플릿 매칭 방법을 제안하였다. 아울러 수 마이크로 단위의 이물짙 검출을 위하여 그라디언트 마스크와 AND 연산을 이용한 새로운 방법을 제안하였다. 제안된 2단계 템플릿 매칭을 사용한 방법은 기존의 상관 계수 이용법 에 비해 0.3-0.4초 매칭 속도를 향상시켰다. 그리고 제안된 마스크 적용 이물질 검출방법은 기존 마스크를 이용하지 않은 방법에 비해 불량 검출률을 $5-8\%$ 향상시켰다.

센서 네트워크 시스템에 적용 가능한 고장 검출 알고리즘 개발 (Development of Fault Detection Algorithm Applicable to Sensor Network System)

  • 육의수;윤성웅;김성호
    • 한국지능시스템학회논문지
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    • 제17권6호
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    • pp.760-765
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    • 2007
  • 센서 네트워크 시스템은 한정된 자원을 갖는 센서노드들을 광대한 영역에 설치하여 새로운 정보를 수집하고 모니터링하는 기능을 한다. 센서 노드와 센서의 고장(Sensor node faulty or Sensor faulty)은 열악한 설치 환경이나 제한된 리소스에 의해 종종 발생되는데 이들 고장은 네트워크 내에서 요구되는 양질의 서비스 제공에 많은 문제를 가져온다. 본 논문에서는 센서 노드의 고장 검출 알고리즘으로 알려져 있는 Consensus 알고리즘과 센서노드에서 사용되는 센서의 고장을 검출할 수 있는 localized faulty sensor detection 알고리즘을 혼합하여 시스템에 안정된 서비스를 제공할 수 있는 방법을 제안하며 실제 시뮬레이션과 제작된 실험장치에 적용함으로써 그 유용성을 확인하고자 한다.

어깨관절과 상박부 통증에 대한 견해 (The Pain of the Shoulder Joint and Posterolateral Area of Upper Arm)

  • 강영선;송찬우
    • The Korean Journal of Pain
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    • 제9권1호
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    • pp.105-108
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    • 1996
  • Localized or radiating pain in the arm and shoulder joint may result after faulty alignment causing compression or tension on nerves, blood vessels, or supporting soft tissues. The critical site of faulty alignment is the quadrangular space in the axilla bounded by the teres major, teres minor, long head of triceps, and humerus. The axillary nerve emerges through this space to supply the deltoid and teres minor. The activity of the trigger point on teres minor compressing the axillary nerve causes pain to develop through the area of sensory distribution of cutaneous branch of the axillary nerve. Relieving compression on the axillary nerve and suprascapular nerve is the key point to relieving the pain. Spasm of the supraspinatus and infraspinatus compressing the suprascapular nerve caused pain to develop in the shoulder joint and scapular area. We treated those patients experiencing such pain with local anesthetic infiltration or I-R laser stimulation on the identified trigger points.

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칩의 문자들을 검사하기 위한 마크 자동 검사 시스템 (A Mark Automatic Checking System to Inspect Character Strings on Chips)

  • 주기세
    • 해양환경안전학회:학술대회논문집
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    • 해양환경안전학회 2005년도 추계학술대회지
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    • pp.191-196
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    • 2005
  • 칩의 마크는 종류별로 다르고 매우 작아서 작업자가 육안 검사로 처리하기에는 매우 어려운 작업이다. 본 논문에서는 칩의 마크를 인식하여 잘못된 마크를 판별하는 마크 자동 검사 시스템에 대하여 제안한다. 불량 항목을 검사하기 위해서 템플릿 매칭 방법과 다양한 불량 판별 조건을 사용한다. 그리고 불량판별 조건은 문자 ROI 명암도, 문자 ROI 매칭, 문자 명암도, 브로컨, 브렌치로 분류된다. 제안된 방법은 마크 불량 판별에 커다란 성능향상이 보임을 일련의 실험들을 통하여 보여준다.

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칩의 문자들을 검사하기 위한 마크 자동 검사 시스템 (A Mark Automatic Checking System to Inspect Character String on Chip)

  • 김은석
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제11권3호
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    • pp.577-583
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    • 2007
  • 칩의 마크는 종류별로 다르고 매우 작아서 작업자가 육안 검사로 처리하기에는 매우 어려운 작업이다. 본 논문에서는 칩의 마크를 인식하여 잘못된 마크를 판별하는 마크 자동 검사 시스템에 대하여 제안한다. 불량항목을 검사하기 위해서 템플릿 매칭 방법과 다양한 불량 판별 조건을 사용한다. 그리고 불량판별 조건은 문자 ROI 명암도, 문자 ROI 매칭, 문자 명암도, 브로컨, 브렌치로 분류된다. 제안된 방법은 마크 불량 판별에 커다란 성능향상이 보임을 일련의 실험들을 통하여 보여준다.

A precise sensor fault detection technique using statistical techniques for wireless body area networks

  • Nair, Smrithy Girijakumari Sreekantan;Balakrishnan, Ramadoss
    • ETRI Journal
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    • 제43권1호
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    • pp.31-39
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    • 2021
  • One of the major challenges in wireless body area networks (WBANs) is sensor fault detection. This paper reports a method for the precise identification of faulty sensors, which should help users identify true medical conditions and reduce the rate of false alarms, thereby improving the quality of services offered by WBANs. The proposed sensor fault detection (SFD) algorithm is based on Pearson correlation coefficients and simple statistical methods. The proposed method identifies strongly correlated parameters using Pearson correlation coefficients, and the proposed SFD algorithm detects faulty sensors. We validated the proposed SFD algorithm using two datasets from the Multiparameter Intelligent Monitoring in Intensive Care database and compared the results to those of existing methods. The time complexity of the proposed algorithm was also compared to that of existing methods. The proposed algorithm achieved high detection rates and low false alarm rates with accuracies of 97.23% and 93.99% for Dataset 1 and Dataset 2, respectively.

Novel Average Value Model for Faulty Three-Phase Diode Rectifier Bridges

  • Rahnama, Mehdi;Vahedi, Abolfazl;Alikhani, Arta Mohammad;Nahid-Mobarakeh, Babak;Takorabet, Noureddine
    • Journal of Power Electronics
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    • 제19권1호
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    • pp.288-295
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    • 2019
  • Rectifiers are widely used in industrial applications. Although detailed models of rectifiers are usually used to evaluate their performance, they are complex and time-consuming. Therefore, the Average Value Model (AVM) has been introduced to meet the demand for a simple and accurate model. This type of rectifier modeling can be used to simplify the simulations of large systems. The AVM of diode rectifiers has been an area of interest for many electrical engineers. However, healthy diode rectifiers are only considered for average value modeling. By contrast, faults occur frequently on diodes, which eventually cause the diodes to open-circuit. Therefore, it is essential to model bridge rectifiers under this faulty condition. Indeed, conventional AVMs are not appropriate or accurate for faulty rectifiers. In addition, they are significantly different in modeling. In this paper, a novel application of the parametric average value of a three-phase line-commutated rectifier is proposed in which one diode of the rectifier is considered open-circuited. In order to evaluate the proposed AVM, it is compared with experimental and simulation results for the application of a brushless synchronous generator field. The results clearly demonstrate the accuracy of the proposed model.

신 배전자동화시스템의 배전선로 고장처리 알고리즘 (The Algorithm for Feeder Automation in the New Distribution Automation System)

  • 하복남;이중호;조남훈
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 1998년도 하계학술대회 논문집 C
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    • pp.841-843
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    • 1998
  • The second project of the development of distribution automation system was started recently in Korea. We will use two algorithms for feeder automation in this project. The one is Yes/No logic and it will be applied in large city. Yes/No logic determined the faulty section by fault current following information of the fault indicators of each switches. The other is automatic closing process of switches, and it will be applied in rural area. In the latter method, each switches close systematically, and it can find and separate the faulty section, the computer system treats only the feeder reconfiguration finally.

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CMOS 회로의 전류 테스팅를 위한 내장형 전류감지기 설계 (Design of a Built-in Current Sensor for Current Testing Method in CMOS VLSI)

  • 김강철;한석붕
    • 전자공학회논문지B
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    • 제32B권11호
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    • pp.1434-1444
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    • 1995
  • Current test has recently been known to be a promising testing method in CMOS VLSI because conventional voltage test can not make sure of the complete detection of bridging, gate-oxide shorts, stuck-open faults and etc. This paper presents a new BIC(built-in current sensor) for the internal current test in CMOS logic circuit. A single phase clock is used in the BIC to reduce the control circuitry of it and to perform a self- testing for a faulty current. The BIC is designed to detect the faulty current at the end of the clock period, so that it can test the CUT(circuit under test) with much longer critical propagation delay time and larger area than conventional BICs. The circuit is composed of 18 devices and verified by using the SPICE simulator.

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