Korean Journal of Air-Conditioning and Refrigeration Engineering
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v.10
no.3
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pp.348-357
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1998
The flow characteristics inside U-bend tube of the laminated plate heat exchanger were numerically investigated. The behavior of fluid flow, and the variations of the faulty area and friction factor are examined according to the distance between the span and the wall and the diameter of the round attacked to the end of span. The results show that the diameter(d) of the round attached to the span is mainly associated with the smooth circulation of fluid flow rather than the size of faulty area and the friction factor. As the distance($\ell$) between the span and the wall decreases, the faulty area decreases, however the friction factor dramatically increases. It is also found that one can obtain a good result in the view of the flow characteristics and pressure drop at d=7.5mm and $\ell$=30.5mm.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.10
no.2
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pp.308-314
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2006
A line scan camera is applied to enhance COG(Chip On Glass) inspection accuracy to be measured a few micro unit. The foreign substance detection among various faulty factors has been the most difficult technology in the faulty automatic inspection step since COG pattern is very miniature and complexity. In this paper, we proposed two step area segmentation template matching method to increase matching speed. Futhermore to detect foreign substance(such as dust, scratch) with a few micro unit, the new method using gradient mask and AND operation was proposed. The proposed 2 step template matching method increased 0.3 - 0.4 second matching speed compared with conventional correlation coefficient. Also, the proposed foreign substance applied masks enhanced $5-8\%$ faulty detection rate compared with conventional no mask application method.
Journal of the Korean Institute of Intelligent Systems
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v.17
no.6
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pp.760-765
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2007
The sensor network system which has limited resources is deployed in a wide area and plays an important role of gethering information and monitoring. Generally, fault of sensor nodes which was caused by limited resources and poor environment happens. Futhermore, this fault poses many problems related with required quality of whole network. In this paper, new fault detection algorithm which utilizes both consensus algorithm and localized faulty sensor detection scheme is proposed. To verify the feasibility of the proposed scheme, some simulation and experiment are carried out.
Localized or radiating pain in the arm and shoulder joint may result after faulty alignment causing compression or tension on nerves, blood vessels, or supporting soft tissues. The critical site of faulty alignment is the quadrangular space in the axilla bounded by the teres major, teres minor, long head of triceps, and humerus. The axillary nerve emerges through this space to supply the deltoid and teres minor. The activity of the trigger point on teres minor compressing the axillary nerve causes pain to develop through the area of sensory distribution of cutaneous branch of the axillary nerve. Relieving compression on the axillary nerve and suprascapular nerve is the key point to relieving the pain. Spasm of the supraspinatus and infraspinatus compressing the suprascapular nerve caused pain to develop in the shoulder joint and scapular area. We treated those patients experiencing such pain with local anesthetic infiltration or I-R laser stimulation on the identified trigger points.
The character strings on chips and components are so tiny and numerous that it is a very difficult work for people to perform. In paper, this we propose a mark automatic checking system, which will determine whether chip is wrong-mark or not by recognizing characters on chips. Lots of faulty detection conditions and template matching methods are used to inspect the faulty mark items. The faulty detection classifies conditions as five kinds-darkness, matching, area, broken and branch. A series of experimentation shan that the method proposed here am offer an effective way to determine wrong-mark on chips.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.11
no.3
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pp.577-583
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2007
The character strings on chips and components are so tiny and numerous that it is a very difficult work for people to perform. In this paper, we propose a mark automatic checking system, which will determine whether chip is wrong-mark or not by recognizing characters on chips. Lots of faulty detection conditions and template matching methods are used to inspect the faulty mark items. The faulty detection classifies conditions as five kinds-darkness, matching, area, broken and branch. A series of experimentation show that the method proposed here can offer an effective way to determine wrong-mark on chips.
One of the major challenges in wireless body area networks (WBANs) is sensor fault detection. This paper reports a method for the precise identification of faulty sensors, which should help users identify true medical conditions and reduce the rate of false alarms, thereby improving the quality of services offered by WBANs. The proposed sensor fault detection (SFD) algorithm is based on Pearson correlation coefficients and simple statistical methods. The proposed method identifies strongly correlated parameters using Pearson correlation coefficients, and the proposed SFD algorithm detects faulty sensors. We validated the proposed SFD algorithm using two datasets from the Multiparameter Intelligent Monitoring in Intensive Care database and compared the results to those of existing methods. The time complexity of the proposed algorithm was also compared to that of existing methods. The proposed algorithm achieved high detection rates and low false alarm rates with accuracies of 97.23% and 93.99% for Dataset 1 and Dataset 2, respectively.
Rectifiers are widely used in industrial applications. Although detailed models of rectifiers are usually used to evaluate their performance, they are complex and time-consuming. Therefore, the Average Value Model (AVM) has been introduced to meet the demand for a simple and accurate model. This type of rectifier modeling can be used to simplify the simulations of large systems. The AVM of diode rectifiers has been an area of interest for many electrical engineers. However, healthy diode rectifiers are only considered for average value modeling. By contrast, faults occur frequently on diodes, which eventually cause the diodes to open-circuit. Therefore, it is essential to model bridge rectifiers under this faulty condition. Indeed, conventional AVMs are not appropriate or accurate for faulty rectifiers. In addition, they are significantly different in modeling. In this paper, a novel application of the parametric average value of a three-phase line-commutated rectifier is proposed in which one diode of the rectifier is considered open-circuited. In order to evaluate the proposed AVM, it is compared with experimental and simulation results for the application of a brushless synchronous generator field. The results clearly demonstrate the accuracy of the proposed model.
The second project of the development of distribution automation system was started recently in Korea. We will use two algorithms for feeder automation in this project. The one is Yes/No logic and it will be applied in large city. Yes/No logic determined the faulty section by fault current following information of the fault indicators of each switches. The other is automatic closing process of switches, and it will be applied in rural area. In the latter method, each switches close systematically, and it can find and separate the faulty section, the computer system treats only the feeder reconfiguration finally.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics B
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v.32B
no.11
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pp.1434-1444
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1995
Current test has recently been known to be a promising testing method in CMOS VLSI because conventional voltage test can not make sure of the complete detection of bridging, gate-oxide shorts, stuck-open faults and etc. This paper presents a new BIC(built-in current sensor) for the internal current test in CMOS logic circuit. A single phase clock is used in the BIC to reduce the control circuitry of it and to perform a self- testing for a faulty current. The BIC is designed to detect the faulty current at the end of the clock period, so that it can test the CUT(circuit under test) with much longer critical propagation delay time and larger area than conventional BICs. The circuit is composed of 18 devices and verified by using the SPICE simulator.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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