JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제7권4호
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pp.221-228
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2007
In this paper, we propose a new symbolic simulation for scan chain diagnosis to solve the diagnosis resolution problem. The proposed scan chain fault simulation, called the SF-simulation, is able to analyze the effects caused by faulty scan cells in good scan chains. A new scan chain fault simulation is performed with a modified logic ATPG pattern. In this simulation, we consider the effect of errors caused by scan shifting in the faulty scan chain. Therefore, for scan chain diagnosis, we use the faulty information in good scan chains which are not contaminated by the faults while unloading scan out responses. The SF-simulation can tighten the size of the candidate list and achieve a high diagnosis resolution by analyzing fault effects of good scan chains, which are ignored by most previous works. Experimental results demonstrate the effectiveness of the proposed method.
본 논문은 테스트 수행 중 발생하는 전력 소모를 줄이기 위한 변경된 스캔 셀 구조를 제안하고 있다. 이는 스캔 이동 중에 조합 회로 부분에서 발생하는 천이를 억제할 뿐 아니라 동시에 스캔 체인 내에서 발생하는 천이도 감소시킨다. 뿐만 아니라 캡쳐 싸이클에서 발생하는 천이 또한 제한시킨다. 제안하는 방식은 test-per-scan BIST 구조에 적합하고 싱글 스캔 구조 뿐 아니라 멀티 스캔 구조에도 적응 가능하다. 실험 결과는 제안하는 방법이 기존의 방법들과 비슷한 수준의 고장 검출율을 가지면서 보다 적은 전력을 소모한다는 것을 보여준다.
스캔 기반 테스트 방법은 큰 순차 회로를 테스트하기 위한 매우 효율적이며 널리 사용되는 방법이다. 그러나 스캔 기반 테스트 방법은 테스트 패턴을 긴 스캔 체인을 통해서 순차적으로 인가해야 하기 때문에 긴 테스트 인가 시간을 필요로 한다. 또한, 스캔 쉬프트 동작이 정상 동작과 비교할 때 전력 소모를 급격히 증가시킨다. 이러한 문제점을 해결하기 위해서, 본 논문에서는 테스트 패턴 인가 시간과 테스트시의 전력 소모를 줄이기 위한 새로운 스캔 구조를 제안한다. 제안하는 스캔 구조는 스캔 체인을 여러 개의 세그먼트로 분할하고 specified bit를 포함하지 않는 세그먼트들을 바이패스 한다. 바이패스 되는 스캔 세그먼트들은 테스트 패턴 인가 동작에서 제외되기 때문에 테스트 패턴 인가 시간과 테스트시의 소모 전력이 상당히 줄어들게 된다.
Purpose: For a single time-point hyperpolarized $^{13}C$ magnetic resonance spectroscopy imaging (MRSI) of animal models, scan-time window after injecting substrates is critical in terms of signal-to-noise ratio (SNR) of downstream metabolites. Pre-scans of time-resolved magnetic resonance spectroscopy (MRS) can be performed to determine the scan-time window. In this study, based on two-site exchange model, protocol-specific simulation approaches were developed for $^{13}C$ MRSI and the optimal scan-time window was determined to maximize the SNR of downstream metabolites. Materials and Methods: The arterial input function and conversion rate constant from injected substrates (pyruvate) to downstream metabolite (lactate) were precalibrated, based on pre-scans of time-resolved MRS. MRSI was simulated using two-site exchange model with considerations of scan parameters of MRSI. Optimal scan-time window for mapping lactate was chosen from simulated lactate intensity maps. The performance was validated by multiple in vivo experiments of BALB/C nude mice with MDA-MB-231 breast tumor cells. As a comparison, MRSI were performed with other scan-time windows simply chosen from the lactate signal intensities of pre-scan time-resolved MRS. Results: The optimal scan timing for our animal models was determined by simulation, and was found to be 15 s after injection of the pyruvate. Compared to the simple approach, we observed that the lactate peak signal to noise ratio (PSNR) was increased by 230%. Conclusion: Optimal scan timing to measure downstream metabolites using hyperpolarized $^{13}C$ MRSI can be determined by the proposed protocol-specific simulation approaches.
A new scan partition architecture to reduce both the average and peak power dissipation during scan testing is proposed for low-power embedded systems. In scan-based testing, due to the extremely high switching activity during the scan shift operation, the power consumption increases considerably. In addition, the reduced correlation between consecutive test patterns may increase the power consumed during the capture cycle. In the proposed architecture, only a subset of scan cells is loaded with test stimulus and captured with test responses by freezing the remaining scan cells according to the spectrum of unspecified bits in the test cubes. To optimize the proposed process, a novel graph-based heuristic to partition the scan chain into several segments and a technique to increase the number of don't cares in the given test set have been developed. Experimental results on large ISCAS89 benchmark circuits show that the proposed technique, compared to the traditional full scan scheme, can reduce both the average switching activities and the average peak switching activities by 92.37% and 41.21%, respectively.
ES 시스템에서 레이더를 식별하는 능력을 향상하기 위해서는 주파수, 펄스반복주기 및 펄스폭 등과 같은 기본 식별변수 이외에 스캔특성을 추정하는 기법이 필요하다. 본 논문에서는 원형스캔 레이더의 스캔특성인 스캔주기와 스캔빔폭을 추정하는 방법을 제안하였다. 제안된 방법은 주기함수의 자기상관관계 특징을 이용하여 스캔주기를 추정한다. 그리고 제안된 스캔주기추정기법과 선형 보간법을 이용하여 스캔빔폭을 추정한다. 제안한 방법의 성능을 입증하기 위해 다양한 모의신호에 대한 실험결과를 제시하였다.
This paper describes the designed and fabricated thermal imaging system with the SPRITE(Signal PRocessing in The Element) detector, operating in the 3-12 micron band. This system consists of an afocal telescope, a scan unit containing the SPRITE detector, an electronic processor unit and a cooler. The optical scan system utilizing rotating polygon and oscillating mirror, is 2-dimensional serial/parallel scan type using five elements of the detector. And the electronic processor unit performs digital scan conversion to reform the parallel data stream into serial analog data compatable with conventional RS-170 video. The scan field of view is 40 ${\times}$ 26.7 and the MRTD(Minium Resolvable Temperature Difference) is 0.6 K at 7.5 cycles/mm. The acquired thermal image indicates that this system has a satisfactory performance.
Various defects are found in FPD (Flat Panel Display) manufacturing process. So detecting these defects early and reprocessing them is an important factor that reduces the cost of production. In this paper, the bare glass inspection system for the FPD which is the early process inspection system in the FPD manufacturing process is designed and implemented using the high performance and accuracy CCD line scan camera. For the preprocessing of the high speed line image data, the Image Processing Part (IPP) is designed and implemented using high performance DSP (Digital signal Processor), FIFO (First in First out), FPGA (Field Programmable Gate Array) and the Data Management and System Control part are implemented using ARM (Advanced RISC Machine) processor to control many IPP and cameras and to provide remote users with processed data. For evaluating implemented system, experiment environment which has an area camera for reviewing and moving shelf is made.
This paper describes the design principles and methods of electronic processor for thermal imager with the SPRITE detector, operating in the 8-12 micron band. The thermal imager consists of a optical scanner containing the detector and an electrical signal processor. The optical scanner utilizing rotating polygon and oscillating mirror, is 2-dimensional serial/parallel scan type using 5 elements of the detector. And the electronic processor has pre-processing of 5 chnanel's thermal signal from the detector, and performs digital scan conversion to reform the parallel data stream into serial analog data compatible with conventional RS-170 video. Through the designed electronic processor, we have acquired a satisfactory thermal image. And the MRTD (Minimum Resolvable Temperature Difference) is 0.5$^{\circ}$K at 7.5 cycles/mm.
In this paper, reconstruction algorithms of spiral scan imaging which has been used for ultra fast magnetic resonance imaging have been reviewed, and some simulation results using two different algorithms are reported. Since the trajectory of the spiral scan in k-space is the spiral, reconstruction of the spiral scan is not as straight forward as that used in Fourier imaging technique where the sampling points are usually on the rectangular grids. Originally the reconstruction of the spiral scan imaging was based on the convolution backprojection algorithm modified with a shift term, however, some other reconstruction techniques have also been tried by remapping sampling points from spiral trajectory to Cartesian grids. Some experimental aspects of MR spiral scan imaging will also be addressed.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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