Factors to Influence Thermal-Cycling Reliability of Passivation Layers in Semiconductor Devices Utilizing Lead-on-Chip (LOC) Die Attach Technique (리드 온 칩 패키징 기술을 이용하여 조립된 반도체 제품에서 패시베이션 박막의 TC 신뢰성에 영향을 미치는 요인들)
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- Korean Journal of Materials Research
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- v.19 no.5
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- pp.288-292
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- 2009