Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.21
no.4
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pp.348-353
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2008
Most of the high voltage insulation systems, such as the power cable joint having hetero interface, are composed of more than two different insulators to improve insulating performance. The partial discharge(PD) in these hetero interface is expected to affect the total insulation performance. Thus, it is important to study electrical properties on these interfaces. This study described the influence of copper and semiconductive substance defects on $\Phi$-q-n distribution between the interface of the model cable joints to classify PD source. PD was sequentially detected for 600 cycles of the applied voltage. The K-means cluster analysis has been analyzed to investigate the $\Phi$-q-n distribution. The skewness-kurtosis(Sk-Ku) plot from K-means clustering results was defined to quantify cluster distribution and classify distribution patterns. The Sk-Ku plot is composed of skewness and kurtosis along abscissa and ordinate which indicate the asymmetry and the sharpness of distribution. As a result of the Sk-Ku plot, it was confirmed that the data was distributed in 1st 2nd and 3rd quadrant at copper foreign substance defect, but in case of semiconductive foreign substance, the data was distributed in 2nd quadrant only.
Journal of Korean Society of Industrial and Systems Engineering
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v.45
no.4
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pp.157-166
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2022
In the case of a die-casting process, defects that are difficult to confirm by visual inspection, such as shrinkage bubbles, may occur due to an error in maintaining a vacuum state. Since these casting defects are discovered during post-processing operations such as heat treatment or finishing work, they cannot be taken in advance at the casting time, which can cause a large number of defects. In this study, we propose an approach that can predict the occurrence of casting defects by defect type using machine learning technology based on casting parameter data collected from equipment in the die casting process in real time. Die-casting parameter data can basically be collected through the casting equipment controller. In order to perform classification analysis for predicting defects by defect type, labeling of casting parameters must be performed. In this study, first, the defective data set is separated by performing the primary clustering based on the total defect rate obtained during the post-processing. Second, the secondary cluster analysis is performed using the defect rate by type for the separated defect data set, and the labeling task is performed by defect type using the cluster analysis result. Finally, a classification learning model is created by collecting the entire labeled data set, and a real-time monitoring system for defect prediction using LabView and Python was implemented. When a defect is predicted, notification is performed so that the operator can cope with it, such as displaying on the monitoring screen and alarm notification.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.11
no.1
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pp.42-47
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2010
Polymer insulating materials such as cross linked polyethylene (XLPE) are employed in electric cables used for extra high voltage. These materials can degrade due to chemical, mechanical and electric stress, possibly caused by voids, the presence of extrinsic materials and protrusions. Therefore, this study measured discharge patterns, discharge phase angle, quantity and occurrence frequency as well as changes in XLPE under different temperatures and applied voltages. To quantitatively analyze the irregular partial discharge patterns measured, the discharge patterns were examined using a statistical program. A three layer sample was fabricated, wherein the upper and lower layers were composed of non-void XLPE, while the middle layer was composed of an air void and copper particles. After heating to room temperature and $50^{\circ}C$ and $80^{\circ}C$ in silicone oil, partial discharge characteristics were studied by increasing the voltage from the inception voltage to the breakdown voltage. Partial discharge statistical analysis showed that when the K-means clustering was carried out at 9 kV to determine the void discharge characteristics, the amount discharged at low temperatures was small but when the temperature was increased to $80^{\circ}C$, the discharge amount increased to be 5.7 times more than that at room temperature because electric charge injection became easier. An analysis of the kurtosis and the skewness confirmed that positive and negative polarity had counterclockwise and clockwise clustering distribution, respectively. When 5 kV was applied to copper particles, the K-means was conducted as the temperature changed from $50^{\circ}C$ to $80^{\circ}C$. The amount of charge at a positive polarity increased 20.3% and the amount of charge at a negative polarity increased 54.9%. The clustering distribution of a positive polarity and negative polarity showed a straight line in the kurtosis and skewness analyses.
Journal of Korean Society of Industrial and Systems Engineering
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v.44
no.1
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pp.60-70
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2021
Recently, with the development of technologies for the fourth industrial revolution, convergence and complex technology are being applied to aircraft, electronic home appliances and mobile devices, and the number of parts used is increasing. Increasing the number of parts and the application of convergence technologies such as HW (hardware) and SW (software) are increasing the No Defect Found (NDF) phenomenon in which the defect is not reproduced or the cause of the defect cannot be identified in the subsequent investigation systems after the discovery of the defect in the product. The NDF phenomenon is a major problem when dealing with complex technical systems, and its consequences may be manifested in decreased safety and dependability and increased life cycle costs. Until now, NDF-related prior studies have been mainly focused on the NDF cost estimation, the cause and impact analysis of NDF in qualitative terms. And there have been no specific methodologies or examples of a working-level perspective to reduce NDF. The purpose of this study is to present a practical methodology for reducing NDF phenomena through data mining methods using quantitative data accumulated in the enterprise. In this study, we performed a cluster analysis using market defects and design-related variables of mobile devices. And then, by analyzing the characteristics of groups with high NDF ratios, we presented improvement directions in terms of design and after service policies. This is significant in solving NDF problems from a practical perspective in the company.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.20
no.11
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pp.959-964
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2007
To investigate the influence of partial discharge(PD) distribution characteristics due to various defects on the power cable joints interface, we used the K-means clustering method. As the result of PD number(n) distribution analyzing on $\Phi-n$ graph, the phase angle($\Phi$) of cluster centroid shifted to $0^{\circ}\;and\;180^{\circ}$ increasing with applying voltage. It was confirmed that the PD quantify(q) and euclidean distance of centroid were increased with applying voltage from the centroid distribution analyzing of $\Phi-q$ plane. The dispersion degree was increased with calculated standard deviation of the $\Phi-q$ cluster centroid. The PD number and mean value on $\Phi-q$ graph were some different by electric field concentration with defect types.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2007.11a
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pp.203-204
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2007
This paper investigated the influence on partial discharge distribution of various defects at the model power cable joints interface using K-means clustering. As the result of analyzing discharge number distribution of ${\Phi}-n$ cluster, clusters shifted to $0^{\circ}\;and\;180^{\circ}$ with increasing applying voltage. It was confirmed that discharge quantity and euclidean distance between centroids were increased with applying voltage from the analyzing centroid distribution of ${\Phi}-q$ cluster. The degree of dispersion was increased with calculating standard deviation of ${\Phi}-q$ cluster centroid. The tendency both number of discharge and mean value of ${\Phi}-q$ cluster centroid were some different with defect types.
In this paper, we propose a new machine vision algorithm for automatic defect detection on patterned textures with the help of texture-periodicity and the Jensen-Shannon Divergence, which is a symmetrized and smoothed version of the Kullback-Leibler Divergence. Input defective images are split into several blocks of the same size as the size of the periodic unit of the image. Based on histograms of the periodic blocks, Jensen-Shannon Divergence measures are calculated for each periodic block with respect to itself and all other periodic blocks and a dissimilarity matrix is obtained. This dissimilarity matrix is utilized to get a matrix of true-metrics, which is later subjected to Ward's hierarchical clustering to automatically identify defective and defect-free blocks. Results from experiments on real fabric images belonging to 3 major wallpaper groups, namely, pmm, p2, and p4m with defects, show that the proposed method is robust in finding fabric defects with a very high success rates without any human intervention.
The precipitation of solutes is a major cause of irradiation hardening and embrittlement limiting the service life of reactor pressure vessel (RPV) steels. Impurities play a significant role in the formation of precipitation in RPV materials. In this study, the effects of carbon on cluster formation and irradiation hardening were investigated in an RPV alloy Fe-1.35Mn-0.75Ni using C and Fe ions irradiation at 290 ℃. Nanoindentation results showed that C ion irradiation led to less hardening below 1.0 dpa, with hardening continuing to increase gradually at higher doses, while it was saturated under Fe ion irradiation. Atom probe tomography revealed a broad size distribution of Ni-Mn clusters under Fe ion irradiation, contrasting a narrower size distribution of small Ni-Mn clusters under C ion irradiation. Further analysis indicated the influence of carbon on the cluster formation, with solute-precipitated defects dominating under C ion irradiation but interstitial clusters dominating under Fe ion irradiation. Simulations suggested that carbon significantly affected solute nucleation, with defect clusters displaying smaller size and higher density as carbon concentration increased. The higher hardening at doses above 1.0 dpa was attributed to a substantial increase in the number density of defect clusters when carbon was present in the matrix.
Recently, there is an increasing interest in analysis of big data that is coming from manufacturing industry. In this paper, we use PCB (Printed Circuit Board) manufacturing data to provide manufacturers with information on areas with high PCB defect rates, and to visualize them to facilitate production and quality control. We use the K-means and DBSCAN clustering algorithms to derive the high fraction of PCB defects, and compare which of the two algorithms provides more accurate results. Finally, we develop a system of MVC structure to visualize the information about bad clusters obtained through clustering, and visualize the defected areas on actual PCB images.
The Transactions of the Korea Information Processing Society
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v.5
no.8
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pp.2041-2049
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1998
This paper suggests a technique for program segmentation and maintenance using PSDG(Post-State Dependency Graph) that improves the quality of a software by identifying and detecting defects in already fixed source code. A program segmentation is performed by utilizing source code analysis which combines the measures of static, dynamic and semantic slicing when we need understandability of defect in programs for corrective maintanence. It provides users with a segmental principle to split a program by tracing state dependency of a source code with the graph, and clustering and highlighting, Through a modeling of the PSDG, elimination of ineffective program deadcode and generalization of related program segments arc possible, Additionally, it can be correlated with other design modeb as STD(State Transition Diagram), also be used as design documents.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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