• 한국자동차공학회논문집
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• 제21권3호
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• pp.134-141
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• 2013

Reflow soldering process is essential in electronic package. Reflow process for a long time results from the decrease of reliability because IMC is formed excessively. Solder alloys of Sn-37Pb and Sn-Ag with different kinds of Cu contents (0, 0.5 and 1 wt.%) as compared with Ni and Cu plate joints are investigated according to varying reflow time. The interfaces of solder joints are observed to analyze IMC (intermetallic compound) growth rate by scanning electron microscope (SEM). Shear test is also performed by using SP (Share-Punch) tester. The test results are compared with the solder joints of two different plates (Ni and Cu plate). $Cu_6Sn_5$ IMCs are formed on Cu plate interfaces after reflows in all samples. Ni3Sn4 and $(Cu,Ni)_6Sn_5$ IMCs are also formed on Ni plate interfaces. The IMC layer forms are affected by reflow time and contents of solder alloy. These results show that mechanical strength of solder joints strongly depends on thickness and shape of IMC.

• 마이크로전자및패키징학회지
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• 제22권3호
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• pp.51-56
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• 2015

솔더 조인트의 신뢰성 강화를 위해서 다양한 pad finish material이 사용되고 있으며, 최근에는 Electroless Ni Electroless Pd Immersion Gold (이하 ENEPIG) pad가 많이 사용되고 있다. 따라서, 본 연구는 상용화 되어 사용중인 Electrolytic Ni (soft Ni) pad와 최근 이슈가 되고 있는 ENEPIG pad에 대한 신뢰성 평가에 관한 것으로, 다양한 Cu 함량에 따른 거동을 관찰 하였다. Reflow 후 솔더와 pad간의 접합층은 $Cu_6Sn_5$에 Ni이 치환된 형태의 금속간 화합물로 구성되어 있었으며, ENEPIG pad의 경우, 접합층과 Ni layer 사이에 $Ni_3P$ (dark layer) layer가 관찰 되었다. 또한, Cu 함량에 따라 Dark layer의 두께를 제어할 수 있었다. 충격 낙하 시험 후, 파괴모드를 관찰한 결과 soft Ni pad와 ENEPIG pad에서 서로 다른 파괴모드가 관찰 되었으며, soft Ni의 경우, 1차 IMC와 2차 IMC 경계에서 파괴가 관찰 되었고, ENEPIG pad의 경우, dark layer에서 파괴가 관찰 되었다. IMC와 pad material, bulk 솔더와의 lattice mismatch에 의해 불안정한 계면이 존재하며, 이는 연속적인 외부 충격에 의해 가해진 열적, 물리적 스트레스를 IMC 계면으로 전송하기 때문에, 솔더의 신뢰성 향상을 위해서는 솔더 벌크의 제어와 IMC의 두께 및 형상의 제어는 필요하다.

• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 2000년도 하계학술대회 논문집 C
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• pp.1652-1654
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• 2000

고상반응법을 이용하여 $Ni_{0.6-x}Cu_{x}Zn_{0.4}Fe_{2}O_4$(x=0, 0.1, 0.2, 0.3) ferrite 분말을 제조하고 1200$^{\circ}C$에서 열처리하여 Cu 첨가에 따른 입자변화와 전자파흡수 특성과의 관계를 조사하였다. Ni를 Cu로 0.1 mol 치환했을 때 까지는 포화자화 및 전자파흡수능이 치환하지 않았을 때와 거의 비슷하였으나, 그 이상 첨 가시는 직선적으로 감소하였다.

• 한국자기학회지
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• 제8권2호
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• pp.79-85
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• 1998

e-beam evaporator로 [Ni80Fe20/Cu/Co/Cu] 다층박막을 증착하여 자성층 사이의 교환 결합 상태에 따라 Co를 Ni80Fe20/Cu 계면에 삽입, 자기 저항비와 자기 저항비와 자화 곡선의 변화를 연구하였다. 강자성 결합 및 비 결합에서는, 계면에 Co를 삽입하게 되면, 자기 저한 값이 증가하지만 반강자성 결합에서는 자기 저항 값이 감소하는 경향이 보였다. 이러한 원인은 계면에 삽입되는 Co가 계면 산란을 증가시키는 것 뿐만 아니라 자성층 간의 교환 결합상태를 변화 시키기 때문에 것으로 판단된다. 아울러 계면에 삽입된 Co는 박막의 다층 구조를 30$0^{\circ}C$ 이상까지 유지시키며 이는 Cork 효과적인 확산 장애물(diffusion barrier)역할을 하기 때문으로 판단된다.

• 한국마이크로전자및패키징학회:학술대회논문집
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• 한국마이크로전자및패키징학회 2001년도 추계 기술심포지움
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• pp.89-98
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• 2001

Pb-free wave soldering process of AC Adapter was implemented by six sigma method using Sn-Cu-Ni type solder. The solder joint appearance, microstructural change, a lift-off phenomenon and reliability were evaluated through thermal shock teal. $(Cu,Ni)_6Sn_5$-type intermetallic compound of which thickness is about 5 micron was found at solder joint between Sn-Cu-Ni solder and copper land. After applying the thermal shock test of as-soldered product up to 750 cycles, no crack was found at the solder joint and the newly developed product was superior to conventions; one in terms of productivity and reliability.

• 한국전기전자재료학회논문지
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• 제17권12호
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• pp.1352-1355
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• 2004

We have applied front contact metallization of plated nickel and copper for high efficiency passivated emitter rear contact(PERC) solar cell. Ni is shown to be a suitable barrier to Cu diffusion as well as desirable contact metal to silicon. The plating technique is a preferred method for commercial solar cell fabrication because it is a room temperature process with high growth rates and good morphology. In this system, the electroless plated Ni is utilized as the contact to silicon and the plated Cu serves as the primary conductor layer instead of traditional solution that are based on Ti/Pd/Ag contact system. Experimental results are shown for over 20 % PERC cells with the Plated Ni/Cu contact system for good performance at low cost.

• 한국주조공학회지
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• 제10권5호
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• pp.426-434
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• 1990

Continuous casting of the Al-Cu-Ni ternary eutectic alloys was carried out by the upward continuous casting process. The morphology of the ternary eutectic growth and the stability of solid-liquid interface were investigated under various growth conditions. It was possible to get the planar solid-liquid interface at the condition of $G_L/R＝3.59{\times}10^3^{\circ}C\;sec/mm^2$ in Al-Cu-Ni ternary eutectic alloys. In Al-rich, Ni-rich and Cu-rich hypereutectics of Al-Cu-Ni ternary alloys, primary ${\alpha},\;{\tau}\;and\;{\theta}$ dendrites have grown as the leading phase ahead of the ternary eutectic composites.

• 한국표면공학회지
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• 제22권1호
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• pp.3-9
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• 1989

The intermetallic compount formation, growth rections, and growth kinetices as functions of the aging temperaturess, time, and the condition of substarte have invedtigted in the Sn/Cu and Sn/Ni bimetal couples. The η'-phase (Cu6Sn5) and $\delta$-phase (Ni3Sn4) were only found to grow at 20 and $70^{\circ}C$in the Sn/Cu and Sn/Ni bimetallic coples repectively. Above that temperatures, all other compounds were formed in sequence of high Sn content plase and the metastable Cu41Sn11 was formed at agend $200^{\circ}C$. The ectivation energy for the growth of intermetallic compounds was 14.7Kxal/mole in the Sn/Cu interface and 26.7Kcal/mole in the Sn/Ni interface.

• E2M - 전기 전자와 첨단 소재
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• 제8권6호
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• pp.715-720
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• 1995

기계적 합금화법에 의한 비정질화 과정을 Ni-Ta계 및 Cu-Ta계에 대하여 조사하였다. Ni-Ta합금계는 혼합엔탈피가 음이나, Cu-Ta계는 혼합엔탈피가 양인 열역학적으로 대조적인 합금계이다. 볼밀 중 발생하는 원자구조 변화를 중성자회절법을 이용하여 관찰하였다. 두 합금게에 있어서 기계적 합금화에 의한 비정질상이 생성되었다. 비정질 Cu-Ta합금의 local원자구조를 혼합엔탈피가 크게 음인 Ni-Ta계의 결과와 비교하였다. 그 결과, 대조적 특성을 가진 두 합금계임에도 불구하고 원자크기가 작은 Ni 및 Cu가 bcc Ta의 결정격자 속으로 우선적으로 침입함으로써 비정질화가 진행됨을 알 수 있었다.

• 한국표면공학회지
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• 제45권5호
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• pp.188-192
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• 2012

The hetero junction on dielectrics and ferrite for LTCC was prepared by using NiCuZn ferrite. The shrinkage behaviour of ferrite tapes in combination with a dielectric tape was investigated. The characteristics of NiCuZn ferrite were investigated using XRD (X-ray diffractometer), Dilatometer, FE-SEM (Field emission scanning electron microscope), EDS (Energy dispersive spectrometer). NiCuZn ferrite calcined at $700^{\circ}C$ had a good apparent density and initial permeability of magnetic properties. The shrinkage rate of the NCZF700 ferrite and dielectric material was similar. The multilayer revealed dense, uniform morphologies with excellent interface quality. Diffusion of hetero junction such as dielectric and ferrite was not occuring at $900^{\circ}C$.