Graphene has attracted an increasing attention due to its extraordinary electronic, mechanical, and thermal properties. Especially, the two dimensional (2D) sheet of graphene with an extremely high surface to volume ratio has a great potential in the preparation of multifunctional nanomaterials, as 2D supports to host metal nanoparticles (NPs). Copper oxide is widely used in various areas as antifouling paint, p-type semiconductor, dry cell batteries, and catalysts. Although the copper oxide(II) has been well known for efficient catalyst in C-N cross-coupling reaction, copper oxide(I) has not been highlighted. In this research, CuO and Cu2O nanoparticles (NPs) dispersed on the surface of grapehene oxide (GO) have been synthesized by impregnation method and their morphological and electronic structures have been systemically investigated using TEM, XRD, and XAFS. We demonstrate that both CuO and Cu2O on graphene presents efficient catalytic performance toward C-N cross coupling reaction. The detailed structural difference between CuO and Cu2O NPs and their effect on catalytic performance are discussed.
In order to study the effect of interface oxides on the adhesion strength of the copper/epoxy system, copper foils were immersed in black oxide or brown oxide forming solutions before lamination with epoxy prepregs, and variation of peel strength with the treatment time were investigated. Results showed that peel strength decreased rapidly up to 1 minute of treatment lime and remained constant in the case of the black oxide treated specimens, which was accompanied by the thickening of $Cu_2O$ at the Copper/Epoxy interface during the period. In contrast, peel strength increased rapidly up to 1 minute of treatment time and remained constant in the case of the brown oxide treated specimens, which could be ascribed to the thickening of CuO. Subsequent heat treatments of the Copper/Epoxy laminations at $120^{\circ}C$ in air showed that peel strength remained constant in the case of the black oxide treated specimens but decreased gradually in the case of the brown oxide treated specimens. Following XPS analyses revealed that the latter was possibly caused by the coalescence of CuO at the Copper/Epoxy interface into $Cu_2O$.
Park, Ju-Yun;Lim, Kyoung-A;Ramsier, Rex D.;Kang, Yong-Cheol
Bulletin of the Korean Chemical Society
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제32권9호
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pp.3395-3399
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2011
Copper oxide thin films were synthesized by reactive radio frequency magnetron sputtering at different oxygen gas ratios. The chemical and physical properties of the thin films were investigated by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), scanning electron microscopy (SEM), atomic force microscopy (AFM), and X-ray diffraction (XRD). XPS results revealed that the dominant oxidation states of Cu were $Cu^0$ and $Cu^+$ at 0% oxygen ratio. When the oxygen ratios increased above 5%, Cu was oxidized as CuO as detected by X-ray induced Auger electron spectroscopy and the $Cu(OH)_2$ phase was confirmed independent of the oxygen ratio. The valence band maxima were $1.19{\pm}0.09$ eV and an increase in the density of states was confirmed after formation of CuO. The thickness and roughness of copper oxide thin films decreased with increasing oxygen ratio. The crystallinity of the copper oxide films changed from cubic Cu through cubic $Cu_2O$ to monoclinic CuO with mean crystallite sizes of 8.8 nm (Cu) and 16.9 nm (CuO) at the 10% oxygen ratio level.
Park, Yeon-Woong;Seong, Nak-Jin;Jung, Hyun-June;Chanda, Anupama;Yoon, Soon-Gil
한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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한국전기전자재료학회 2009년도 추계학술대회 논문집
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pp.245-245
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2009
l-D nanostructured materials have much more attention because of their outstanding properties and wide applicability in device fabrication. Copper oxide(CuO) has been realized as a p-type metal oxide semiconductor with narrow band gap of 1.2 -1.5eV. Copper oxide nanostructures can be synthesized by various growth method such as oxidation reaction, thermal evaporation thermal decomposition, sol-gel. and Mostly CuO nanowire prepared on the Cu substrate such as Copper foil, grid, plate. In this study, CuO NWs were grown by thermal oxidation (at various temperatures in air (1 atm)) of Cu metal deposited on CuO (20nm)/$SiO_2$(250nm)/Si. A 20nm-thick CuO layer was used as an adhesion layer between Cu metal and $SiO_2$
Assembling heterostructures by combining dissimilar oxide semiconductors is a promising approach to enhance charge separation and transfer in photoelectrochemical (PEC) water splitting. In this work, the CuO nanorods array/$Cu_2O$ thin film bilayered heterostructure was successfully fabricated by a facile method that involved a direct electrodeposition of the $Cu_2O$ thin film onto the vertically oriented CuO nanorods array to serve as the photoelectrode for the PEC water oxidation. The resulting copper-oxide-based heterostructure photoelectrode exhibited an enhanced PEC performance compared to common copper-oxide-based photoelectrodes, indicating good charge separation and transfer efficiency due to the band structure realignment at the interface. The photocurrent density and the optimal photocurrent conversion efficiency obtained on the CuO nanorods/$Cu_2O$ thin film heterostructure were $0.59mA/cm^2$ and 1.10% at 1.06 V vs. RHE, respectively. These results provide a promising route to fabricating earth-abundant copper-oxide-based photoelectrode for visible-light-driven hydrogen generation using a facile, low-cost, and scalable approach of combining electrodeposition and hydrothermal synthesis.
본 연구에서는 산화주석(IV) 첨가량을 달리하여 동화유약 시편을 제조하고 발색기구를 분석하기 위하여 분광 분석, 결정상 분석, 미세구조 분석을 실시하여 색상과의 상관성을 분석하였다. 산화주석(VI) 첨가량이 증가함에 따라 동화유약의 붉은색은 사라지고 CIEab 값이 감소하여 무채색으로 발색하였다. 산화주석은 유약층에 고르게 분포하여 Cu nuclei가 성장하여 붉은색으로 발색하는 것을 방해하고 기포 주변의 metal Cu와 반응하여 합금을 형성하였다. 이로 인해 산화주석 첨가량이 증가함에 따라 금속 Cu 피크는 사라지고 미세한 $Cu_2O$ 피크만 남게 된다. 산화주석을 3.79 % 첨가하였을 때는 유약에 붉은색을 내는 $Cu_2O$보다 검정색을 나타내는 CuO와 Cassiterite $SnO_2$가 색상에 더 영향을 미치는 것으로 보여진다.
Copper oxide is a multi-functional material being used in various research areas including catalysis, electrochemical materials, oxidizing agents etc. Among these areas, we have synthesized and utilized graphene based copper oxide nanocomposites (CuOx/Graphene) for the catalytic applications (C-N cross coupling reaction). Briefly, Cu precursors were anchored on the graphite oxide(GO) sheets being exfoliated and oxidized from graphite powder. Two different crystalline structures of Cu2O and CuO on graphene and GO were prepared by annealing them in Ar and O2 environments, respectively. The morphological and electronic structures were systemically investigated using FT-IR, XRD, XPS, XAFS, and TEM. Here, we demonstrate that the catalytic performance was found to depend on oxidative states and morphological structures of CuOx graphene nanocomposites. The relationship between the structure of copper oxides and catalytic efficiency toward C-N cross coupling reaction will be discussed.
Copper oxide thin films were deposited on the p-type Si(100) by r.f. magnetron sputtering as a function of different substrate temperature. The deposited copper oxide thin films were investigated by atomic force microscopy (AFM), scanning electron microscopy (SEM), spectroscopic ellipsometry (SE), X-ray diffraction (XRD), and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The SEM and SE data show that the thickness of the copper oxide films was about 170 nm. AFM images show that the surface roughness of copper oxide films was increased with increasing substrate temperature. As the substrate temperature increased, monoclinic CuO (111) peak appeared and the crystal size decreased while the monoclinic CuO (-111) peak was independent on the substrate temperature. The oxidation states of Cu 2p and O 1s resulted from XPS were not affected on the substrate temperature. The contact angle measurement was also studied and indicated that the surface of copper oxide thin films deposited high temperature has more hydrophobic surface than that of deposited at low temperature.
In the present work, copper oxide thin films were formed by heat-treatment method with different temperatures and atmosphere, e.g., at 200 ~ 400 ℃; in air and Ar atmosphere. The morphological, electrical and optical properties of the thermally fabricated Cu oxide films were analyzed by SEM, XRD, and UV-VIS spectrometer. Thereafter, photoelectrochemical properties of the thermal copper oxide films were analyzed under solar light (AM 1.5, 100 mW/cm2). Conclusively, the highest photocurrent was obtained with Cu2O formed under the optimum annealing condition at 300 ℃ in air atmosphere. In addition, EIS results of Cu oxide formed in air atmosphere showed relatively low resistance and long electron life-time compared with Cu Oxide fabricated in Ar atmosphere at the same temperature. This is because heat-treatment in Ar atmosphere could not form Cu2O due to lack of oxygen, and thermally formed CuO at high temperature suppressed stability and conductivity of the Cu oxide.
In this study, copper (II) oxide powder for electroplating was prepared by recovering CuCl2 from NaClO3 type etching wastes via recovered non-sintering two step chemical reaction. In case of alkali copper carbonate [mCuCo3·nCu(OH)2], first reaction product, CuCo3 is produced more than Cu(OH)2 when the reaction molar ratio of sodium carbonate is low, since m is larger than n. As the reaction molar ratio of sodium carbonate increased, m is larger than n and Cu(OH)2 was produced more than CuCO3. In the case of m has same values as n, the optimum reaction mole ratio was 1.44 at the reaction temperature of 80℃ based on the theoretical copper content of 57.5 wt. %. The optimum amount of sodium hydroxide was 120 g at 80℃ for production of copper (II) oxide prepared by using basic copper carbonate product of first reaction. At this time, the yield of copper (II) oxide was 96.6 wt.%. Also, the chloride ion concentration was 9.7 mg/L. The properties of produced copper (II) oxide such as mean particle size, dissolution time for sulfuric acid, and repose angle were 19.5 mm, 64 second, and 34.8°, respectively. As a result of the hole filling test, it was found that the copper oxide (II) prepared with 120 g of sodium hydroxide, the optimum amount of basic hydroxide for copper carbonate, has a hole filling of 11.0 mm, which satisfies the general hole filling management range of 15 mm or less.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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