Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2011.02a
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pp.50-50
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2011
The aluminum nitride films were prepared by RF magnetron sputtering using an AlN ceramic target. The crystallinity, grain size, Al-N bonding and thermal conductivity were investigated in dependence on the plasma power densities (4.93, 7.40, 9.87 W/$cm^2$) during sputtering. High thermal conductivity is important properties of A1N passivation layer for functioning properly in thermal inkjet printhead. The crytallinity, grain size, Al-N bonding formation and chemical composition were observed using X-ray diffraction (XRD), field emission scanning electron microscopy (FESEM), fourier transform infrared (FTIR) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), respectively. The AlN thin film was changed from amorphous to crystalline as the power density was increased, and the largest grain size appeared at medium power density. The near stoichiometry Al-N bonding ratio was acquired at medium power density. So, we know that the AlN thin film had better thermal conductivity with crystalline phase and near stoichometry Al-N bonding ratio at 7.40 W/$cm^2$ power density.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2011.02a
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pp.14-14
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2011
Graphene is known to possess excellent thermal properties, including high thermal conductivity, that make it a prime candidate material for heat management in ultra large scale integrated circuits. For device applications, the key parameters are the thermal expansion coefficient and the thermal conductivity. There has been no reliable experimental determination on the thermal expansion coefficient of graphene whereas the estimates of the thermal conductivity vary widely. In this work, we estimate the thermal expansion coefficient of graphene on silicon dioxide by measuring the temperature dependence of the Raman spectrum. The shift of the Raman peaks due to heating or cooling results from both the intrinsic temperature dependence of the Raman spectrum of graphene and the strain on the graphene film due to the thermal expansion mismatch with silicon dioxide. By carefully comparing the experimental data against theoretical calculations, it is possible to determine the thermal expansion coefficient. The thermal conductivity is measured by estimating the thermal profile of a graphene film suspended over a circular hole of the substrate.
Poly-Si films have been prepared by solid phase crystallization of LPCVD(low-pressure CVD) amorphous silicon. The crystallinity of poly-Si films has been derived from UV reflectance spectrum and lies in the range between 70% and 80% . From XRD measurement the peak at 28.2$^{\circ}$from (111) plane is dominantly detected in the SPC poly-Si films, The average grain size of poly-Si film is determined by the image of SEM and varies from 4000 $\AA$ to 8000$\AA$. The electrical conductivity of as-deposited amorphous silicon film is about 2.5$\times$10$^{-7}$ ($\Omega$.cm)$^{-1}$ , and 3~4$\times$10$^{-6}$ ($\Omega$.cm)$^{-1}$ of room temperature conductivity is the SPC poly-Si films. The conductivity activation energies are 0.5~0.6 eV or the 500$\AA$-thick poly-Si films.
Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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2011.05a
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pp.205-206
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2011
Cu thin films for electromagnetic wave shielding were prepared on PET film and Ni-coated PET film by using Dry and Wet coating method, such as evaporation method, DC sputtering method and copper sulfate($CuSO_4$). After that, Zn thin film and Ni thin film were prepared onto the Cu thin films by using evaporation dry process and Ni electro plating wet process as a finishing treatment, respectively. The result of conductivity test and corrosion resistance test revealed Cu thin films which were formed with bigger grain size and high Cu composition rate have superior properties. Zn thin film by dry evaporation process and Ni thin film by wet electro plating process on Cu thin films were largely contributed to corrosion resistance. However, Ni thin film by wet process made conductivity of all specimen worse, the other hand, Zn thin film by dry process made it better to improve condictivity of specimens just prepared by dry process.
Kim, Jeong-Hwan;Shin, Dong-Kyun;Seo, Hwa-Il;Park, Jong-Woon
Journal of the Semiconductor & Display Technology
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v.12
no.1
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pp.29-33
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2013
We have fabricated transparent polymer composite films with high thermal emissivity, which can be used for heat dissipation of transparent electronics. PMMA (poly(methyl methacrylate)) solution with high transparency and thermal emissivity is mixed with various fillers (carbon nanotubes (CNTs), aluminum nitride (AlN), or silicon carbide (SiC)) with high thermal conductivity. We have achieved the thermal emissivity as high as 0.94 by the addition of CNTs. Compared with the PMMA film on glass, however, the addition of AlN or SiC is shown to rather decrease the thermal emissivity. It is also observed that the thickness of the PMMA film does not affect its thermal emissivity. To avoid any degradation of the thermal conductivity, therefore, the PMMA film thickness is desirable to be $1{\mu}m$. There also exists a tradeoff between the optical transmittance and thermal conductivity on the selection of the amount of fillers.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.30
no.4
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pp.255-261
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1997
Thin film batteries can be used as a micro power source for electronic in which minute power is needed. In this study, lithium phosphorous oxynitride(LIPON) thin films were deposited as an eletrolyte for lithium ion batteries using RF magentron sputtering of lithium phosphate in N2. Ti was also added into the LIPON films as a second network former to enhance the ioinc conductivity of the films. The optimum conditions for LIPON film deposition were sought and the electrolyte with the conductivity of $2.5 \times 10^{-6}$S/cm was obtained at the condition of RF power 4.4 W/$\textrm{cm}^2$, process pressure 10 mtorr and pure nitrogen ambience. Furthermore, the conductivity of LIPON films was increased from $2.5 \times 10^{-6}$S/cm to $8.6 \times 10^{-6}$S/cm by the doping of 2.4at.% Ti. It was also found that by adding Ti to LIPON films, Li content was increased and nitrogen content that reported having the cross-linking effect on LIPON films was also increased as confirmed XPS.
We describe the fabrication of transparent conducting single-walled carbon nanotubes (SWCNTs) film on flexible substrate following the conventional spin coating method. The fabricated film was post treated with diluted acid solution and its electrical and optical characterizations were performed. The electrical conductivity of SWCNTs film was enhanced and the film was found to be attached strongly with substrate after the post treatment.
A specially designed injector using electric conductivity was used to measure the liquid film thickness accurately. The measurement conducted through the precise calibration, accuracy is demonstrated in comparison with the previous theory and the results using other measurement method. The tendency of liquid film thickness for geometric parameters was examined by the precise measurement. The variation of air core and stability are examined through the visualization of the formation of air core in swirl chamber and the variation of liquid film thickness by the time.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.11
no.2
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pp.77-80
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2010
Indium tin oxide (ITO) films with a 5 nm thick Au interlayer were prepared on glass substrates. The effects of the Au interlayer on the gas sensitivity for detecting methanol vapors were investigated at room temperature. The conductivity of the film sensor increased upon exposure to methanol vapor and the sensitivity also increased proportionally with the methanol vapor concentration. In terms of the sensitivity measurements, the ITO film sensor with an Au interlayer shows a higher sensitivity than that of the conventional ITO film sensor. This approach is promising in gaining improvement in the performance of ITO gas sensors used for the detection of methanol vapor at room temperature.
Journal of the Korean Society of Propulsion Engineers
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v.10
no.2
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pp.70-77
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2006
A specially designed in;ector using electric conductivity was used to measure the liquid film thickness exactly, The measurement conducted through the precise calibration, accuracy is demonstrated in comparison with the previous theory and the results using other measurement method. The variation of internal flow and stability are examined through the variation of liquid film thickness by the time. The tendency of liquid film thickness for geometric parameters was examined by the precise measurement.
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