본 논문은 주사전자현미경(SEM)의 전자총을 이용하여 MCM 또는 PCB 회로기판의 신호연결선에서 전압차를 유도시켜 개방/단락 등의 결함을 측정 검사하는 방법을 제시한다. 본 실험에서는 주사전자현미경의 구조를 변형시키지 알고 회로기판의 개방/단락 검사를 실시할 수 있는 이중전위전자빔(Dual Potential) 검사방법을 사용한다. 이중전위전자빔(Dual Potential) 측정검사 방법은 이차전자수율 값 δ의 차이를 유기시키는 δ < 1 인 충전 전자빔과 δ > 1 인 읽기 전자빔을 사용하여 한 개의 전자총이 각각 다른 가속전압에 의해 생성된 두 개의 전자빔으로 측정하는 방법으로 특정 회로네트에 대한 개방/단락 등의 측정 검사가 가능하다. 또한 읽기 전자빔을 이용할 경우 검사한 회로 네트를 방전시킬 수 있어 기판 도체에 유기된 전압차를 없앨 수 있는 방전시험도 실시할 수 있어, 많은 수의 회로네트를 지닌 회로 기판에 대해 측정 검사할 때 충전되어 있는 회로네트에 대한 측정오류를 줄일 수 있다. 측정검사를 실시한 결과 glass-epoxy 회로기판 위에 실장된 구리(Cu) 신호연결선은 7KeV의 충전 전자빔으로 충전시키고 10초 이내에 주사전자현미경을 읽기 모드로 바꾸어 2KeV의 읽기 전자빔으로 구리표면에서의 명암 밝기 차이를 읽어 개방/단락 상태를 검사할 수 있었다. 또한 IC 칩의 Au 패드와 BGA의 Au 도금된 Cu 회로패드를 검사한 결과도 7KeV 충전 전자빔과 2KeV 읽기 전자빔으로 IC칩 내부회로에서의 개방 단락 상태를 쉽게 검사할 수 있었다. 이 검사방법은 주사전자현미경에 있는 한 개의 전자총으로 비파괴적으로 회로 기판의 신호 연결선의 개방/단락 상태를 측정 검사할 수 있음을 보여 주었다.
칩을 개발하는 과정에서 설계된 칩의 검증을 위해 FPGA (field programmable gate array)를 많이 이용한다. FPGA에 다운로드 된 회로를 검증하기 위해서는 FPGA로 데이터를 입력해야 한다. PC와 외부 보드를 통한 칩과의 통신을 위한 많은 방식이 있지만 가장 간단하고 쉬운 방법은 범용 비동기화 송수신기 (UART; universal asynchronous receiver/transmitter)를 이용한 방식이다. 최근 대부분의 회로는 AMBA (advanced microcontroller bus architecture) 버스에 연결되도록 설계되어 있다. 즉, 설계된 회로를 검증하기 위해서는 UART를 거친 후에 AMBA 버스를 통해 데이터를 전달해야 한다. AMBA 버스도 최근에 버전 4.0까지 거치면서 다양한 버전이 존재하는데 간단히 테스트를 하기 위한 용도로는 APB (advanced peripheral bus)가 적합하다. 본 논문에서는 UART-to-APB 인터페이스를 위한 회로를 설계하였다. Verilog HDL을 이용하여 설계된 회로는 Altera Cyclone FPGA에서 구현되었고, 최대 380 MHz의 속도에서 동작이 가능하였다.
본 논문에서는 아나로그 파형분석의 파형추적기술을 이용하여 전자기기의 고장진단을 용이하게 할 수 있는 회로분석 시스템을 설계하고 구현하였다. 회로분석기는 CMOS, MOS 회로와 같은 신기술 전자부품들을 간단하게 검사할 수 있는 개선된 능력을 가지며, 내장된 펄스 구동기를 사용하여 SCR, TRIAC 그리고 Optocoupler와 같은 게이트 구동소자들을 고장진단하게 한다. 회로분석기는 측정하고자 하는 부품 및 기판에 전원을 인가하지 않고 측정하도록 하여 측정하는 중에 발생 가능성 있는 일시적인 Short로 인한 회로의 추가적인 손상을 방지하고 반도체소자의 임피던스 상태를 분석하며 시스템 또는 PCB기판의 영구적인 고장을 일으키는 누액 또는 기판손상으로 인한 문제를 완벽하게 찾아낼 수 있었다. 이상이 의심되는 부품과 정상 부품간의 상호 비교할 수 있기 때문에 부품 식별 번호가 없거나 알아보기 힘든 부품의 고장진단에 이상적으로 응용할 수 있는 방안을 제시하도록 한다.
DC/DC 컨버터는 임의의 직류전원을 부하가 요구하는 형태의 직류전원으로 변환시키는 효율이 높은 전력변환기이다. DC/DC 컨버터는 PWM-IC(펄스폭 변조 집적회로) 제어기, MOSFET(산화물-반도체 전계 효과 트랜지스터), 인덕터, 콘덴서 등으로 구성되어있다. 코발트 60 ($^{60}Co$) 저준위 감마발생기를 이용한 TID실험에서 방사선의 영향으로 PWM-IC의 전기적 특성중에 문턱전압과 옵셋전압이 증가되고, SEL에 적용된 4종류의 중이온 입자는 PWM-IC의 파형을 불안정하게 만든다. 또한, 입/출력관계의 파형을 SPICE 시뮬레이션 프로그램으로 관찰하였다. PWM-IC의 TID 실험은 30 Krad 까지 수행하였으며, SEL 실험을 제어보드를 구현한 후 LET($MeV/mg/cm^2$)별 cross section($cm^2$)으로 연구하였다.
An easy elevator originated is an opened system to compare an existing equipment, and learning efficient is high as a wiring that the sequence control circuit is on and off. The structure of an equipment to be controled from the first floor to the fifth floor is constructed by a lamp to express the function of the open-close of the door according to the cage moving, to express the mechanical actuation of the forward-reverse break and motor of load and of hand-worked control component of Push-Button S/W, L/S and Relay. In order to act of the elevator function that these components connected, designed the auto program and the sequence control circuit. Consequently the process that these(1~5steps) operated the cage with an auto program of the elevator and the sequence control circuit is controled by the step of forward and reverse that the L/S1~L/S5 of sensor adjust function let posit, by the adjustable S/W1~S/W5 of PLC testing panel and the S/W1~S/W5 which installed on the transparent acryl plate of a frame. In here, improved apparatus is the learning equipment of combined use to study the principle and the technique of the originated sequence control circuit and the auto program of PLC.
This paper proposes a test device designed for developing a high-voltage multilayer ceramic capacitor (MLCC). The proposed topology consists of an energy recovery circuit for charging/discharging capacitor, a flyback converter, and a boost converter for supplying power and a bias voltage application to the energy recovery circuit. The energy recovery circuit designed with a half-bridge converter has auxiliary switches operating before the main switches to prevent excessive current from flowing to the main switches. A prototype has been designed to verify the reliability of target capacitors following the voltage fluctuation with a frequency range below 65 kHz. To conduct high root mean square (RMS) current to the capacitor as a load, the MLCC test was conducted after the topology verification was completed through the film capacitor as a load. Through the agreement between the RMS current formula proposed in this paper and the MLCC test results, the possibility of its use was demonstrated for high-voltage MLCC development in the future.
In this paper, in order to reduce the electrical disaster such as electrical fire at traditional markets, we need to develop the circuit breaker which is able to monitor the power status of electrical equipments. Therefore, for solving the those problems, we developed the detection censor(ZCT, CT) and equipment of data analysis and transmission. The detection censor and equipment is able to monitor the electrical equipments condition(over current, leakage current, arc, etc.). We constructed Test-Bed for testing reliability of the circuit breaker and obtained certification. And we tested the over current, leakage current and arc under the normal condition. This paper will be used to the data for development an cabinet panel which is able to monitor the actual loads.
The Design of are quenching parts of molded case circuit breakers depends on the utilization of strength and distribution of the magnetic field by which the arc is forced. The magnetic field causes the are to move into a set of V-slotted iron grids, where the are is extinguished rapidly. This paper present the effective method 10 design V-slotted iron plates of the are breaking chamber of molded case circuit breakers. This magnetic force was calculated by using the flux densities in the arc which are obtained by three dimensional finite element method, as a result of that this paper verified by testing that a grid model which has biggest magnetic force is excellent in the are quenching ability.
This paper proposes a new syndrome-testable design method for large MOSPLA's. In the conventional syndrome test method, the testing array circuit for testability is added but it has the defect that the circuit gives effect on the normal operation of the basic PLA circuit. Therefore, by adding the shift registers to the product lines of the basic MOSPLA's this defect is eliminated and the number of test patterns is decreased. In order to reduce the number of fault free syndromes to be predetermined, also, one output line, which is connected to all product lines is added. Therefore the number of output lines be observed is decreased. And the analytical method to compute fault free syndromes is presented. By unsing this method, the time and the effort to compute the syndromes are decreased.
A low voltage circuit breaker protects electrical equipments from over current and short faults of system by cutting the power supply. The breaker use a thermal magnetic type trip device from the past. In recent years, electronic type relays are applied due to useful functions and services. The purpose of this development is full digitalizing of relay functions of a low voltage breaker. It includes separation of current sensor from current transformer, digital signal processing, high speed relaying, and voltage measuring for power meter. The suggestions are tested and implemented by making prototype and testing its all relay functions.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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