RF 마그네트론 스퍼터링법으로 성장시킨 0.5 % Ce-doped Ba($Zr_{0.2}Ti_{0.8}$ )$O_3$ (BCZT) 박막의 특성분석
(Characterization of 0.5 % Ce-doped Ba($Zr_{0.2}Ti_{0.8}$ )$O_3$ Thin Films Grown by RF Magnetron Sputtering Method)
-
- 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
- /
- 한국전기전자재료학회 2002년도 하계학술대회 논문집
- /
- pp.301-304
- /
- 2002