The use of spectroscopic Ellipsometey for the observation of diamond thin film growth by microwave plasma chemical vapor deposition (마이크로웨이브 플리즈마 화학기상증착에 의한 다이아몬드 박막의 성장 관찰을 위한 분광 Ellipsometry의 이용)
-
- Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
- /
- v.8 no.2
- /
- pp.240-248
- /
- 1998