열전소자 원리를 이용한 부품 Tester용 온도공급 장치 연구 (메모리 Device Tester용 온도제어장치 도입을 위한 연구) (A Study for Adopting the Temperature Control Unit on Memory Device Tester Based on Principle of Thermoelectric Semiconductor)
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- 대한전기학회:학술대회논문집
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- 대한전기학회 2003년도 학술회의 논문집 정보 및 제어부문 B
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- 2003