• 제목/요약/키워드: 회절광학

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기하광학 반복적용에 의한 회절파 계산 (Successive Iteration of Geometrical-Optics for Diffracted Fields)

  • 황철규;김세윤;나정웅
    • 대한전자공학회논문지
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    • 제26권2호
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    • pp.41-55
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    • 1989
  • 기하 광학(GO)의 반복에 의한 회절파 계산을 제안하였다. 쐐기형 산란체에 전원이 주어졌을때, 그 GO해는 반공간 문제의 해에 명암 경계를 결정하여 얻어진다. 또한, 이러한 GO해의 명암경계를 따라 나타나는 불연소계와 등가인 전원을 계산하여 이를 그 전원으로 하는 새로운 쐐기문제를 생각할 수 있다. 이때, 이 등가전원 문제의 해가 바로 GO해가 필료로 하는 회절파와 같음을 보였다. 또한, 등가전원이 무한공간에서 만드는 파 즉 새로운 쐐기문제이 입사파는 물리광학으로 계산한 회절파와 같은 것임을 보였다. 새로운 쐐기문제에 다시 GO를 적용하여 회절파에 대한 하나의 근사해를 얻었으며 이것을 물리광학에 의한 것과 비교하였다. 또한, 이와 같은 GO반복 적용의 타당성을 보기 위하여 정확한 해가 이미알려져 있는 완전도체쐐기의 GO무한 반복해를 구하여 그 수렴여부를 살폈다.

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회절 광학 소자 기반 적응형 전조등 시스템 연구 (A Study on Adaptive Front-Lighting System based on Diffractive Optical Element)

  • 신성욱;박승호;유경선;노명재
    • 산업과 과학
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    • 제2권4호
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    • pp.28-35
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    • 2023
  • 본 논문에서는 적응형 전조등 시스템 규정 중 일반도로 모드, 고속도로 모드, 젖은도로 모드를 만족하는 배광의 형성을 위한 회절 광학 소자를 설계하였으며, 이를 GDSII 스트림 형식의 파일로 도출하였다. 회절 광학 요소를 통해 형성된 배광의 유효성 및 백색광 구현 여부 확인을 위하여 각각 Field Tracing, Ray Tracing 기반의 시뮬레이션을 진행하여 변환빔 측정점에 대한 위치 요구사항 및 광도 요구사항의 만족을 확인하였다. 본 연구를 기반으로 적응형 전조등을 구현하는 경우, 광도의 대비 재현 및 단순한 구조의 적응형 전조등 시스템 구현이 가능할 것으로 예상된다.

빔세기에 따른 $Fe:LiNbO_3$ 결정의 회절효율 (Light-intensity Dependence of Diffraction Efficiency in - $Fe:LiNbO_3$ Crystals -)

  • 정태혁
    • 한국광학회지
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    • 제4권3호
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    • pp.323-329
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    • 1993
  • 본 논문에서는 광굴절 특성을 나타내는 파라메타중 회절효율의 전도도비(${\sigma}_d$/{\sigma}_p$) 의존성에 관해 연구 하였다. 전도도비는 입사빔의 세기에 의존하며, 암전도도 ${\sigma}_d$가 광전도도 ${\sigma}_p$ 에 비해 무시할 수 없을 때 입사빔의 세기에 따라 전도도비가 변화되고, 전도도비의 변화는 결정 내의 정전기장에 영향을 주게 된다. 정전기장의 변화는 전기광학효과에 의해 굴절율을 변화시키고, 굴절율의 변화는 회절효율과 관계한다. 개방회로 상태에서 0.1%/mole $Fe:LiNbO_3$ 결정과 $LiNbO_3$ 웨이퍼에 Fe를 증착시킨 LiNb$O_3$에서 두 입사빔의 세기비와 입사빔세기의 합을 다르게 할 때 회절효율을 측정하고 이론값과 비교하였다.

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상(이미지)/회절도형 형성의 광학적 원리를 이해하기 위한 실험장치 제작 (An Experimental Device for Understanding the Optical Principles of Image/Diffraction Formation)

  • 김진규;정종만;김문창;최주형;김윤중
    • Applied Microscopy
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    • 제37권3호
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    • pp.199-208
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    • 2007
  • 본 장치는 실험자가 레이저 빔과 광학 렌즈를 조정하여 이미지 및 회절도형의 형성, 보강 및 소멸간섭과 같은 파동광학 현상을 이해하도록 제작된 실험 장치이다. 실험장치는 광원으로 쓰이는 레이저빔과 빔의 광축을 정렬하는 광원 부분과 시료대, 대물렌즈, 중간렌즈, 확대렌즈, CCD system, 컴퓨터, 그리고 렌즈를 상하 조절하는 경통부분으로 구성된다. 본 장치를 통해서 다양한 회절격자의 이미지 및 회절도형을 최대 약 44배 확대할 수 있고, 최대 약 5um의 분해능을 가지고 분석할 수 있다. 이 장치는 전자현미경 이용자들이 TEM의 원리를 보다 쉽게 이해하는데 도움을 주리라 기대한다.