• 제목/요약/키워드: 테스트 시스템

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XML 테스트 스크립트를 이용한 내장형 시스템 소프트웨어 테스팅 도구 (Embedded System Software Testing Tool Using XML Test Script)

  • 곽동규;조용윤;;유재우
    • 한국정보과학회:학술대회논문집
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    • 한국정보과학회 2005년도 가을 학술발표논문집 Vol.32 No.2 (2)
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    • pp.463-465
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    • 2005
  • 내장형 시스템의 요구사항이 복잡해짐에 따라 신뢰성이 높은 소프트웨어 생산이 어려워지고 있다. 본 논문은 신뢰성 높은 내장형 시스템의 소프트웨어를 생산을 위해 교차 컴파일 환경에서 사용 가능한 소프트웨어 테스팅 도구를 제안한다. 일반적으로 테스팅 도구는 독자적인 테스트 스크립트를 사용한다. 그러므로 테스팅을 하고자하는 개발자는 테스팅 도구에서 사용하는 테스트 스크립트를 학습하여야한다. 즉, 개발자가 기존의 테스트 도구를 사용하기 위해서는 새로운 스크립트 언어를 학습해야 하는 부담을 가지고 있다. 본 논문에서 제안하는 시스템은 이러한 단점을 극복하기 위해서 개발자에게 친숙한 XML을 이용하여 테스트 스크립트를 설계한다. XML은 마크 업 언어의 표준으로 다양한 응용을 가지고 있고 다른 형태의 포맷으로 쉽게 변환 가능하다는 장점을 가지고 있다. 또한, GUI 기반의 테스트 스크립트 생성기를 제공하여 개발자에게 직관적인 테스트 스크립트 작성을 할 수 있도록 제안한다. 그리고 기존의 테스트 스크립트와 달리 테스트 스크립트 언어 레벨에서의 테스트 분기를 제공하고 있어 테스트 결과에 따른 다양한 테스트를 실시할 수 있다. 본 테스팅 도구는 개발자에게 테스트 드라이버 작성을 위한 노력을 줄여 더욱 질 좋은 프로그램을 생성하는데 기여할 것으로 기대된다.

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시스템 IC를 위한 하이스피드(300MHz) 테스트 시스템 개발 (Development of high-speed (300MHz) test system for system IC)

  • 정동수;공경배;이종혁
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국정보통신학회 2018년도 추계학술대회
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    • pp.507-511
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    • 2018
  • 본 논문은 시스템 IC 반도체의 고속(300MHz) 테스트를 위한 시스템 개발에 대한 방법을 제안한다. 하이스피드 테스트 시스템은 고속 테스트 회로 인터페이스와 노이즈 저감을 위한 PCB 설계 방법을 제안한다. 본 논문은 개발된 시스템의 성능 검증을 위한 평가 항목과 절차를 제안한다. 시스템 IC 하이스피드 테스트 시스템 개발은 국내 시스템 IC테스트 장비개발의 최적화에 도움이 될 것으로 생각한다.

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Test System용 가상기계 설계 (Design of a Virtual Machine for the Test System)

  • 고훈준;안용균;조선문;유원희
    • 한국정보처리학회:학술대회논문집
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    • 한국정보처리학회 2001년도 춘계학술발표논문집 (상)
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    • pp.255-258
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    • 2001
  • 테스트 시스템(Test System)은 반도체 제품을 웨이퍼(Wafer) 또는 완성된 제품 상태 하에서 전기적 특성과 성능을 검사하고 그 결과를 산출해내는 검사장치이다. 테스트 시스템은 크게 하드웨어와 소프트웨어로 이루어져 있으며 시스템을 제어하고 사용자 인터페이스 및 각종 자료를 처리하는 소프트웨어는 그 중요성이 한층 더 부각되고 있다. 그러나 국내 고성능의 테스트 시스템을 개발하는 기업들의 하드웨어 개발은 잘 이루어지고 있으나 소프트웨어의 개발은 어려운 실정이다. 본 논문에서는 테스트 시스템에서 사용하고 있는 테스트 프로그램의 문제점을 지적하고, 문제점을 해결할 수 있는 가상기계를 설계한다. 그리고 가상기계를 테스트 관리 프로그램 내에 내장하여 테스트관리 시스템의 소프트웨어를 향상시키고자 한다.

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객체지향 소프트웨어를 위한 주요 블랙박스 테스트 기법들의 비고 (Comparison of Major Black-Box Testing Methods in Object-Oriented Software)

  • 서광익;최은만
    • 한국정보과학회논문지:소프트웨어및응용
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    • 제33권1호
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    • pp.1-16
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    • 2006
  • 소프트웨어의 규모가 커지면서 시스템 기능 테스트 단계에 일일이 원시코드를 참조하면서 테스트하는 것은 현실적으로 불가능하다. 따라서 시스템 테스트 단계에서 다양한 요구명세 정보들을 이용하는 블랙박스 테스트 방법들이 많이 연구되고 있다. 테스트 기법에 활용한 요구명세는 시스템을 표현하는 기술 방법과 의미의 차이로 인해 테스트 케이스와 커버리지가 크게 달라서 테스트 계획 단계에서 테스트 기법과 그 기법의 적용 결과에 대해 깊이 고려해야 한다. 이러한 필요성으로 인해 본 연구에서는 다양한 블랙박스 테스트 기법들에 대한 실험과 그 결과에 대해 논하였다. 기법의 특성이 미치는 테스트 결과를 분석하고 평가하기 위해 객체지향 시스템의 명세와 모델링 기법으로 가장 잘 알려진 UML을 이용한 테스트 기법을 포함하여 다섯 가지의 블랙박스 테스트 기법을 실행하고 비교하였다. 그리고 다섯 가지 기법들을 서로 다른 두 응용 시스템에 적용하였고 그 결과로 추출된 테스트 케이스의 커버리지를 분석하였다.

단위테스트를 위한 레거시소프트웨어시스템의 재구성 기법 (A Restructuring Technique of Legacy Software Systems for Unit Testing)

  • 문중희;이남용
    • 정보처리학회논문지D
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    • 제15D권1호
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    • pp.107-112
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    • 2008
  • 레거시소프트웨어시스템을 유지 및 보수하는 작업은 소프트웨어 공학 분야에서 중요한 화두이다. 그리고 유지 및 보수 과정에 있어 회귀 테스트는 소프트웨어의 변경에 따른 기능적 동작이 올바른지 확인한다. 그러나 기존의 회귀 테스트는 대부분 시스템 레벨에서 접근이 되었으며 단위테스트 레벨에서는 준비된 테스트 케이스가 없어서 적용이 어려웠다. 본 논문에서는 단위테스트 케이스들을 구현하고 자산화하기 위해서 기존의 레거시소프트웨어시스템을 재구성하는 기법을 제안한다. 그리고 이를 실제 개발 과제의 특정 모듈에 적용하고 그 테스트 커버리지 결과를 분석하였다. 향후 본 논문에서 제시하는 방안을 기반으로 재구성 자동화 기법 및 테스트 케이스 자동화 생성에 대한 연구가 지속된다면 레거시소프트웨어시스템의 유지 및 보수에 큰 발전을 기대할 수 있을 것이다.

무기체계 임베디드 소프트웨어에 대한 TFM 기반 시스템 테스트 모델 설계 및 적용 (Design and Application of the TFM Based System Test Model for the Weapon System Embedded Software)

  • 김재환;윤희병
    • 정보처리학회논문지D
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    • 제13D권7호
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    • pp.923-930
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    • 2006
  • 본 논문에서는 무기체계 임베디드 소프트웨어의 시간 요소를 고려한 TFM(Time Factor Method) 기반의 시스템 테스트 모델을 설계하고, 적용사례를 통하여 결과를 제시한다. 이를 위해 무기체계 임베디드 소프트웨어의 특징과 시스템 테스트 그리고 객체지향 모델의 표현방법인 UML 표기법에 대하여 알아보고, 시스템 테스트 모델 설계를 위한 TFM 접근 방법으로 시간 요소를 고려한 테스트 방법과 시간 요소 측정 방법 그리고 테스트 케이스 선정 알고리즘을 제시한다. 무기체계 임베디드 소프트웨어의 TFM 기반 시스템 테스트 모델은 세 가지 요소 (X,Y,Z) 로 구성되며, 'X' 에서는 최대시간경로를 선정하는 알고리즘을 통해 테스트 케이스가 도출되고, 'Y' 에서는 Sequence Diagram과 관련된 객체를 식별하고, 'Z'에서는 Timing Diagram을 통하여 식별된 각 객체들의 실행시간을 측정한다. 또한 제안한 W:M 기반 시스템 테스트 모델을 '다기능 미사일 방어시스템'에 적용하여 테스트 케이스를 추출하는 방법을 제시한다.

Script-based Test System for Rapid Verification of Atomic Models in Discrete Event System Specification Simulation

  • Nam, Su-Man
    • 한국컴퓨터정보학회논문지
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    • 제27권5호
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    • pp.101-107
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    • 2022
  • 모델링 및 시뮬레이션은 목표 시스템의 동작 검증, 성능 분석, 운용 최적화, 예측을 위해 사용되는 기술이다. 이 기술의 대표적인 이산사건 시스템 명세(DEVS)는 모델들을 엄격한 형식론으로 정의하고 모델 간의 구조를 계층화한다. 이 DEVS 모델들의 원자 모델은 목표와 다른 의도로 동작하게 될 경우 시뮬레이션은 잘못된 의사결정으로 이어질 수 있다. 그럼에도 대부분 DEVS 시스템은 모델 테스트의 부재 또는 수동 테스트 환경으로 제공하여 개발자가 모델을 검증하는 데 오랜 시간이 소비된다. 본 논문에서는 파이썬 기반 DEVS에서 정확하고 빠른 원자 모델의 검증을 위해 스크립트 기반 테스트 시스템을 제안한다. 제안 테스트 시스템은 기존 방식인 수동 테스트와 새로운 방식인 스크립트 기반 테스트를 둘 다 사용한다. 우리 시스템의 실험 결과, 제안 테스트 방식은 스크립트를 10번 연속 실행 시 24ms 이내에 실행되었다. 그리하여 제안 시스템은 스크립트 기반 테스트를 사용해서 빠른 원자 모델 검증 시간을 보장하고, 테스트 스크립트의 재사용성을 향상한다.

피드백을 고려한 테스트 케이스 생성 시스템 구조 (Architecture for Simulink/Stateflow Model Based Test Case Generation Considering Feedback)

  • 최우원;정기현;최경희
    • 정보처리학회논문지:소프트웨어 및 데이터공학
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    • 제6권7호
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    • pp.361-370
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    • 2017
  • 본 논문은 임베디드 시스템이 제어하는 서브시스템의 실시간 피드백을 반영하여 테스트 케이스를 생성할 수 있는 테스트 생성기 구조를 제안한다. 일반적으로 폐쇄형 임베디드 시스템은 자신이 제어하는 서브시스템의 피드백을 참조하여 서브시스템의 다음 상태를 제어하는 값을 결정한다. 그와 같은 시스템에서는, 피드백을 고려하지 않는 전통적인 테스트 케이스는 사용하기 어렵다. 본 논문에서 제안하는 테스트 케이스 생성기 구조는 서브시스템의 피드백을 이용하여 다음에 사용할 테스트 케이스를 실시간 재구성한다. 제안하는 구조를 구현하고 데모 시스템을 이용하여 유용성을 검증한다.

XML 테스트 스트립트 기반의 내장형 시스템 소프트웨어 단위 테스트 도구 (A Software Unit Testing Tool based on The XML Test Script for Embedded Systems)

  • 곽동규;유재우;조용윤
    • 한국컴퓨터정보학회논문지
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    • 제14권1호
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    • pp.17-24
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    • 2009
  • 내장형 시스템의 요구사항이 증가함에 따라 내장형 시스템 소프트웨어의 복잡도가 증가하고 있다. 그러므로 내장형 시스템 소프트웨어 테스팅의 필요성이 높아지고 있다. 본 논문은 내장형 시스템 소프트웨어의 테스트를 효과적으로 실행하기 위해 교차 개발 환경에 적합한 테스팅 도구를 제안한다. 본 도구는 호스트/타겟 구조로 이루어져있으며 호스트에서 작성한 테스트 케이스를 타겟에서 실행할 수 있는 직관적인 환경을 제공한다. 그리고 제안하는 도구의 테스트 케이스는 XML 기반의 테스트 스크립트를 이용한다. 또한, 직관적인 테스트 케이스를 작성하기 위해 트리와 테이블 기반의 테스트 스크립트 편집기를 갖는다. 제안하는 테스트 도구는 테스트 케이스 작성에서부터 결과확인까지 직관적인 GUI를 제공하여 테스트 케이스 작성에 대한 부담을 경감시키는 장점을 가진다.

Network-on-Chip 시스템을 위한 새로운 내장 자체 테스트 (Built-In Self-Test) 구조 (The Novel Built-In Self-Test Architecture for Network-on-Chip Systems)

  • 이건호;김인수;민형복
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2009년도 제40회 하계학술대회
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    • pp.1931_1933
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    • 2009
  • NoC 기반 시스템이 적용되는 설계는 시스템 크기가 커짐에 따라 칩 테스트 문제도 동시에 제기 되고 있다. 이에 따라 NoC 기반의 시스템의 테스트 시간을 줄일 수 있는 internal test 방식의 새로운 BIST(Built-in Self-Test) 구조에 관한 연구를 하였다. 기존의 NoC 기반 시스템의 BIST 테스트 구조는 각각의 router와 core에 BIST logic과 random pattern generator로 LFSR(Linear Feedback Shift Register)을 사용하여 연결하는 individual 방식과 하나의 BIST logic과 LFSR을 사용하여 각각의 router와 core에 병렬로 연결하는 distributed 방식을 사용한다. 이때, LFSR에서 생성된 테스트 벡터가 router에 사용되는 FIFO 메모리를 통과하면서 생기는 테스트 타임 증가를 줄이기 위하여 shift register 형태의 FIFO 메모리를 변경하였다 제안된 방법에서 테스트 커버리지 98%이상을 달성하였고, area overhead면에서 효과를 볼 수 있다.

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