• Title/Summary/Keyword: 정적 테스트

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A Goal-oriented Test Data Generation for Programs with Pointers based on SAT (SAT에 기반한 포인터가 있는 프로그램을 위한 목적 지향 테스트 데이터 생성)

  • Chung, In-Sang
    • Journal of Internet Computing and Services
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    • v.9 no.2
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    • pp.89-105
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    • 2008
  • So far, most of research on automated test data generation(ATDG) deals with programs without pointers. Recently, few works hove been done on ATDG in the presence of pointers, but they ore path-oriented techniques which require the specification of on entire program path to be tested or a program to be executed. This paper presents a new technique for generating test data even without specifying a program path completely. The presented technique is a static technique which transforms the test data generation problem into a SAT(SATisfiability) problem and makes advantage of SAT solvers for ATDG. For the ends, we transform a program under test into Alloy which is the first-order relational logic and then produce test data via Alloy analyzer.

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Design and Pattern Generation for the Detection of Delay Faults In IEEE 1149.1 Boundary Scan (지연고장 점검을 위한 IEEE 1149.1 Boundary Scan 설계 및 패턴 생성)

  • 김태형;박성주
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 1998.10c
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    • pp.662-664
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    • 1998
  • IEEE 1149.1 바운다리스캔은 보드 수준에서 고장점검 및 진단을 위한 테스트 설계기술이다. 그러나, 바운다리스캔 제어기의 특성상 테스트 패턴의 주입에서 관측까지 2.5 TCK가 소요되므로, 연결선상의 지연고장을 점검할 수 없다. 본 논문에서는 Update_DR 신호를 변경하여, 테스트 패턴 주입에서 관측까지 1 TCK가 소요되게 함으로써, 지연고장 점검을 가능하게 하는 기술을 소개한다. 나아가서, 정적인 고장점검을 위한 테스트 패턴을 개선해 지연고장 점검까지 가능하게 하는, N개의 net에 대한 2log(N+2)의 새로운 테스트패턴도 제안한다. 설계와 시뮬레이션을 통해 지연고장 점검이 가능함을 확인하였다.

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The Constructing & Visualizing Practices in Effective Static Analyzer for analyzing the Quality of Object Oriented Source Code (객체지향 코드 품질 분석을 위한 효율적인 정적분석기 개발 및 가시화 사례)

  • Lee, Won Young;Moon, So Young;Kim, R. Young Chul
    • Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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    • 2019.10a
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    • pp.704-707
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    • 2019
  • 오늘날 객체지향 코드 내부 복잡도가 지속적으로 증가하는 데에 반해 IT 벤처/중소기업에서는 요구사항 및 설계문서 미비의 코드 개발과 테스트 중심의 경우가 빈번하다. 이는 시스템의 코드를 이해하고 수정, 유지보수를 하는데 많은 시간과 비용이 투자되고 있다. 본 연구는 객체지향 코드의 내부 구조 시각화를 위해 Tool-Chain방법을 이용한 정적 분석기 구축 및 가시화를 제안 한다. 이를 통해, 역공학 도구, 테스트 프로세스 등을 도입이 어려운 중소기업의 소프트웨어 품질 향상에 도움을 줄 수 있을 것으로 기대된다.

Mobile GUI Testing Tool Based-on Image Flow (이미지 플로우 기반의 모바일 GUI 테스트 도구에 관한 연구)

  • Hwang, Sun-Myung;Yoon, Seok-Jin
    • The KIPS Transactions:PartD
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    • v.15D no.3
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    • pp.347-354
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    • 2008
  • In order to enhance the productivity of mobile and develop reliable software, the test of mobile application software should be required absolutely. The most important way to communicate to users has been used to GUI. But GUI test method in mobile has no the test automation system except manual test by checklist. In this paper we present a test method and tool by image flow to reduce the time required and finds out errors to GUI, by carrying out the study on automatic GUI testing tool based on image flow to GUI test of mobile application.

Preparing Set-Based Analysis for Run-time Specialization (실행시간 전문화를 위한 집합기반 분석의 준비)

  • Eo, Hyun-Jun;Yi, Kwang-Keun
    • Journal of KIISE:Software and Applications
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    • v.27 no.9
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    • pp.986-1002
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    • 2000
  • 정적 분석을 사용하여 프로그램의 입력에 의존하는 성질을 예측하는 방법을 제안한다. 제안된 방법은 입력에 무관한 성질을 예측하도록 설계된 정적 분석을 입력에 의존하는 성질을 예측하는 분석으로 변환한다. 이 방법은 실행 중에 프로그램의 성질을 알아내기 위해서 실행중인 프로그램을 관찰하는 코드가 필요 없고 계측된 자료를 모으는 과정도 필요 없다. 정적 분석의 가장 마지막 부분을 프로그램의 실행 시간으로 미루는 것이 이 논문의 핵심 아이디어다. 먼저 정적 분석을 분석하여, 프로그램의 입력에 민감하여 프로그램의 실행시간으로 연기되어야 하는 부분을 찾아낸다. 그 후, 값을 자른 분석을 사용하여 이 부분을 재구성하여 프로그램의 입력에 대한 간단한 멤버쉽 테스트에 의해 분석이 풀어질 수 있도록 한다. 이런 재구성 과정을 통해 준비된 분석들은 프로그램의 입력이 나타나기만 하면 순간적으로, 동시에 풀려질 수 있다. 모든 과정은 엄밀하게 정의되고 증명되었다.

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Automated Unit-test Generation for Detecting Vulnerabilities of Android Kernel Modules (안드로이드 커널 모듈 취약점 탐지를 위한 자동화된 유닛 테스트 생성 기법)

  • Kim, Yunho;Kim, Moonzoo
    • Journal of KIISE
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    • v.44 no.2
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    • pp.171-178
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    • 2017
  • In this study, we propose an automated unit test generation technique for detecting vulnerabilities of Android kernel modules. The technique automatically generates unit test drivers/stubs and unit test inputs for each function of Android kernel modules by utilizing dynamic symbolic execution. To reduce false alarms caused by function pointers and missing pre-conditions of automated unit test generation technique, we develop false alarm reduction techniques that match function pointers by utilizing static analysis and generate pre-conditions by utilizing def-use analysis. We showed that the proposed technique could detect all existing vulnerabilities in the three modules of Android kernel 3.4. Also, the false alarm reduction techniques removed 44.9% of false alarms on average.

Retesting Method of Classes in Associated Relation using Message Path (메시지 경로를 이용한 클래스 연합관계에서의 수정 테스트 방법)

  • Bang Jung-Won
    • Journal of the Korea Society of Computer and Information
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    • v.10 no.5 s.37
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    • pp.49-56
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    • 2005
  • Reuse of software is the process of developing software system which does not develop all modules newly but construct system by using existing software modules. Object oriented concept introduces dynamic binding and polymorphism, which increases number of executable Paths. In this case static analysis of source code is not useful to find executable path. These concepts occur new Problems in retesting. Tradition testing method can not cover complex relations such as inheritance, message Passing and instance of and can not apply on object oriented retesting. we propose the method to reduce the number of methods and classes to be retested in associated class relation.

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IDDQ Test Pattern Generation in CMOS Circuits (CMOS 조합회로의 IDDQ 테스트패턴 생성)

  • 김강철;송근호;한석붕
    • Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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    • v.3 no.1
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    • pp.235-244
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    • 1999
  • This Paper proposes a new compaction algorithm for IDDQ testing in CMOS Circuits. A primary test pattern is generated by the primitive fault pattern which is able to detect GOS(gate-oxide short) and the bridging faults in an internal primitive gate. The new algorithm can reduce the number of the test vectors by decreasing the don't care(X) in the primary test pattern. The controllability of random number is used on processing of the backtrace together four ones of heuristics. The simulation results for the ISCAS-85 benchmark circuits show that the test vector reduction is more than 45% for the large circuits on the average compared to static compaction algorithms.

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IEEE1149.1 Boundary Scan Design for the Detection of Delay Defects (지연고장 탐지를 위한 IEEE 1149.1 바운다리스캔 설계)

  • Kim, Tae-Hyeong;Park, Seong-Ju
    • Journal of KIISE:Computer Systems and Theory
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    • v.26 no.8
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    • pp.1024-1030
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    • 1999
  • IEEE 1149.1 바운다리스캔은 보드 수준에서 고장점검 및 진단을 위한 테스트 설계기술이다. 그러나, 바운다리스캔 제어기의 특성상 테스트 패턴의 주입에서 관측까지 2.5 TCK가 소요되므로, 연결선상의 지연고장을 점검할 수 없다. 본 논문에서는 UpdateDR 신호를 변경하여, 테스트 패턴 주입에서 관측까지 1 TCK가 소요되게 함으로써, 지연고장 점검을 가능하게 하는 기술을 소개한다. 나아가서, 정적인 고장점검을 위한 테스트 패턴을 개선해 지연고장 점검까지 가능하게 하는, N개의 net에 대한 2 log(n+2) 의 새로운 테스트패턴도 제안한다. 설계와 시뮬레이션을 통해 지연고장 점검이 가능함을 확인하였다.Abstract IEEE 1149.1 Boundary-Scan is a testable design technique for the detection and diagnosis of faults on a board. However, since it takes 2.5TCKs to observe data launched from an output boundary scan cell due to inherent characteristics of the TAP controller, it is impossible to test delay defects on the interconnect nets. This paper introduces a new technique that postpones the activation of UpdateDR signal by 1.5 TCKs while complying with IEEE 1149.1 standard. Furthermore we have developed 2 log(n+2) , where N is the number of nets, interconnect test patterns to test delay faults in addition to the static interconnect faults. The validness of our approach is verified through the design and simulation.

CUTIG: An Automated C Unit Test Data Generator Using Static Analysis (CUTIG: 정적 분석을 이용한 C언어 단위 테스트 데이타 추출 자동화 도구)

  • Kim, Taek-Su;Park, Bok-Nam;Lee, Chun-Woo;Kim, Ki-Moon;Seo, Yun-Ju;Wu, Chi-Su
    • Journal of KIISE:Software and Applications
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    • v.36 no.1
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    • pp.10-20
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    • 2009
  • As unit testing should be performed repeatedly and continuously, it is a high-cost software development activity. Although there are many studies on unit test automation, there are less studies on automated test case generation which are worthy of note. In this paper, we discuss a study on automated test data generation from source codes and indicate algorithms for each stage. We also show some issues of test data generation and introduce an automated test data generating tool: CUTIG. As CUTIG generates test data not from require specifications but from source codes, software developers could generate test data when specifications are insufficient or discord with real implementation. Moreover we hope that the tool could help software developers to reduce cost for test data preparation.