• 제목/요약/키워드: 전자파내성

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전원주파수 자계 내성시험의 개선된 EUT 성능평가방법 (Improved Performance Evaluation Method for EUT in Power Frequency Magnetic Field Immunity Test)

  • 정기범;최재훈
    • 한국전자파학회논문지
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    • 제14권8호
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    • pp.796-802
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    • 2003
  • 본 논문에서는 전원주파수 자계 내성시험에 사용할 개선된 EUT(Equipment Under Test) 영상 모니터링 평가 방법을 제안하고, 실시간으로 영상 모니터링이 가능한 자동화 프로그램의 개발에 대하여 서술하였다. 제안된 평가방법에서는 전원주파수 자계 내성시험에서 전자파 영향을 받지 않은 모니터와 전자파 영향을 받은 모니터 사이의 영상의 변화를 자동화된 알고리즘에 의해 검출하여 내성 정도를 판별한다. 본 방법에서 사용된 영상변화의 실시간 판정을 위한 영상변화 검출 알고리즘은 시험의 재현성을 확보함으로써 기존의 방법인 시험자 주관적인 판단에 의한 단점을 보완하여 준다. EUT 영상의 변화 검출로 PC 모니터류에 대한 내성판정이 보다 정량적으로 가능함을 제시하였다. 또한 국제규격과 국내동향에 맞추어 EUT 내성판정법에서 정량적인 값을 도출하는 방법을 제안하였다.

전자파 복사방출 및 복사전자파 내성시험 시설의 적합성 평가방법

  • 강태원;원성호;이주광;김정환
    • 한국전자파학회지:전자파기술
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    • 제15권3호
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    • pp.102-111
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    • 2004
  • 신속하고 편리한 현대사회의 핵심에는 정보통신 기술이 자리하고 있다. 근래에는 개인용 휴대통신단말기와 무선인터넷 접속을 위한 무선 LAN(local area network) 등 무선통신기기의 사용주파수가 높아져서 1 GHz이상의 주파수 대역에서 불필요한 전자파 발생이 증가하고 있다. 전자파장해 방지 및 내성시험에 관한 국제규격은 국제 전기 기술위원회(IEC, International Electrotechnical Commission) 산하의 민간 전문가들로 구성된 기술위원회(TC, Technical Committee) 77과 국제무선장해특별위원회(CISPR, International Special Committee on Radio Interference)에서 정해진다. TC 17과 CISPR는 많은 심의를 거쳐 1 GHz 이상 주파수 대역의 전자파장해 국제규격을 일부 완성하였으며, 지금도 규격개정 과정에서 활발하게 토의하고 있다. (중략)

EMC 관련 최근 기술 동향 - CISPR 20 방사내성 Round Robin Test 결과 및 분석

  • 장태헌;조원서
    • 한국전자파학회지:전자파기술
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    • 제17권4호
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    • pp.48-52
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    • 2006
  • 2006 CISPR 총회가 스웨덴 스톡홀름 KISTA에서 개최되었다. CISPR I 회의는 9월 18일부터 20일까지 3일간 WG2 및 WG4를 중심으로 진행되었으며, WG1과 WG3 회의는 9월 20일 오후에 있었다. 우리나라에서는 WG1에 두 가지 제안을 발표하였다. 하나는 2004년 중국 상해 회의에서 처음 제안하여 2005년 남아공 케이프타운 회의에서 Task Force가 구성된 대형 시험품에 대한 CISPR 20의 외부 방사내성 시험레벨에 관한 것이다. 2006년 1월 미국 산타페에서 열린 TF 회의에서 시험결과에 대한 기술적 토론이 있었으며, Round Robin Test(RRT)를 실시하기로 결정되었다. RRT시험은 7월 중순에 실시되었으며, 참여한 시험소는 영국의 SONY, 네덜란드의 Philips, 독일의 SHARP 이었으며, 국내의 여러 EMC 시험소도 추후에 참여하였다. RRT 시험의 결과 및 분석이 이번 스톡홀름 회의에서 발표되었다. 또한, CISPR 13의 방사성 방출(RE)의 측정거리 기준점의 변경에 관한 것이다. 본 고에서는 TV 수신기에 대한 RRT 시험결과 및 분석에 대한 발표 내용을 소개하고자 한다. CISPR 20의 외부 전자기장 내성 시험은 0.8 m인 개방형 스트립라인(Open Strip-line: OSL)내에 시험품을 설치하고 $150kHz{\sim}150MHz$에서 시험하도록 규정하고 있다. OSL에 설치할 수 없는 대형기기는 IEC 61000-4-3에 따라서 주파수 범위 $80MHz{\sim}150MHz$까지 동일한 한계치로 전자파무반사실에서 시험하도록 규정되어 있다. 이에 대해 국내 제조업체 및 EMC 전문가들로 구성된 CISPR I 국내 위원회에서는 IEC 61000-4-3에 의한 전자파무반사실(챔버)에서의 내성시험이 CISPR 20에 의한 OSL에서의 내성시험보다 가혹하다는 문제 제기가 있었다. 이것이 본 안건에 대한 배경이다 지금까지 진행되어 왔던 내용을 요약해 보면 2004년 상해 회의에서, 수치해석 및 측정비교를 통하여 CISPR 20에서 규정하고 있는 OSL 전기장 교정방법의 개선의 필요성과 OSL에서 시험할 수 없는 대형 시험품에 대하여 시험레벨을 조정할 것을 지적하였다. 2005년 케이프타운 회의에서는 실제적으로 TV 방송 수신기 및 관련기기가 두가지 방법으로 시험되었을 때 시험결과에 미치는 영향을 시험품의 전기장 내성 레벨로 비교하였으며, 전자파무반사실에서 시험할 경우 시험레벨이 12 dB 낮추도록 보정되어야 할 것을 제안하였다. 2006년 이번 회의에서는 세계 각국의 시험소와 비교시험을 통하여 나타난 OSL과 전자파무반사실 간의 시험결과의 차이 및 이에 대한 원인을 분석하여 보고하였다. OSL과 전자파무반사실 비교시험에서 나타난 차이는 평균적으로 9 dB의 차이로 나타났으며, 주요 원인은 OSL에서 적용하고 있는 시험품을 OSL내부에 설치한 후 시험품에 의해 변경된 전기장의 세기를 보정해 주는 인자(k2)로 인한 차이(6 dB)와 OSL 내부의 전기장의 세기와 전자파무반사실 균일장 영역의 전기장의 세기의 차이(3 dB)이다.