그래핀은 우수한 전기적, 기계적, 광학적 특성들로 인하여 전자소자, 센서, 에너지 재료 등으로의 응용이 가능하다고 알려진 단 원자층의 탄소나노재료이다. 특히 그래핀을 전자소자로 응용하기 위해서는 캐리어 농도, 전하 이동도, 밴드갭 등의 전기적 특성을 향상시키거나 제어하는 것이 요구되며, 에너지 소재로의 응용을 위해서는 높은 전기전도도와 함께 기능화를 통한 촉매작용을 부여하여 효율을 향상시키는 것이 요구된다. 일반적으로 화학적 도핑은 그래핀의 전기적 특성을 제어하는 효율적인 방법으로 알려져 있다. 화학적 도핑의 방법으로 질소, 수소, 산소 등 다양한 이종원소를 열처리 또는 플라즈마 처리함으로써 그래핀을 구성하는 탄소원자를 이종원자로 치환하거나 흡착시켜 기능화 처리된 그래핀을 얻는 방법들이 제시되었다. 이중 플라즈마를 이용한 도핑방법은 저온에서 처리가 가능하고, 처리시간, 공정압력, 인가전압 등 플라즈마 변수를 변경하여 도핑정도를 비교적 수월하게 제어할 수 있다는 장점을 가지고 있다. 본 연구에서는 열화학기상증착법으로 합성된 그래핀을 직류 플라즈마로 처리함으로써 효율적인질소도핑 조건을 도출하고자 하였다. 그래핀의 합성은 200 nm 두께의 니켈 박막이 증착된 몰리브덴 호일을 사용하였으며, 원료가스로는 메탄을 사용하였다. 그래핀의 질소 도핑은 평행 평판형 직류 플라즈마 장치를 이용하여 암모니아($NH_3$) 플라즈마로 처리하였으며, 플라즈마 파워와 처리시간을 변수로 최적의 도핑조건 도출 및 도핑 정도를 제어하였다. 그래핀의 질소 도핑 정도는 라만 스펙트럼의 G밴드의 위치와 반치폭(Full width at half maximum; FWHM)의 변화를 통해 확인하였다. NH3 플라즈마 처리 후 G밴드의 위치가 장파장 방향으로 이동하며, 반치폭은 감소하는 것을 통해 그래핀의 질소도핑을 확인하였다.
모든 디지탈 영상계에서 검출기는 일정한 크기를 가지며, 이에 의해 영상은 흐려지고 공간분해능은 저하된다. 이제까지는 검출기 크기를 줄임으로써, 즉 검출기 수효를 증가시킴으로써 이 문제를 해결해 왔다. 본논문에서는 광학에서 사용한 방법에 의한 공간분해능 향상을 공간 및 주파수 대역에서 시도하였다. 또한 이 방법을 CT(전산화 단층 영상 처리기)에 응용하였으며 검출기 수효를 증가하지 않고서도 공간분해능이 매우 향상됨을 알 수 있었다. 이 방법에 대한 전본이론 및 simulation결과를 정리하였다.
Ga이 함유된 Pd-Ga계 합금은 우수한 기계적 성질, 심미성 및 생체적합성등으로 차세대 치과 도재용 합금으로 주목 받고 있다. 본 연구에서는 상용 77.3%Pd-6.0%Ga계 합금을 원심주조법으로 주조하고, 탈개스, 세라믹소성처리한 후 미세조직을 광학현미경, X-선 회절기, 투과전자현미경으로 관찰하였다. X-선 회절분석 및 투과전자현미경 관찰 결과, Pd고용체와 미세한 석출물에 의해 나타나는 줄무늬를 확인하였다. 공정점 86$0^{\circ}C$에서 5시간 유지시킨 상평형 열처리조건에서는 Pd고용체와 금속간화합물 Pd(sub)2Ga에 해당하는 보다 명확한 제한시야회절도형을 얻었다. 이러한 결과로 77.3%Pd-6.0%Ga계 합금은 Pd고용체와 미세한 구형의 금속간화합물 Pd(sub2)Ga으로 구성되었음을 알 수 있었다.
The optical and dielectric properties of TiO$_2$ thin films prepared with mixtures of Epoxy, bits-(4, 4'-p-toluenesulfonylacidic isoproplylidene)-cyclohexadiol and UVI 6990 in dry sol-gel process were investigated. The absorption peak of the films was showed at 360nm. Photocurrent of the thin films doped with 50 wt% of TiO$_2$was higher than that of nondoped thin films. Energy gap was lowered from 3.6 to 3.3 eV with increasing amount of TiO$_2$. Relative dielectric constants of samples were 1.5 to 3 and showed a characteristics of lower dielectric materials.
The pulsed laser deposition(PLD) technology was used for the deposition of phosphor substance, Gd$_2$O$_3$on commercial glass. An Nd:YAG laser was employed for the deposition (wavelength 266nm, energy up to 100mJ/pu1se, pulse duration is 5ns and repetition rate 10 Hz). With respect to films grown by conventional PLD, this study exhibited the condition at normal temperature. Experiments were done without any reactive gas at a pressure of 10$^{-5}$ ~10$^{-6}$ Torr using second harmonic(λ=532 nm) and fourth harmonic(λ=266 nm) Nd:YAG laser. Analyses of the deposited material grown are performed by EDX, AFM, SEM, PL meseurements.
Enhancing the electrical conductivity of the ultrathin organic films is one of the important factors for the development of molecular electronic devices. The Langmuir-Blodgett(LB) technique has recently been attracted interest as the a method of deposition ultrathin films. We have fabricated N-docosyl-N'-methyl viologen-diTCNQ(DMVT) anion radical LB film and investigated the optical and electrical conductivity. We have measured UV/visible and FT-lR spectrum. In ESR spectrum, we confirmed that a half-amplitude linewidth is clearly dependent on both temperature and incident angle, which indicates conducting species change. The in-plane electrical conductivity of 21 layers is approximately 1.37$\times$10$^{-6}$ (S/cm).
Cadmium sulphide films with thickness of 0.6∼1.2$\mu\textrm{m}$ were deposited onto corning 7059 glass substrate under a vacuum of 5${\times}$10$\^$-6/ Torr. Source and substrate temperature ranges used were 800∼1100$^{\circ}C$ and 100∼200$^{\circ}C$, respectively. The microstructures and semiconducting properties of the films were studied using X-ray diffraction, UV-VIS-IR spectrophotometer and Hall measurement unit. Electrical resistivity and optical transmission of the CdS films decrease with an increase in source temperature while they increase with an increase in substrate temperature. The resistivity of the film evaporated at 1100$^{\circ}C$ varied from 7${\times}$10$^3$ohm-cm at the substrate temperature of 100$^{\circ}C$ to 2${\times}$10$\_$6/ohm-cm at 190$^{\circ}C$. All the films had hexagonal structure and strong texture with c-axis of grains normal to the substrate glass.
ZnO thin films were grown with different plume-substrate angles by pulsed laser deposition (PLD) to control the amount of ablated species arriving on a substrate per laser shot. The angles between plume propagation direction and substrate plane (P-S angle) were 0$^{\circ}$, 45$^{\circ}$ and 90$^{\circ}$. The growth time was changed in order to adjust film thickness. From the XRD pattern exhibiting a dominant (002) and a minor (101) XRD peak of ZnO, all films were found to be well oriented along c-axis. From the AFM image, it was found that the grain size of ZnO thin film was increased, as P-S angle decreased. UV intensity investigated by PL (Photoluminescence) increased as P-S angle decreased.
Conductivity and transmittancy of ZnO is very excellent and the price is low. So the study of transparent electrode materials and electromagnetic wave shielding wall is actively in progress. We add $Al_2O_3$(0.0, 2.0, 3.0, 5.0wt%) to ZnO and observe microscopic structure and conductivity. For XRD observation, Al peak of AZO is increased by increasing the amount of $Al_2O_3$. We observe that the size of grain is reduced by increasing the liquid phase of grain boundary to SEM observation. Conductivity of AZO is increased by increasing the amount of $Al_2O_3$. We confirm the application possibility of the materials for electromagnetic wave reflection materials.
Ga-doped and Al-doped ZnO thin films were fabricated via a sol-gel technique and electrical and optical properties of the films were investigated. Film deposition was performed by spin coating at 4000 rpm for 30 s on $SiO_2$ glass substrate FE-SEM was used to obtain the surface morphology images and the film thickness Four-point probe and UV-VIS spectrophotometer were used to measure the sheet resistance and the optical transparency, respectively.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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