• Title/Summary/Keyword: 전기 회로 형성

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Synthesis of Pentadentate Schiff Base Molybdenum(Ⅴ) Complexes and Their Electrochemical Properties in Aprotic Solvents (다섯자리 Schiff Base Molybdenum(Ⅴ) 착물들의 합성과 비수용매에서의 전기화학적 성질)

  • Kim, Seon Suk;Choe, Ju Hyeong;Choe, Yong Guk;Jeong, Byeong Gu
    • Journal of the Korean Chemical Society
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    • v.38 no.2
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    • pp.160-168
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    • 1994
  • Pentadentate Schiff base molybdenum(Ⅴ) complexes such as [Mo(Ⅴ)O(Sal-DET)(NCS)] and [Mo(Ⅴ)O(Sal-DPT)(NCS)] were synthesized by Sabat method. The structure of these complexes were identified by elemental analysis, spectroscopy, and thermogravimetric analysis(T.G.A.). It was found that the mole ratio of Schiff base ligand to the complexes was found to be 1 : 1. The redox processes of the complexes were investigated by cyclic voltammetric and differential pulse polarographic technique in nonaqueous solvent containing 0. 1 M tetraethyl ammonium perchlorate(TEAP) as supporting electrolyte at glassy carbon electrode. It was found that diffusion controlled reduction processes of four steps with one electron were 2Mo(Ⅴ)$\rightleftarrow^{e-}$ Mo(Ⅴ)Mo(Ⅳ) $\longrightarrow^{e-}$ 2Mo(Ⅳ), Mo(Ⅳ) $\longrightarrow^{e-}$ Mo(Ⅲ) $\longrightarrow^{e-}$ Mo(Ⅱ)

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Shadow Removal based on the Deep Neural Network Using Self Attention Distillation (자기 주의 증류를 이용한 심층 신경망 기반의 그림자 제거)

  • Kim, Jinhee;Kim, Wonjun
    • Journal of Broadcast Engineering
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    • v.26 no.4
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    • pp.419-428
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    • 2021
  • Shadow removal plays a key role for the pre-processing of image processing techniques such as object tracking and detection. With the advances of image recognition based on deep convolution neural networks, researches for shadow removal have been actively conducted. In this paper, we propose a novel method for shadow removal, which utilizes self attention distillation to extract semantic features. The proposed method gradually refines results of shadow detection, which are extracted from each layer of the proposed network, via top-down distillation. Specifically, the training procedure can be efficiently performed by learning the contextual information for shadow removal without shadow masks. Experimental results on various datasets show the effectiveness of the proposed method for shadow removal under real world environments.

그래핀 표면 접착력을 이용한 전주도금 공정

  • No, Ho-Gyun;Park, Mi-Na;Lee, Seung-Min;Bae, Su-Gang;Kim, Tae-Uk;Ha, Jun-Seok;Lee, Sang-Hyeon
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2016.02a
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    • pp.131-131
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    • 2016
  • 기원전 5000년 이집트에서부터 시작된 도금은 시간이 지남에 따라 점점 발전하여, 1900년대에 들어 전기를 이용한 도금공정이 개발되었고, 현재 뿌리산업으로써 각종 제조업에 널리 이용되고 있다. 도금 공정은 금속을 부식으로부터 보호하고, 제품의 심미성과 기능성, 생산성 등을 높이기 위해 주로 이용된다. 전주도금 공정은 완벽하게 동일한 형태의 생산품을 다량으로 제작 할 수 있기 때문에, 그 높은 생산성으로 주목 받고 있다. 특히, 나노/마이크로 크기의 정밀 소자 등을 가공하는 차세대 기술인 LIGA공정과 접목이 가능하다는 장점이 있다. 몰드를 이용하여 복제하는 방식인 전주 도금은 도금공정이 끝난 후 몰드와 완성된 제품을 분리해내는 추가공정이 필연적으로 발생하게 되는데, 둘 사이의 접착력을 낮추기 위하여 몰드의 표면에 이형박리제를 도포하게 된다. 이형박리제로는 전기가 잘 흐르면서 접착력이 낮은 이산화 셀렌이나 중크롬산이 주로 이용되지만, 원활한 박리를 위해서는 그 두께가 30 um 이상 확보되어야 하기 때문에 정밀한 미세구조 전주도금이 어렵다는 문제점이 있다. 또한 이와 같은 화학 약품들은 매우 유독하기 때문에 추가적인 폐수 처리 공정이 필요하며, 작업자의 안전을 위협하고 심각한 환경 오염을 초래한다는 추가적인 문제가 발생한다. 따라서, 매우 얇고 친 환경적이며 안전한 전주도금 이형박리제에 대한 연구가 요구되고 있다. 본 연구에서는 전주도금 몰드로 사용한 구리의 표면에 TCVD를 이용하여 단일 층 그래핀을 성장시킨 후, 그래핀이 코팅된 몰드에 구리를 전주도금하여 박리하였다. 박리 후 그래핀은 몰드에 손상 없이 남아있는 것을 Raman microscopy를 통해서 확인하였고, 몰드와 그래핀 사이의 접착력 (약 $0.71J/m^2$)에 비해 그래핀과 전주도금 샘플간에 낮은 접착력 (약 $0.52J/m^2$)을 갖는 것을 확인하였다. 이와 같이 낮은 접착력을 통해 박리 시 표면구조의 손상 없이 정밀한 구조의 미세 패턴구조를 형성할 수 있었다. 전주도금을 이용한 전극 형성과 고분자와의 융합을 통해 유연기판을 제작하여 bending 실험을 진행하였다. $90^{\circ}$의 bending 각도로 10000회 이하에서는 저항의 변화가 없었고, LED chip을 mounting한 후 곡률반경 4.5 mm까지 bending을 진행하여도 이상 없이 LED가 발광하는 것을 확인하였다. 위와 같은 전주도금 공정을 이용하여 고집적 전자기기, 광학기기, 센서기기 등의 다양한 어플리케이션의 부품제조에 활용될 수 있을 것으로 기대한다.

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Performance enhancement of Organic Thin Film Transistor using $C_{60}$ hole injection layer ($C_{60}$(buckminsterfullurene) 홀주입층을 적용한 유기박막트랜지스터의 성능향상)

  • Yi, Moon-Suk
    • Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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    • v.45 no.5
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    • pp.19-25
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    • 2008
  • In this study, we fabricated Organic Thin Film Transistors(OTFTs) with $C_{60}$ hole injection layer between organic semiconductor(pentacene) and metal electrode, and we compared the electrical characteristics of OTFTs with/without $C_{60}$. When the $C_{60}$ hole injection layer was introduced, the mobility and the threshold voltage were improved from 0.298 $cm^2/V{\cdot}s$ and -13.3V to 0.452 $cm^2/V{\cdot}s$ and -10.8V, and the contact resistance was also reduced. When the $C_{60}$ is inserted, the hole injection was enhanced because the $C_{60}$ prevent the unwanted chemical reaction between pentacene and Au. Furthermore, we fabricated the OTFTs using Al as their electrodes. When the OTFTs were made by only aluminum electrode, the channel were not mostly made because of the high hole injection barrier between pentacene and aluminum, but when the $C_{60}$ layer with an optimal thickness was applied between aluminum and pentacene, the device performances were obviously enhanced because of the vacuum energy level shift of Al and the consequent decrease of the hole injection barrier which was induced by the interface dipole formation between $C_{60}$ and Al. The mobility and $I_{ON}/I_{OFF}$ current ratio of OTFT with $C_{60}/Al$ electrode were 0.165 $cm^2/V{\cdot}s$ and $1.4{\times}10^4$ which were comparable with the normal Au electrode OTFT.

Electrochemical Behavior of Oxovanadium (IV) Complex of Benzohydroxamic Acid (옥소바나듐 (IV) 과 벤조히드로옥사믹산 간에 형성되는 착물의 전기화학적 성질에 관한 연구)

  • Hi Sik Choo;Duk Soo Park;Yoon Bo Shim;Sung Nak Choi
    • Journal of the Korean Chemical Society
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    • v.33 no.3
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    • pp.281-286
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    • 1989
  • The redox properties of benzophydroxamic acid (Hben) and its oxovanadium complex, $VO(Ben)_2$ has been studied by the use of polarograpy and cyclic voltammetry. The radical anions of Hben seem to be generated in acetone. The wave at -0.05V vs. Ag/AgCl electrode might be attributed to the formation of radical anion and the wave at -1.78V vs. Ag/AgCl electrode might be attributed the formation of radical dianion. The $VO(Ben)_2$ exhibits one oxidation wave at + 0.55V and two reduction waves at -0.15V and -1.30V vs. Ag/AgCl electrode; the oxidation is reversible one electron process $(VO(ben)_2 {\rightleftharpoons} VO(ben)^+ + e)$. The reduction wave at -0.15V is quasireversible and is arised from the formation of radical anion,$VO(Ben)_2^-$. The second reduction wave at -1.30V is irreversible and this reduction process produces vanadium(III). This oxygen containing ligand of Hben seems to reduce the stability of + 4 oxidation state of vanadium while the sulfur or nitrogen donor of the ligands stabilize the + 4 oxidation state of vanadium when comparisons are made among several oxovanadium complexes.

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A Study of the Nonstoichiometry and Physical Properties of the Nd1-xBaxFeO3-y System ($Nd_{1-x}Ba_xFeO_{3-y}$계의 비화학량론과 물리적 성질에 관한 연구)

  • Chang, Soon Ho;Yu, Gwang Hyeon;Kim, Seong Jin;Choe, Seung Cheol;Jang, Sun Ho
    • Journal of the Korean Chemical Society
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    • v.38 no.8
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    • pp.547-551
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    • 1994
  • A series of samples in the $Nd_{1-x}Ba_xFeO_{3-y}$ system has been prepared by heating the reactants to$1200^{\circ}C$ under an ambient atmosphere, and the solid solutions were identified by X-ray power diffraction analysis. The crystal systems of samples with x = 0.00 and 0.25 were found to be orthorhombic whose local symmetry is similiar to the distorted octahedral with orthoferrite type one, whereas those with x = 0.50 and 0.75 to be the cubic system. Since Fe ions in the solid solutions are a mixed valence state between $Fe^{3+}\;and\;Fe^{4+}$ ions, the nonstoichiometric chemical formulas could be determined from the mole ratio of $Fe^{4+}$ ion and oxygen vacacies. According to the Mossbauer spectroscopic analysis, the presence of 5-coordinated $FeO_5$ was evidenced only in the barium compounds along with $FeO_6,\;and\;FeO_4$, but not in the strontium and calcium compounds. The samples with x = 0.25 and 0.50 show a spectrum of superparamagnetism, which might be due to the formation of a domain of the ferromagnetic interaction between the $Fe^{3+}\;and\;Fe^{4+}$ ions. The electrical conductivities of all samples are within semiconducting range. Since the $Fe^{4+}$ ion acts as an electron acceptor level during the electron transfer between the Fe through intermediate $O^{2-}$ ions, the activation energy of the compounds decreases with the increment of $Fe^{4+}$ content.

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Parthenogenetic Activation and Development of Freshly Matured Bovine IVM Oocytes (체외성숙 직후 소 난포란의 단위발생과 체외발육능)

  • 정희태;임석기;오세훈;박춘근;양부근;김정익
    • Korean Journal of Animal Reproduction
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    • v.21 no.1
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    • pp.71-78
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    • 1997
  • This study was conducted to investigate the activation condition of freshly matured bovine IVM oocytes for use as a cytoplasmic recipient in nuclear transfer. Bovine oocytes matured in vitro for 22-24 h were treated with various activation conditions. In Experiment 1 in vitro matured oocytes were treated with electric stimuIus (ES; 2 pulses of 1.25 kV/cm for 70 ${\mu}{\textrm{s}}$ec, each pulse 1 sec apart), ethanol (ET; 7%, 5min) , Ca$^2+$-ionophore(A23187; 10$\mu\textrm{g}$/ml, 5min) and cycloheximide(CH; 10$\mu\textrm{g}$/ml, 6 h). Activation rates were similar in treatments with ES, ET and A23187(48.8~54.3%), however, significantly reduced with CH treatment(15.9%, P

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Au-Sn합금 도금층의 접촉저항 및 솔더퍼짐성에 미치는 Sn함량의 영향

  • Park, Jae-Wang;Son, In-Jun
    • Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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    • 2017.05a
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    • pp.130-130
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    • 2017
  • Au 합금 도금층은 내마모성 및 내식성이 우수하고 접촉저항이 낮기 때문에, 커넥터, 인쇄회로기판 등과 같은 전자부품의 접속단자부에 널리 적용되고 있다. 각 부품들을 효과적으로 전기적 신호를 통해 연결하기 위해서는 낮은 접촉저항이 요구되며, 이러한 Au 합금 도금층의 접촉저항은 합금 원소의 종류 및 함량, 용융 솔더와 전자부품을 고정시키는 표면실장공정에서 받는 theremal aging의 온도와 시간에 따라 변화된다. 현재 전자부품용 커넥터에 실시되고 있는 금 합금도금은 Au-0.3wt%Co합금, Au-0.2wt%Ni합금도금이 대부분 적용되고 있으며, 높은 순도(금 함유량 99.7wt%이상)로 인하여 금 사용량을 절감하기 어려운 실정이다. Sn은 Au와 높은 고용률을 갖는 합금을 형성하는 장점을 갖고 있기에 금 사용량 절감에 큰 기여를 할 수 있을 것으로 예상된다. 따라서 본 연구에서는 Sn을 합금 원소로 사용하여 높은 Sn함량을 갖는 Au 합금 도금층을 제작하고, 무연솔더의 융점보다 더 높은 온도인 533K에서 thermal aging을 실시하여, Sn함량별로 thermal aging에 따른 접촉저항과 솔더퍼짐성의 변화를 기존의 Co, Ni합금과 비교 조사하였다. 또한, 표면분석을 통하여 Au-Sn합금 도금층의 접촉저항이 변화하는 요인에 대해서도 고찰하였다. 표면적 $0.2dm^2$의 순수 동 시편 위에 약 $2{\mu}m$두께의 Ni도금을 실시한 후 Sn 함량을 다르게 준비한 도금 용액(Au 6g/L, Sn 1~8g/L)을 사용하여 Au-Sn합금 도금을 실시하였다. Au-Sn합금 도금층은 전류밀도 0.5ASD, 온도 $40^{\circ}C$에서 약 $0.1{\mu}m$두께가 되도록 도금하였으며, 두께는 형광X선 도금두께측정기로 측정하였다. 금 합금 도금층 내의 Sn함량은 Ti시편 위에 도금한 Au-Sn합금층을 왕수에 용해시킨 다음, ICP를 사용하여 분석하였다. Au-Sn합금 도금층의 접촉저항은 준비된 시편을 533K에서 1분 30초, 3분, 6분 간 열처리한 후, 5회 접촉저항을 측정하여 그 평균값으로 하중에 따른 금 합금 도금층의 접촉저항을 비교하였다. 솔더링성은 솔더볼을 합금 표면에 솔더페이스트를 이용하여 붙인 뒤 533K에서 30초간 열처리하고, 열처리 후 솔더볼의 높이 변화를 측정해 열처리 전 솔더볼의 높이에 비해 퍼진정도를 측정하였다. 또한, 도금층 내의 Sn함량에 따라서 접촉저항이 변화하는 요인을 분석하기 위해서 X선 광전자 분광기를 이용하여 도금층 표면의 정량 분석 및 화학적 결합상태를 분석하였다. ICP분석결과 Au-Sn합금층 내의 Sn함량은 도금용액의 조성별로 9~12wt% Sn 합금층이 형성된 것을 알 수 있었고 기존의 Au-Ni, Au-Co 합금층과 비교해 합금함량이 크게 증가된 것을 알 수 있었다. 또한 접촉저항 측정 결과, 기존의 Au-Ni, Au-Co합금층의 접촉저항과 비교했을 때 Au-Sn합금층의 접촉저항이 더 낮은 것을 알 수 있었다. 또한, 솔더퍼짐성 측정 결과 기존의 Au-Ni, Au-Co합금층과 비교해 솔더퍼짐성이 우수한 것을 확인할 수 있었다. 따라서 전자부품용 접점재료에 합금함량이 높은 Au-Sn합금층을 적용시키면 더 우수한 커넥터의 성능을 얻을 수 있을 뿐 아니라 경제적으로 큰 절약 효과를 기대할 수 있을 것으로 판단된다.

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Photovoltaic Characteristic of Thin Films Based on MEH-PPV/DFPP Blends

  • Mun, Ji-Seon;Kim, Su-Hyeon;Lee, Jae-U;Lee, Seok;Kim, Seon-Ho;Kim, Dong-Yeong;Choe, Hye-Yeong;Yun, Seong-Cheol;Lee, Chang-Jin;Kim, Yu-Jin;Lee, Geung-Won;Byeon, Yeong-Tae
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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    • 2005.07a
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    • pp.28-29
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    • 2005
  • 본 논문에서는 MEH-PPV와 DFPP의 폴리머 물질을 이용하여 photovoltaic device가 제작되었고, 그림 1에 두 물질의 분자 구조가 보여진다. Photovoltaic cell의 전기-광학적 특성은 활성층의 폴리머 물질에 의해 결정된다. 이러한 특성을 알아보기 위해서 홉수 스펙트럼이 측정되었다. DFPP는 chloroform, chlorobenzen, THF, acetone에 잘 녹았으며, 본 논문에서는 chloroform이 용매로 사용되었다. 제작 공정은 다음과 같다. 인듐 주석 산화물 (ITO)이 증착된 유리기판은 photolithography 공정을 거친 후, 왕수(HNO$_{3}$ + HCL)로 식각됨으로서 전극의 패턴이 제작되었다. 그리고 ITO 전극 패턴 된 유리기판 위에 PEDOT (CH8000, Baytron)이 코팅된 후 Ar이 주입되는 Convection Oven을 이용하여 120$^{\circ}$C에서 2시간 동안 열처리되어 수분이 제거되었다. 활성층에는 MEH-PPV와 DFPP가 9:1과 2.33:1로 혼합된 폴리머가 사용되었고, 이것은 0.3 %w.t.가 되도록 chloroform에 넣어 5시간 동안 스핀바를 돌려서 용해되었다. 이 용액은 ITO 전극 패턴이 형성된 글라스 위에 3000 rpm으로 45 초간 스핀코팅 되었다. 이 때 얻어진 유기물 박막층은 80$^{\circ}$C의 Ar이 주입되는 convection oven에서 3시간 동안 경화되었다. 경화된 단층 유기물 박막층 위에 Li-Al이 1000 ${\AA}$의 두께로 증착되어 전극이 형성되었고, 이후 질소가 채워진 globe box에서 소자는 encapsulation되어 산소와 수분에 대한 영향으로부터 차단되었다. 상기의 공정으로 제작된 소자의 박막구조는 그림 2에서 보여진다. 그림 3은 MEH-PPV와 DFPP를 혼합했을 때의 흡수 스펙트럼이다. 최대 흡수 파장은 511 nm였다. 그리고 photovoltaic cell의 V-I 특성 결과가 그림 4와 같이 측정되었다. 측정에서는 300${\sim}$700 nm의 파장대를 갖는 태양광 모사계가 사용되었고, 셀의 면적은 10 mm$^{2}$였다. 그림 5의 I-V 특성으로부터 MEH-PPV와 DFPP가 9:1 로 혼합했을 때보다 2.33:1 로 혼합했을 때, photovoltaic device의 효율이 향상됨을 확인할 수 있다. 빛이 75 mW/cm$^{2}$ 의 세기로 조사될 때 9:1과 2.33:1로 혼합된 소자의 open circuit voltage (V$_{oc}$)는 비슷하지만, short circuit current Density (J$_{sc}$)는 각각 -1.39 ${\mu}$A/cm$^{2}$ 와 -3.72${\mu}$A/cm$^{2}$ 로 약 2.7배 정도 증가되었음을 볼 수 있다. 이러한 결과를 통해 electron acceptor인 DFPP의 비율이 높아질수록 photovoltaic cell의 conversion efficiency가 더 크게 됨을 확인할 수 있다. 그러므로 효율이 최대가 되는 두 폴리머의 혼합 비율이 최적화되는 조건을 찾는 것은 매우 중요한 연구가 될 것이다.

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Via-size Dependance of Solder Bump Formation (비아 크기가 솔더범프 형성에 미치는 영향)

  • 김성진;주철원;박성수;백규하;이상균;송민규
    • Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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    • v.8 no.1
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    • pp.33-38
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    • 2001
  • We investigate the via-size dependance of as-electroplated- and reflow-bump shapes for realizing both high-density and high-aspect ratio of solder bump. The solder bump is fabricated by subsequent processes as follows. After sputtering a TiW/Al electrode on a 5-inch Si-wafer, a thick photoresist for via formation it obtained by multiple-codling method and then vias with various diameters are defined by a conventional photolithography technique using a contact alinger with an I-line source. After via formation the under ball metallurgy (UBM) structure with Ti-adhesion and Cu-seed layers is sputtered on a sample. Cu-layer and Sn/pb-layer with a competition ratio of 6 to 4 are electroplated by a selective electroplating method. The reflow-bump diameters at bottom are unchanged, compared with as-electroplated diameters. As-electroplated- and reflow-bump shapes, however, depend significantly on the via size. The heights of as-electroplated and reflow bumps increase with the larger cia, while the aspect ratio of bump decreases. The nearest bumps may be touched by decreasing the bump pitch in order to obtain high-density bump. The touching between the nearest bumps occurs during the overplating procedure rather than the reflowing procedure because the mushroom diameter formed by overplating is larger than the reflow-bump diameter. The arrangement as zig-zag rows can be effective for realizing the flip-chip-interconnect bump with both high-density and high-aspect ratio.

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